IMG300 (5)

Metrologia

mmcje kazmłm —prostolhtiow{fść —

I jPiir toUromcji - na rozważanej płaszczy źnie jest ograniczone ty lko w kie ranko przez dwie proste równolegle odbgh od siebie o

ty

t*«

- każda prosta zaobserwow a na (rzeczywista) na górnej powierzchni równoległa do płaszczyzny rzutowania, I której oznaczono ww. odchyłkę, powinna zawierać pani tędzy dwiema prostymi rów nolegtymL odległymi siebie o il mm.