60913 spektroskopia009

60913 spektroskopia009



18

6 — 20 eV przedstawiono na rys. 5. Pomiary w zakresie podczerwieni wymagają usuwania z układu pary wodnej, szczególnie absorbującej światło w tym zakresie. Realizuje się to za pomocą przedmuchu układu suchym powietrzem lub azotem, albo przez jego odpompowanie.

Podstawowe materiały dyspersyjne to: kwarc Si02    0,19—4 pm,

szkło    0,3 — 2,5 pm,

LiF    0,12—6 pm,

CaF2    0,12 — 9 pm,

NaCl    0,2 — 17 pm, higroskopijne

KBr    0,21 — 28 pm,    higroskopijne

CsJ    0,24—50 pm,    higroskopijne.

Jeżeli badane materiały wykazują anizotropię, to pomiary prowadzi się w świetle spolaryzowanym. Polaryzację światła zapewnia się stosując: polaryzatory odbiciowe wykorzystujące odbicie dla kąta Brewstera, polaryzatory z kryształów anizotropowych, np. CaC03 (szpat islandzki), polaroidy oraz płytki ćwierćfalowe.

Bardzo wiele badań optycznych wymaga niskich temperatur, dlatego do ich przeprowadzenia stosuje się kriostaty z okienkami zapewniającymi dobrą przepuszczalność światła w określonym zakresie.

Zamiast mierzyć współczynnik odbicia dla normalnego padania i stosować analizę Kramersa—Kroniga, można dokonać pomiaru w świetle spolaryzowanym przy dowolnym kącie padania. W tym przypadku mierzymy współczynniki odbicia dla fali spolaryzowanej prostopadle do płaszczyzny padania Rs i spolaryzowanej równolegle do tej płaszczyzny Rp. Wzory Fresnela mają wtedy postać:

lril2


cos#—(N2 rin2#)1/2 cos# + (N2 — sin2#)1/2


2


(2.26)


(2.27)


N2cos# — (N2sin2#)1/2 2 N2cos# + (N2 — sin2#)1/2

gdzie: # jest kątem padania, N — zespolonym współczynnikiem załamania. Wykorzystując wyniki pomiarów współczynników Rs i Rdla danego kąta, możemy wyznaczyć wartość N = n + ix.

Standardowe źródła światła zawodzą w obszarze większym od 20 eV, dlatego też do pomiarów stosuje się synchrotrony. Źródłem fali elektromagnetycznej w synchrotronie są zakrzywiające swój tor ruchu elektrony przyspieszone do bardzo dużych prędkości. Tą metodą są uzyskiwane fale w zakresie 10-3 —10"1 pm.

W obszarze bardzo niskich energii napotykamy również duże trudności zarówno ze względu na zbyt małą moc źródeł światła, jak i na niewystarczającą zdolność rozdzielczą układów konwencjonalnych. Pomiary w zakresie fal dłuższych niż 10 pm coraz częściej wykonuje się za pomocą spektrofotometrów interferencyjnych zwanych fourierowskimi. Metoda ta zostanie szczegółowo omówiona w dalszej części.

Jednostki związane z częstotliwością fali elektromagnetycznej stosowane w badaniach optycznych, to długość fali wyrażona w mikrometrach (pm), liczna falowa — odwrotność długości fali — wyrażona w cm-1, oraz energia fotonu hco — wyrażona w elektronowoltach. Używa się też podstawowej jednostki częstotliwości v, którą jest hertz (Hz), czyli liczba okresów na sekundę. Częstość kołowa a) = 2nv. W spektroskopii dalekiej podczerwieni oraz spektroskopii światła rozproszonego stosujemy liczbę falową: 1 cm"1 odpowiada fali o długości 1 cm lub częstotliwości 3xl010 Hz (tzn. 30 GHz).

Energię fotonów wyrażamy czasem w jednostkach kBT, gdzie kB jest stalą Boltzmanna, T — temperaturą. Przeliczniki między różnymi jednostkami są następujące:

1 eV <—> 8065,5 cm-14-» 2,418 x 1014 Hz *-> 1,2398 pm *->11600 K;

1 cm-1 <—»0,12398 meV, 1 meV<-» 8,071 cm-1.

Przykłady:

0,01    pm    -    123,98    eV    -    106    cm"1    -    3xl016    Hz,

0,1    pm    -    12,398    eV    -    105    cm"1    -    3xl015    Hz,

1,0    pm    -    1,2398    eV    -    104    cm-1    -    3xl014    Hz,

10    pm    —    0,1240    eV    —    103    cm-1    —    3 x 1013    Hz,

100    pm    -    0,0124    eV    -    102    cm-1    -    3xl012    Hz,

1    pm    -    0,0012    eV    -    10    cm-1    -    3x10“    Hz.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
img045 (15) 120 R.7.11 7 R.7.20. Rozwiązania Zad.7.11 r Zad.7.20 przedstawiono na rys.R.7.2. 120 R.7
5WW12 Sposób wykonania płytki drukowanej układu VOX przedstawiono na rys. 18. Układ BK (rys.T9) umoż
Strona7 37Zadanie 3. Narysować konstrukcją przedstawioną na rys. 20. przy pomocy funkcji Cone. Rys.
zadanie(7) 1.34. W obwodzie przedstawionym na rys. 1.34 parametry wynoszą: R = 10 Li — L2 = 20 mH, C
70133 Skrypt PKM 1 00097 194 Zadanie 5.8 Przedstawiony na rys. 5.18 układ napięto wstępnie silą A0 =
M Feld TBM018 18 1. Wiadomości ogólne Strukturalny schemat procesu technologicznego przedstawiono na
StronyD 45 mam T 1.178. Do obwodu przedstawionego na rys. 1.28 przyłożono napięcie U =20 V. Obliczyć
instalacje067 1. WSTĘP 18 przedstawiono dwubiegunową wersję silnika hybrydowego. W sytuacji przedsta
81615 img045 (15) 120 R.7.11 7 R.7.20. Rozwiązania Zad.7.11 r Zad.7.20 przedstawiono na rys.R.7.2. 1
Rydzanicz (12) Rys. 3.4 *> Rzut pomocniczy *> Rozwiązanie przedstawiono na rys. 15.1 iRys. 3
img045 (15) 120 R.7.11 7 R.7.20. Rozwiązania Zad.7.11 r Zad.7.20 przedstawiono na rys.R.7.2. 120 R.7
36142 Skrypt PKM 1 00009 18 W celu obliczenia poszukiwanych luzów można łatwo zbudować łańcuchy wymi

więcej podobnych podstron