53339 kscan
51

Tablica 8.1. Zakłócenia spektralne (nakładanie się linii)

Pierwiastek analizowany	Długość fali A [nm]	Pierwiastek zakłócający	Długość fali A [nm]
Al	308,512	V	308,211
Cd	228,802	As	228,812
Ca	422,673	Ge	422,657
Co	252,136	In	252,137
Cu	324,754	Eu	324,753
Fe	271,903	Pt	271,904
Hg	253,652	Co	253,649

Czynniki E i F nazywamy absorpcją niespecyficzną i konieczna jest ich kompensacja aparaturowa.

8.2.3.1.    Efekty matrycowe

Matryca, tzn. to wszystko, co wprowadzamy do układu poza pierwiastkiem oznaczanym, ma istotny wpływ na dokładność oznaczeń metodami AAS. Rozpatruje się wpływ matrycy na podstawowe procesy zachodzące w atomizerach:

•    na parowanie,

•    na dysocjację,

•    na wzbudzenie i jonizację atomów.

Procesy te mają inny przebieg w przypadku F-AAS i inny w przypadku ET-A AS. Aby przeciwdziałać niekorzystnym wpływom matrycy, dodaje się do próbki różnego rodzaju bufory: dejonizujące, które zmniejszają lub stabilizują jonizację, korygujące, zwiększające dysocjację związków do wolnych atomów. Sposoby eliminacji zakłóceń chemicznych są prezentowane w literaturze specjalistycznej dotyczącej AAS.

8.2.3.2.    Analityczne zastosowania AAS

a)    Metodą AAS można oznaczać pierwiastki głównie metaliczne; opisano procedury oznaczeń ok. 70 pierwiastków.

b)    AAS jest metodą oznaczania pojedynczych pierwiastków, tzn. w jednym cyklu pomiarowym oznaczamy z reguły jeden pierwiastek.

—e) AAS jest metodą analityczną stosowaną do oznaczania składników Śladowych} metodą tą oznaczamy zatem śladowe domieszki, a bardzo rzadko składniki główne.

d)    Metodą AAS można oznaczać właściwie tylko roztwory) a w wyjątkowych sytuacjach próbki stałe i to tylko ET-AAS.

e)    AAS jest metodą bardzo podatną na wszelkiego rodzaju zakłócenia — z tego wynika konieczność obsługi spektrometrów AA przez personel o wysokich kwalifikacjach.

158