m pluta mikroskopia optyczna008

raźnymi kątami i mieszczących się w pustym stożku, wyznaczonym przez otwór Q przysłony .0 i aperturę numeryczną kondensora. Obraz Q' otworu pierścieniowego przysłony kondensorowej tworzy się - po przejściu światła przez kondensor K i obiektyw Ob — na crścicniti fazowym Ph płytki fazowej PF. Średnica tego pierścienia równa się mniej więcej r owie średnicy źrenicy wyjściowej obiektywu, podczas gdy szerokość jest tak dobrana. .iSy pole pierścienia fazowego Ph równało się około 1/10 pola źrenicy wyjściowej obiektywu. !’ crśeicń fazowy Ph powinien całkowicie, a nawet z pewnym wyraźnym zapasem, pokrywać i' raz. Q' pierścieniowego otworu kondensorowego. W związku z tym pierścień Ph jest nieco (o około 25%) szerszy niż geometryczny obraz Q' otworu Q przysłony kondensorowej ,') Jeśli przysłona ta znajduje się dokładnie w ognisku przedmiotowym kondensora K, ł pierścień fazowy Ph w ognisku obrazowym obiektywu Ob, to między średnicą <1,j •ierścieniu przezroczystego Q przysłony D i średnicą d_rk pierścienia fazowego Ph istnieje następująca zależność: d_Q d_Pkf_k!f_ot>, gdzie f_k i są ogniskowymi odpowiednio kondensora • obiektywu.

Światło bezpośrednie, przechodzące przez pierścień fazowy Ph i tym samym odpowiedzą przezeń /modulowane w fazie i amplitudzie, oraz światło dyfrakcyjne S_Jr przechodzące wewnątrz i na zewnątrz pierścienia Ph, nakładają się w płaszczyźnie obrazowej //' obiekty* u Uh i w wyniku interferencji dają kontrastowy obraz B‘ przedmiotu fazowego B. który w zwykłym mikroskopie w jasnym polu jest niewidoczny. Obraz ten obserwuje się za po-nu*rą okularu Ok.

Obszar źrenicy wyjściowej obiektywu Ob zajęty przez geometryczny obraz Q' pierścieniowego otworu Q przysłony aperturowej D kondensora nosi nazwę obszaru sprzężonego. Natomiast strefy źrenicy wyjściowej obiektywu znajdujące się wewnątrz i na zewnątrz obrazu Q' noszą nazwę obszaru dopełniającego (komplementarnego). C"'s?ar sprzężony musi być. w warunkach prawidłowego użytkowania mikroskopu faz *go, całko wice pokryty przez pierścień fazowy Ph.

Ki W WD

•Rys. 8.7. Typowa płytka fazową    ^Ph

Nujważniejszym elementem mikroskopu fazowego jest oczywiście płytka fazowa. Obecnie typowe płytki fazowe są wykonywane przez naparowanie w próżni na szklanej plyUo (lub bezpośrednio na jednej z soczewek obiektywu mikroskopowego) cienkiej v amtwy substancji dielektrycznej (np. kriolitu lub fluorku magnezu) i metalicznej (np.

bromu luli aluminium). Warstwa dielektryczna WD (rys. 8.7) służy do przesuwania fj/v przechodź.,sego przez nią światła, natomiast warstwa metaliczna WM — do osłabiania

•    > tężcnin światła bezpośredniego. Kształt pierścieniowy tych warstw uzyskuje się przez .Ipowicilnie maskowanie płytki szklanej (lub soczewki) w procesie n Darowywania

*» próżni w .p'umianych substancji dielektrycznych i metalicznych. Pierścień fazowy Ph

•    i zazwyczaj zaklejony miedzy dwiema płytkam* szklanymi (lub dwicm • soczewkami

• tvwu). Grubość h i współczynnik załamania n_pk pierścienia fazowego (warstwy