J - sęatoóć pr«dui t - ładunek elektronu;
vn,wp " 4rodnt# Pf«d“oścł elektronów i dziur. Wprowadzając pojęclo ruchliwie! nośników zdcfmiononoj
■ZOfMl
k«p. «• S«r»*no /*„ • 3900 cw2/V» 1 u • 1900 ca2/Vs) otrzyeaey 9
gdzie E - natężenie przyłożonego polo elektrycznego. Porównując ostatni wzór z prawne Ohea
orrzysasy wyrażenie no przewodnictwo półprzewodników
giti* Ro “ i0al r dobrY» prryblłtenlee stola rezystancja zalet.
np od rodzaju półprzewodnika 1 jego nyftlar&r ;*eae -tryotnych (gdyż R . -L . i,B - długość i pola przekroju fcryaztełu półprzewodnika). tog»rVt*uJ8c (W.S) obustronnie otrzyaujeey
lfl R ■ lg R# ♦ 0,4343 | (18.9)
o "ł*c lfl * ■ f(|) Jaat prosta, a jej nachylenie ■»*>
Si 0,4343 -jj .
U w • 9 81 Funkcja lfl * • f(J) otrzyaing z eksperymentu me Jaat prostoliniowa n całya zakresie stosowanych teaperotur. Warunek (18.9) Jest spełniony tylko dli wystarczająco wysokich teoperstur, ponieważ a do -świadczeniu użyto półprzewodnika dowiesz*swsaepo (n / p). a wysokich teaperaturaeh intemyansść ter-elcznej generacji nośników łsdunku (patrz rys.iB.*) oalffla tak dużę wydajność (jednocześnie nośników doaieazkowanych z tewperatur# me przebywa), ze półprzewodnik etsje slf sseoiscnyn.
T a b e 1 a 18.1
'Właściwości no cer ie łów półprzewodnikowych
Ponieważ dla pólprzswodników ooaolttnyeh oluozno Jest zolożność .10.2), o nlfC ookooy dlo nich napisać
(18.6)
(18.7) 3dzie 6 asżnt traktować Jako stała niezależna od tooporotury.
V ćwiczeniu nyznaczaay przer-f energetyczna goroanu Z po -aiarÓK zależnodei rezystancji półprzewodnika saaoiatnago od ten. paratury. 3ek wynika za wzoru (18.7) zależność tę nożna zapisać
■ postaci
(18.8)