69928 skanuj0003 (467)

wykaz ważniejszych oznaczeń

Ap	- wydłużenie względne	m
b	- szerokość próbki	[mm]
C	- współczynnik proporcjonalności warstwy optycznie czynnej w meto dzie światła odbitego
d	- średnica próbki	[mm]
E	- moduł Younga	[MPa]
f	ss wartość rzędu izochromy
g	- grubość próbki, elementu	[mm]
HB	- twardość Brinella	[kG/mm^2]
HRB	- twardość Rockwella, skala B
HRC	— twardość Rockwella, skala C
HV	- twardość Vickersa	[kG/mm^2]
Ko	— elastooptyczna stała materiałowa	[N/mm] lub [daN/cm]
KoM	- elastooptyczna stała modelowa	[MPa] lub [daN/cm^2]
1	- długość	[mm]
Lu	- długość po zerwaniu próbki	[mm]
m	- rząd izochromy
P, F	siła	[N], [daN]
R	- oporność elektryczna tensometru	jśf
Rc	- wytrzymałość na ściskanie	[MPa]
Rce	- granica plastyczności przy ściskaniu	[MPa]
ReL	- dolna granica plastyczności	[MPa]
ReH	- górna granica plastyczności	[MPa]
Rm	- wytrzymałość na rozciąganie	[MPa]
Ru	— naprężenie rozrywające próbkę	[MPa]
Ro,05	- umowna granica sprężystości	[MPa]
Ro,2	- umowna granica plastyczności	[MPa]
s	- powierzchnia przekroju poprzecznego próbki	[mm^2]
tp	- grubość powłoki optycznie czynnej	[mm]
z	- przewężenie względne	[%]