Badanie ferrorezonansu prądów i napięć, Elektrotechnika- Ferrorezonans prądów i napi¬ć, II rok INFORMATYKA_

Pobierz dokument
465.doc
Rozmiar 173 KB

Temat :

Ferrorezonans prdw i napi

Ukady pomiarowe do badania ferrorezonansu

0x01 graphic

a) napi

0x01 graphic

b) prdw

Tabela pomiarw

Ferrorezonans napi

Ferrorezonans prdw

Lp.

|I|

[mA]

|U|

[V]

|UL|

[V]

|UC|

[V]

|U|

[V]

|I|

[mA]

|IL|

[mA]

|IC|

[mA]

    1. 3

  • 2,5

  • 4,8

  • 1,4

  • 2,5

  • 2

  • 13,0

  • 10

      1. 6

  • 5,0

  • 6,6

  • 1,7

  • 5,0

  • 8

  • 19,2

  • 25

      1. 7

  • 7,5

  • 9,7

  • 2,2

  • 7,5

  • 24

  • 24,6

  • 50

      1. 10

  • 10.0

  • 12,3

  • 2,6

  • 10,0

  • 36

  • 29,8

  • 70

      1. 12

  • 12,5

  • 15,1

  • 3,0

  • 12,5

  • 51

  • 35,3

  • 80

      1. 15

  • 15,0

  • 18,0

  • 3,4

  • 15,0

  • 65

  • 41,3

  • 100

      1. 18

  • 17,5

  • 20,8

  • 3,8

  • 17,5

  • 70

  • 49,1

  • 110

      1. 22

  • 20,0

  • 24,0

  • 4,4

  • 20,0

  • 90

  • 56,9

  • 130

      1. 26

  • 22,5

  • 26,8

  • 5,0

  • 22,5

  • 110

  • 65,9

  • 150

      1. 31

  • 25,0

  • 30,0

  • 5,7

  • 25,0

  • 120

  • 76,3

  • 165

      1. 37

  • 27,5

  • 33,6

  • 6,7

  • 27,5

  • 130

  • 88,9

  • 180

      1. 46

  • 30,0

  • 37,2

  • 7,8

  • 30,0

  • 132

  • 106,4

  • 200

      1. 56

  • 32,5

  • 41,0

  • 9,2

  • 32,5

  • 129

  • 124,3

  • 210

      1. 80

  • 35,0

  • 46,6

  • 11,9

  • 35,0

  • 120

  • 149,8

  • 230

      1. 550

  • 37,5

  • 93,6

  • 128,9

  • 37,5

  • 110

  • 178,2

  • 250

      1. 600

  • 40,0

  • 94,6

  • 132,8

  • 40,0

  • 120

  • 218,0

  • 270

      1. 620

  • 42,5

  • 95,1

  • 135,5

  • 42,5

  • 150

  • 261,0

  • 280

      1. 575

  • 36,0

  • 93,6

  • 127,5

  • 45,0

  • 220

  • 320,0

  • 300

      1. 530

  • 32,0

  • 92,7

  • 122,5

  • 47,5

  • 310

  • 385,0

  • 315

      1. 520

  • 28,0

  • 91,8

  • 117,3

  • 50,0

  • 450

  • 466,0

  • 330

      1. 480

  • 24,0

  • 90,8

  • 111,8

      1. 450

  • 20,0

  • 89,7

  • 106,5

      1. 430

  • 16,0

  • 88,4

  • 100,5

      1. 380

  • 12,0

  • 87,0

  • 93,5

      1. 300

  • 10,0

  • 85,7

  • 87,8

      1. 9

  • 9,5

  • 11,8

  • 2,5

      1. 7

  • 8,0

  • 10,1

  • 2,2

      1. 5

  • 6,0

  • 7,8

  • 1,9

  • 3

    2,5

    5,1

    1,5


    0x01 graphic


    0x01 graphic

    WNIOSKI

    Jak wiadomo zjawisko ferrorezonansu w obwodzie zawierajcym szeregowo poczony kondensator i cewk nawinit na rdzeniu (dawik), powinno spowodowa spadek napicia w obwodzie do zera, o ile wogle zajdzie. Jednak, z otrzymanej charakterystyki wynika, e tak nie jest, tzn. pozostaje pewne napicie szcztkowe, pomimo zajcia zjawiska - dowodem jest przecicie si charakterystyk UL(I) i UC(I). Przyczyn istnienia tego napicia jest rezystancja uzwojenia cewki i straty na jej rdzeniu, ktre naley uwzgldni w obwodzie rzeczywistym. Na utrudnienie i niedokadno opisu zjawiska miao wpyw korzystanie z wymuszenia napiciowego. Pomiary musiay zosta wykonane raz przy zwikszaniu napicia wymuszajcego, do momentu gwatownego wzrostu prdu w obwodzie, a drugi raz przy zmniejszaniu napicia wymuszajcego, do momentu gwatownego spadku prdu w obwodzie (rezonans). Sposb ten nie daje jednak informacji o pewnej czci powstaej