Skanowanie 11 04 06 28 (3)

Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji Politechniki Wrocławskiej ___Zakład Metrologii i Badań Jakości

ti&K..

Rok I kierunek

Wrocław, dnia {

Metrologia Techniczna

Ćwiczenie 11

Pomiary krzywek

1 • Sidok stanowiska pomiarowego

przyrząd do pomiaru krzywek

2* Se stawienie sprzęta pomiarowego

Nazwa sprzęta pomiarowego	Numer własny Pirata	Cechy metrologiczne
£awa pomiarowa .	<-*9/Jl'iUśtr/T~Z4J.	1 = m
Pe^Bielwi(*a nptyezgy Oji		działka elem. "
Przyrząd do pomiara krzywek		2akres wskazań mm działka eleist'. ' aut
Wałeczek kontrolny		5 ss R]T7J — w----------------------

3* Wyniki pomiarów krzywek

lETolejny pomiar

1

2

3

4

5

6

! 7 .

r 3

3

10

11

12

Kąt OL^9

0

sć

<o

H l O

/Teko

4°

Z Zc-

i’ a?

Odc-gyt——53^

■$i5i

śnetTi

5W-

# ;itS j

Z —

B4—-

—_

Wynik pomiara _____2%______

___^ -o fe

-~-J} £ JL:

' §> ^3ł _ p>A *J5~1

l ■■! —■ ?/"* r*4

«

<-T\

r£T

" a-T' s* \/n

Cs .i:

jg> «yr

-T * .25“ n"

l/\ ■A- i>> <

*5

fO'

fO

*>5

in

”\

tv\

K’;

^7

&

<v

O

Co

V-'

ro

CO