zdjęcie000 (9)
'****'*»*
** ***&*$&* • *ó#r9** pn»o»W>» mi do
****»f*«t^»» fnnort «** *»M# b*< IfełMy Ml
Mt>*
*
-'■>10*
lub lako
HM( a tT Ml
c$a**Q; isutępin* m *»** vjft**th cteticYtu woónefo, obrywa \on
#»#»*■****«# Qod*n» »** do odnowi»<M>fł *»upy (3 pkt*
«MlNi «d* %*v*0o <X*0*ł«- i***) >50,
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
Zdjęcie0265 _j^T3r fcsiri srłci materiałami wp #"ows cfmający mi do an al izo
Zdjecia 0045 PN*
64 (72) L-> - o do ■f Z. (/ c/Z-/o Cr-zS2~c/£_ . t~Ji? A ę~ J ^A ) -=T &
11291 IMG$32 [1600x1200] Ul f>-iLa- ; 53 -J i.....tn l»l_ł _____]
Zdjęcie0248 (9) m icznc /abur/cma (kor takt wzrokowy, •t yl uI^C
IMG$32 [1600x1200] Ul f>-iLa- ; 53 -J i.....tn l»l_ł _____]
38454 Zdjecia 0045 PN*
26(1) 2 s A A wMk ■f#T° tr:r*DO 5^**S0 f M^SKTA ^ 9 ff V O # * $ # i i i i i $ i II &nbs
Image2861 f(x)=f(0) + gdzie Rą(x) ■■f~T~X + f~T~x2 + f-^r~x3 + r4(x) =1-y-+ W), _f(Ą)(c) :<Ą _CO$
Zdjęcie002 (2) Technikę RUS stosuje
Zdjęcie004 (2) Spektrometria jonów wtórnych nalc!y do najbardziej czułych metod analizy powierzchni,
więcej podobnych podstron