1
Instytut Technologii Maszyn | Automatyzacji Politechniki Wrocławskiej Zakład Metrologii I Badań Jakości _ ' - . ...
6. Foelar odchyłek eeleoeofcł 6*1. fjnrikl fowlardw
Koleją* urnkty pcsrlsni |
1 |
a |
.X |
4 |
.X |
6 |
.X |
3 |
. *\ |
.12. |
11 |
12 |
-12. |
Si | |
Zarys CC |
oC," O |
■4* |
-65 |
-ZA |
-yf/ |
-yf/f |
#: |
-52 |
-S* |
-55 |
42 |
-4$ |
sj | ||
otfkę] |
~A0 |
-U |
-V |
HJ |
-22 |
>5yJ |
-H<a |
J| |
-A°> |
♦•w | |||||
B |
141 |
-y/M |
~ux |
-5 |
*-A& |
MZ |
**S. |
;3 |
-V |
~AO |
g] |
ł# | |||
■H |
-W5 |
-u |
•njfc |
~AA |
+;ł |
O |
+U |
aMi |
+52 | ||||||
ZaryafcCelW0) |
ot;-w |
-H' |
■Hf |
*n |
-16 |
-Cr |
0 |
*}o |
P |
i | |||||
cafi- <26 |
-Vf |
-Irf |
-w, |
•*5 |
-yfc |
-z |
0 |
\-A |
Hb | ||||||
<^3- ZYC |
W |
*# |
-tffe |
-y |
■># |
•v(2 |
-Al |
>25 |
-Sł |
-tó |
-AA |
+5 |
* | ||
-A* |
-/O |
jlł |
-zz_ |
-'Wfi |
-a? |
-M |
-fg |
-SO |
fj.2» wykres eekazaii czujnika
Zarysu - f«»£ * 180°; |
A |
Z |
y | |
Warto śd odchyłki *ai<u>«oito1 |
-M |
+ 3 |
4