074

/3 /

74

c. Obliczyć wartość statystyki F wg zależności

1

s^Z

F = —

gdzie:

s£, Sy - obliczone wariancje dla poszczególnych serii pomiarów;

d.    Ustalić dla poszczególnych serii pomiarów liczbę stopni swobody nj-1 i n^-l oraz odczytać wartość krytyczną z tablicy 13 dla poziomu istotności cC = 0,10, z tabl. 14 dla oC = 0,05, z tabl. 15 oe = 0,01;

e.    Porównać obliczoną wartość statystyki F (zależność 3) z wartością

krytyczną F_a ; jeżeli zachodzi nierówność F > ^, hipotezę zerową nale-

2 2

źy odrzucić na korzyść hipotezy alternatywnej (tzn. przyjąć, że 6. y By)

2 2 ¹ Ł

w przeciwnym przypadku (F < 1^ ) należy przyjąć, że 6j =    6^.

4. OPIS STANOWISKA POMIAROWEGO

1.    Uniwersalne stanowisko z płytą pomiarową do pomiaru wymiarów zewnętrznych, wyposażane w czujnik indukcyjny ze wskaźnikiem analogowym umieszczonym w uchwycie.

2.    Stanowisko z płytą pomiarową do pomiaru wymiarów zewnętrznych, wyposażone w dwa mikrometry uniwersalne umieszczone w uchwytach.

5. ZADANIA METROLOGICZNE

1.    Na stanowisku pomiarowym wyposażonym w czujnik indukcyjny dokonać pomiaru odchyłki okrągłości - owalu wałka w dwóch jego przekrojach poprzecznych wykonując serie pomiarów o Liczności n = 50 dla każdego przekroju wałka z osobna.

2.    Na stanowisku wyposażonym w dwa mikrometry, dokonać pomiaru średnicy tego samego wałka w tych samych warunkach wykonując serie pomiarów każdym mikrometrem o dowolnej liczności n, takiej, aby można było odczytać wartości krytyczne F z tabl. 13, 14, 15.