DSC00397

W rćf.vnnnai przetwarzania przyrządu pomiarowego zależność wielkości wyjściowej Y od MeBcoSci mierzonej X jest cJommupca. bowiem przyrząd został skonstruowany do

X c) « f(X e) Zależność

’=r(x_f.x\x_;

const nosi nazwę charakterystyki statycznej fcrzyrzadu pomartego Charaktcrystykg statyczna przyrządu pomiarowego nazywamy. I u\ec zależność wiełkośd wyjściowej Y (otrzymanej na wyjściu przyrządu w wyniicu I xocesu przetwarzania) od mierzonej wielkości wejściowej X przy stałym panamie I wiełko&ci wpływających X_t i energii pomocniczej c Charakterystyka ta na ogół jest I wyznaczana doświadczalnie na specjalnie skonstruowanych stoiskach badawczych ^

Eroces doświadczalnego wyznaczania tej charakterystyki nazywamy w'/orccr.van:<*n^ jfl

'.'.orc.owarue j.r.t to nadanie wielko:'/:! wyjścic/wt j y j*z,T/adu miary wielkości rnu^flS i utrwalenie ?. j zależności Wzorcowanie pr/e;xcrwad/a sic w v.Mrunk.e:li us?akMI|j .v warunkach o J:i:e.ion!,i j*/y stałym ^.nornic wielkości w;dy.va;acych (XI tfHHB loprcr^yisonci z zewnątrz energii e.    /fl

const

wyjście

ewakuacje