23687

- Pomiar u> - ustalany jest kąt odpowiadający kątowi wybranego wierzchołka braggowskiego, zmieniamy kąt między powierzchnią próbki a promieniem padającym. Na podstawie tego pomiaru będziemy mogli wyznaczyć stopień steksturowania.

Drugim sposobem pomiaru było badanie szorstkości mikroskopem sił atomowych. Skorzystamy z mikroskopu Veeco MultiMode V. Poprzez oddziaływanie mikroskopijnej igły na próbkę uzyskamy topograficzną mapę badanej próbki.

Przebieg Laboratorium

Materiał badany przez nas (opisany jako C2) miał następującą budowę warstwową:

(podane liczby to grubość danej warstwy w nm)

Si / Si0₂ / Ta 5 / Cu 25 / Ta 5 / Cu 25 / Ta 5 / Mnlr 10 / CoFeB 3 / MgO 1.5 / CoFeB 15 / Ta 5 POMIAR 0-20

Zgodnie z wcześniejszym opisem wykonaliśmy pomiar powyższej próbki. Napięcie i prąd zasilający wynosiły odpowiednio:

U = 45 kV I = 40 mA

Badanie wykonaliśmy dla zakresu 40° - 50° z krokiem 0,06 i czasem użytym na jedną próbkę ls. Wykres w skali liniowej: