2588001328

ANALIZA WIELKOŚCI CZĄSTEK PROSZKÓW STOSOWANYCH DO WYTWARZANIA MATERIAŁÓW SPIEKANYCH

CEL ĆWICZENIA OBEJMUJE:

•    zapoznanie się ze stosowanymi technikami wytwarzania proszków metalowych, ceramicznych i kompozytowych.

•    określenie wpływu metody wytwarzania proszków na kształt, wielkość cząstek, powierzchnię właściwą oraz stopień utlenienia (w przypadku metali),

•    określenie wpływu warunków mielenia proszków¹ na kształt i wielkość otrzymanych cząstek,

•    zaznajomienie się z metodami pomiaru wielkości cząstek, takimi jak: analiza sitowa, sedymentacyjna, mikroskopowa oraz metody oparte na dyfrakcji promieniowania świetlnego,

•    określenie kształtu cząstek proszków’ materiałów metalowych, ceramicznych i kompozytowych,

•    zapoznanie się z teorią pomiaru wielkości cząstek za pomocą laserowej dyfrakcji, porównanie metod obliczania wielkości cząstek na podstawie kątów ugięcia lub rozproszenia wiązki światła laserowego na podstaw ie teorii J. Fraunhofcra i G. Mie,

•    nabycie umiejętności określenia wielkości cząstek proszków oraz dobom odpowiedniej metody pomiarowej w zależności od rodzaju i kształtu cząstek badanego proszku,

•    określenie wpływu na otrzymywane wyniki pomiarów, wybranej metody badawczej wielkości cząstek proszku oraz kształtu, w szczególności pomiam w mikroskopie skaningowym lub świetlnym, automatycznego pomiam za pomocą analiz} obrazu i odpowiedniego oprogramowania, analizy sitowej i laserowej,

•    nabycie umiejętności interpretacji wy ników badań, w szczególności wykresów' przedstawiających rozkład wielkości cząstek badanych proszków’.

STANOWISKO BADAWCZE OBEJMUJE:

•    prezentację multimedialną przedstawiającą metody pomiam w ielkości cząstek proszku z wykorzystaniem różnych technik, wpływ poszczególnych metod wytwarzania proszków na ich kształt i w ielkość, a także typowe problemy związane z poprawnym pomiarem granulometiycznym,

•    skaningowy mikroskop elektronowy Supra 35 firmy Carl Zeiss z przystawką TRIDENT XM4 (spektrometr) promieniowania X: dyspersji energii EDS i długości fali WDS, oraz system analiz}' dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych EBSD) firmy EDAX,

•    laserowy miernik wielkości cząstek MicroTec plus firmy Fritsch,

116 L.A. Dobrzański. G. Matula