P1040081 (3)

polegają na subiektywnym porównaniu chropowatości powierzchni wzorców \ i próbki, wzrokiem lub przez dotyk (przesuwanie opuszki palca lub paznokcia \ po próbce i wzorcu).

Wzorcami chropowatości nazywamy przedmioty wybrane z partii wykonywanych wyrobów (wzorce przedmiotowe') lub wykonane specjalnie (wzorce V użytkower), które odtwarzają wysokość chropowatości oraz strukturą odpowia- ■ dającą danemu sposobowi obróbki.

Użytkowe wzorce chropowatości powinny mieć postać płytek prostokąt- ■ nych o powierzchni pomiarowej płaskiej, wklęsłej łub wypukłej (odpowiednio V do krzywizny badanej powierzchni) a długość wzorca nie może być mniejsza V od długości odpowiedniego odcinka elementarnego l_c. Ustała się minimalny 1 wymiar wzorca 15x15 mm.

Porównanie chropowatości przedmiotu z chropowatością wzorca może 1 odbywać się za pomocą komparatora optycznego, lupy warsztatowej, mikio- ■ skopu lub przez dotyk. Komparatory optyczne umożliwiają jednoczesną obset- M wację w polu widzenia okularu przyrządu powierzchni wzorca i przedmioto ■ sprawdzanego.

10.2.2. Optyczne pomiary chropowatości

Jednym z przyrządów do optycznego pomiaru parametru R_m chropowatoki i jest podwójny mikroskop Schmaltza. Jego działanie opiera sią na zasadza 1 przekroju badanej powierzchni promieniem świetlnym (rys. 10.6j. Źródło swa- I tła 1 wysyła przez kondensor 2 i szczeliną 3 wiązką świetlną 4, która po pna- I jściu przez obiektyw 5 pada pod kątem 45° na badaną powierzchnią 6, dokonując przekroju 7 nierówności badanej powierzchni, po czym odbija s\ą kątem 45°, trafia do obiektywu 8 i okularu 9 mikroskopu.

Rys. 10.6. Pomiar chropowatości metodą przekroju świetlnego

Pomiar wysokości chropowatości R_m sprowadza si% do odctt tezę pozornej wysokości chropowatości R^ł oraz przeliczenia jej

tą wysokość (rys. 10.7). Po zmierzeniu wysokości nierówności R', rzeczywistą wysokość chropowatości R_m obliczamy za pomocą wzoru

Rys. 10.7. Obraz w okularze podwójnego mikroskopu ^

Rn-(10.4)

gdzie a — współczynnik zależny od powiększenia optycznego mikroskopu. Mikroskop jest wyposażony w komplet czterech obiektywów ó następujących powiększeniach: 60 x,

30x, 14 x i 7 x.

Wartości współczynnika a w zależności od zastosowanego obiektywu podano wtabl. 10.1.

Tablica KU

Wartości współczynników przeliczeniowych a ¹

Powiększenie obiekty wu	60 x	30x	14x	7* 1
Współczynnik a	0,21	0,41	0,89 3	1,78 |

10.2.3. Dotykowe pomiary chropowatości

W przyrządach mierzących chropowatość metodę dotykową, po powierzchni mierzonej przesuwana jest diamentowa końcówka pomiarowa, której pionowe przemieszczenia odpowiadające nierównościom powierzchni są rejestrowane za pośrednictwem układu mechaniczno-optycznego lub elektrycznego* Przyrządy, dzięki którym otrzymuje się trwały zapis profilu powierzchni, noszą nazwę profilografów (np. przyrządy: ME-10, Hommel-Tester T-1000), natomiast przyrządy podające tylko wynik pomiaru w postaci wartości parametrów chropowatości zwane są profilometrami (np. przyrząd Hommel-Tester T-500). Podczas ćwiczenia wykorzystywane będą przyrządy ME-10 oraz Hommel-Tester T-1000.

10.3. PRZEBIEG ĆWICZENIA I OPRACOWANIE WYNIKÓW POMIARÓW

Podczas ćwiczenia należy:

^a) ocenić klasę chropowatości przy pomocy wzorców,

| dokonać pomiaru parametru R_m chropowatości powierzchni za pomocą mikroskopu Schmaltza,

^c) dokonać pomiaru parametrów chropowatości za pomocą przyrządów ME-10 oraz Hommel-Tester T-1000.

Wzór protokołu pomiarowego przedstawiono na rys. 10.8.

125