charakterystyki tzn. tej pomidzy gwatownymi zmianami prdu w obwodzie. Ponadto, naga zmiana prdu w obwodzie przy zmniejszaniu napicia wymuszajcego, powinna nastpi dla napicia, przy ktrym nastpuje przecicie si charakterystyk UL(I) i UC(I). Z uzyskanych wynikw wida, e punkty te s nieco przesunite wzgldem siebie. Wpyw na to mogy mie bdy wynikajce z niedokadnoci odczytu wartoci wskazywanych przez mierniki, poniewa dla maych napi zmiany badanych prdw byy nieznaczne. W celu wierniejszego odwzorowania wynikw pomiaru, powsta krzyw wypadkow U(I), w fazie zmniejszania napicia wymuszajcego, aproksymowano do krzywej o rwnaniu : log y = A"x + B, gdzie A = 0,00513776
    a B = 1,93611. Zaleno UC(I) aproksymowano do rwnania prostej y = A"x + B, o wspczynnikach A = 0,175128 B = 0,678517. Natomiast krzyw UL(I) aproksymowano do krzywej o rwnaniu : y = A"log x + B, gdzie A = 13,8493

    B = -17,091.

    Wymuszenie napiciowe, podczas badania ferrorezonansu prdw, dao informacj o caej wypadkowej zalenoci U(I). Zajcie tego zjawiska teoretycznie miao si objawi spadkiem prdu w obwodzie do zera. Jednak osignite przez ten prd minimum, w momencie zajcia zjawiska, jest wiksze od zera. Tutaj take wpyw na to miaa rezystancja cewki i straty na jej rdzeniu. Czynniki te spowodoway zapewne nieznaczne odchylenie wartoci napicia, dla ktrej zachodzi przecicie si charakterystyk U(IL) i U(IC), od wartoci, przy ktrej zaobserwowano zjawisko ferrorezonansu prdw.
    Zaleno U(IC) na wykresie aproksymowano do prostej o rwnaniu y = A"x + B,
    gdzie A = 0,149147 B = 0,461702.

    Wykaz uytych urzdze pomiarowych

    Woltomierze :

    - elektromagnetyczny - klasy 0,5 zakres 3060 [V]

    - miernik cyfrowy Mefex - zakres 200 [V]

    Amperomierze :

    - klasy 2,5 zakres 600 [mA]

    - miernik cyfrowy Metex - zakres 200 [mA] i 2 [A]


    Pobierz dokument
    465.doc
    Rozmiar 173 KB

    Wyszukiwarka

    Podobne podstrony:
    Badanie ferrorezonansu prądów i napięć, Elektrotechnika- Ferrorezonans, II rok INFORMATYKA_
    FERROREZ 4, II rok INFORMATYKA
    elektra P4, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
    elektra M4, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
    Elektra M-2spr, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektr
    elektra M5, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
    Diody, Politechnika Rzeszowska - Elektronika i telekomunikacja 2012-2017, II rok
    elektra M6a, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektroni
    Badanie galwanometru statycznego, AGH IMIR Mechanika i budowa maszyn, II ROK, Metrologia Tyka Haduch
    elektra p1, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
    Badanie wzmacniacza pomiarowego, AGH IMIR Mechanika i budowa maszyn, II ROK, Metrologia Tyka Haduch,
    elektra p1i, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektroni
    Elektra p3 2, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektron
    Elektra M-3spr, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektr
    elektra P4a, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektroni
    Elektra M4a, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektroni
    Elektra M-1tab, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektr
    elektra tyszon, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektr

    więcej podobnych podstron