img092

est przesuwany i nachylany względem -z od trzech do sześciu soczewek elek-:r. .znego obiektyw-projektor i tworzy e fluorescencyjnym mikroskopu. Obraz zTir cznych lub cyfrowych kamer CCD. rurowany jest na kliszach w kasetach.

powierzchnię preparatu pozwala _ ;:ęki temu możliwe jest odwzorowa--E skiwanych w TEM obrazów zależy boćzi jedynie wiązka elektronów, które E£i mą jeszcze kilka wiązek ugiętych pafcć ^;:ązek elektronowych w TEM *®B2ikowo dużą głębią pola zarówno u : gadanie preparatów o bardzo Aaasfcopie elektronowym TEM elek-gaęćciość do 1-2 pm, ogólnie zależną 99& m-.elokrotnym rozproszeniom na :zęść elektronów wychodzi zproszone. Elektrony, które wśaga rciziaływaniach. Towarzyszy —Tgrww Erich charakterystycznych zrzez próbkę elektrony wtórne 'parnHektor. a wzmocniony sygnał s daronów poruszającej się po

próbka

Rys. 1.13. Schemat ilustrujący różnego rodzaju sygnały generowane przez padającą na próbkę wiązkę elektronową w mikroskopie elektronowym [1]

Promieniowanie X o dużej energii pochodzi niemal z całej objętości preparatu. Jest to promieniowanie o dużej przenikliwości, słabo oddziaływujące z atomami próbki. Długość fali promieniowania X jest rzędu 10^_13-10^-7 m, a np. stała sieciowa żelaza wynosi około 3-10'¹⁰ m. Elektrony wtórne i elektrony wstecznie rozproszone odzwierciedlają topografię powierzchni próbki. Elektrony wtórnie rozproszone mają zdolność rozróżniania liczby atomowej pierwiastków stanowiących kompozycję chemiczną warstwy wierzchniej próbki. Z tego powodu mogą być wykorzystane do przeprowadzenia jakościowej i ilościowej analizy chemicznej powierzchni próbki.

bkćk: aąp. ażniejsze są trzy rodzaje h^śtktr:^y.\ wstecznie rozproszonych ■r ■■    . energii (10-50 eV) pochodzą

pfehiftobki. 10 jest z głębokości po-f E lektrony wtórnie rozpro-z energią wiązki padającej. istecEy wtórne.

1.5.3. Metodyka badań

Podstawową metodyką stosowaną w badaniach zmęczeniowych i w analizach fraktograficznych jest metoda replik acetylocelulozowowęglowych. Jest to najpopularniejsza metoda badawcza, jednak bardzo czaso- i pracochłonna. Polega na nakładaniu, zwilżonej uprzednio w acetonie, cienkiej folii plastikowej (tzw. repliki) na powierzchnię próbki po określonych liczbach cykli zmian obciążenia. Po wyschnięciu replika zachowuje dokładne odwzorowanie powierzchni próbki z rozwijającymi się na niej zjawiskami zmęczeniowymi. Repliki następnie analizuje się w mikroskopie optycznym sprzężonym z komputerem. Omówiony w punkcie 1.4.1. program komputerowy LUCIA jest wykorzystywany do pomiaru na replikach długości pęknięć z użyciem myszy oraz rejestracji zdjęć mikroskopowych na dysku.

Metodę replik stosuje się również w badaniach mikro fraktograficznych do odwzorowania powierzchni pęknięcia elementów. Pobraną z powierzchni przełomu replikę napyla się najpierw węglem, a następnie platyną lub złotem dla zwiększenia kontrastowości obrazu mikroskopowego. Jest to replika dwustopniowa, która jest materiałem badawczym w dalszej analizie mikrofraktograficznej z użyciem mikroskopu TEM.

25