DSC00400

kv rfwnaniu przetwarzania przyrządu pomiaroA-ego zależność weikołci wyjćaowci Y od UiGilcoSci mierzoną X jest dommu)ącą, bcswcm przyrząd zoslM skonstruowany do posilenia danej wielkości fizycznej X tzn Y = f(X_r. X_H X,. . . X. e) - f(X c) TałcZno*/: W f(X) przy X_r = const, X, - const , o = const nosi nazwę charakterystyki statyt^nej przyrządu pomiarowego Charakterystyka statyczna przyrządu pomiarowego nazywamy, Lwęo zależność wiełkośa wyjćoowc] / (otrzymanej na wyjściu przyrządu w v\7n«ku procesu przetwarzania) od mierzonej wiełkośd wejściowej X przy stałym wielkości wpły.r.ijacych X i energii j>om<y-.n:czej ₍» Charaktery-!,tyka ta    _;.-^S

r ;    • -.w, !; • •    -

Ć,M§§B

Wzorccwranie jest to nadanie wielkości wyjściowej y przyrządu miary > x i irtiwalenie tej zateZnoćd Wzorcowanie przeprowadzą się w war zw warunkach odniesienia przy staf/m poziomie wielkości wpływajs doprowadzonej z zewnątrz energu e