33293 strona110

110 5. OZNACZANIE STRUKTURY GEOMETRYCZNEJ POWIERZCHNI

RYS. 5.3 Określenie wysokości falistości wg PN-89/M-04256/04: a) parametry W_m, b) parametr W_a

• średnia wysokość falistości W_c (We)¹’ - suma wartości średnich wysokości wzniesień i głębokości wgłębień profilu falistości (rys. 5.3a)

• średnie arytmetyczne odchylenie profilu falistości W_a (Wa)¹* - średnia arytmetyczna wartość bezwzględnych odchyleń profilu chropowatości h_w(x) od linii średniej (rys. 5.3b)

w_a = -±- f| K(x) |(b * - YI Ki |    (5.2)

k 0    ⁿtt

Dotychczas nie została opracowana polska norma dotycząca wartości liczbowych tych parametrów.

Parametry opisujące chropowatości powierzchni są określone w normie PN-EN ISO 4287:1999^{1 2}, która zastępuje normę krajową PN-87/M-04256/02 i uzupełnia PN-87/M-04256/04. Najczęściej wykorzystywane parametry chropowatości to:

• średnie arytmetyczne odchylenie profilu od linii średniej Ra^li - średnia arytmetyczna bezwzględnych wartości odchyleń profilu zaobserwowanego od linii średniej m na długości odcinka elementarnego l_r (rys. 5.4a);

1

¹¹ Parametry falistości i chropowatości określone przez aktualną normę PN-EN ISO 4287:1999 (tabl. 5.1).

2

Norma PN-EN ISO 4287:1999 charakteryzuje odcinek elementarny o długości l_r, L równy 1/5 długości odcinka pomiarowego (/„), wprowadza zmiany w oznaczeniach parametrów chropowatości i falistości (tabl. 5.1), charakteryzuje nowy parametr Rt oraz zmienia interpretację parametru Rz.