strona (2)

25

3.4. Analiza wpływu tolerancji rezystorów i rozrzutów współczynników fi tranzystorów na punkty pracy (SENSITIYITY)

Schemat układu pomiarowego jest przedstawiony na rvs. It

>

1 '

' 2‘

5.1k'

i!

{ ■ -Egc • 10.2V

22Ń2ŚO/A

02N2907A

•O-i

Ti

*

56k

V.P f

•I0k ■

G2-

R5'

03 j

RL

• i ■

RT

56k'

^o: :^R2: £

. 9.1W

v' 02N2222

Eee

> *7

< ik

EPOLY

Rys. 16 Schemat układu pomiarowego do analizy SENSITIYITY w proeramie PSPICE

Przy badaniu wpływu tolerancji rezystorów na napięcie Uce3 tranzystora T3 w opcjach analizy zaznaczam:

Sensitivity:

Output variable(s): V(C,E)

W wyniku analizy w pliku wyjściowym możemy odczytać następujące elementy:

DC SENSITIYITIES OF OUTPUT V(C,E)

ELEMENT	ELEMENT	ELEMENT	NORMALIZED
NAME	VALUE	SENSITIVITY	SENSITIVITY
		(VOLTS/UNIT)	(VOLTS/PERCENT)
R R1	5.600E+04	1.785E-06	9.998E-04
R R2	9.100E+03	-2.725E-05	-2.480E-03
R R3	1.600E+04	1.545E-05	2.471E-03
R R5	5.600E+04	-1.580E-06	-8.848E-04
R R6	5.100E+03	3.547E-04	1.809E-02
R R7	1.000E+03	-1.821E-03	-1.821E-02
R RL	1.000E+04	-9.250E-08	-9.250E-06
V_Ecc	1.020E+01	7.961E-01	8.120E-02
BF	2.533E+02	1.756E-06	4.449E-06
BF	2.294E+02	3.506E-04	8.041E-04

Q_Q3

Q Q2