2 (1753)

Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji Politechniki Wrocławskiej __Zakład Metrologii i Badań Jakości

3. Pomiar odchyłek płaskoścd przez pomiar odchyłek prostoliniowości

A

6

c

^kD	— -A	N	— 0	a—-
z	a	A	O
	A'	^x0	A	-4
2	A	-A	i 5
c _ _	-A _		AL	lV

3.1.    Schemat pomiaru odchyłki płaskości

-    Wysokość stosów płytek wzorcowych

h =    • ■ • .«»«•«.« mm

-    Odległość punktów pomiarowych

a ............. ». mm

b « ....    ...... mm

3.2.    Wyniki pomiaru

-    Wartość odchyłki

płasko ści    mm

4. Pomiar odchyłek płaskości metodą interferencyjną 4,1. Schemat oceny obrazu interferencyjnego

T	■h z	□
qb		.\

a A    \

& P - £ • 2    Z¹™    \

dla powierzchni cylindryczne

A= .......... j\m. /lampa sodow