2224357138
2A - pomiary wykonane oscyloskopem
Tw |
fx |
ófx |
Afx |
fx ± Afx |
s |
kHz |
% |
kHz |
kHz |
1 |
0,010 |
4 |
0,0004 |
0,01000 + 0,0004 |
10 |
0,0102 |
4 |
0,0004 |
0,01020 + 0,0004 |
1 |
0,102 |
4 |
0,004 |
0,1020 + 0,004 |
10 |
0,1023 |
4 |
0,004 |
0,102 + 0,004 |
1 |
1,023 |
4 |
0,04 |
1,02+0,04 |
10 |
1,0227 |
4 |
0,04 |
1,02+0,04 |
1 |
9,635 |
4 |
0,4 |
9,6+0,4 |
10 |
9,6335 |
4 |
0,4 |
9,6+0,4 |
1 |
100,813 |
4 |
4 |
101+4 |
10 |
100,8274 |
4 |
4 |
101+4 |
10 Hz 100 Hz 1kHz
10 kHz 100 kHz
Obliczenia dotyczące części 2A
AfK=|l/Tx2| *ATX ATX= + STX*TX
6TX =+(6IX+ 6C,) = +((0,1 dz /7,8 dz) + 0,02) = 0,0328205 = 0.04
Tx = l/fx = 1/(10 Hz) =0,15
ATX= 0,0328205 * 0,1 s = 0,00328205 s = 0,004 s
Afx= |l/Tx21 * ATX = 1/(0,1 s)2* 0,00328205 s = 0,328205 Hz = 0.4 Hz
6fx=Afx/fx = 0,000328205 kHz/ 0,010 kHz = 0,0328205 =>4%
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
fizjo spr 7 (2) < J w Parametr RRs RRr HR sv co Wyniki pomiaru wykonanego (wartościIMG 91 2-3-2. Pomiar odcinków czasowych Drugim podstawowym pomiarem wykonywanym oscyloskopem z syncIMGW20 29 Hpwych (pomiar wykonany po usunięciu ok. 20 nm) - spada do 2% at. Podobnie Kk w przypadkuP1140770 Następnie przystąpiono do pomiarów twardości metodą Vickersa. Pomiary wykonano w próbkach wAnaliza wpływu stopnia kompresji. 147 3.4. Badanie wpływu jednokrotnej kompresji obrazu Pomiary wykoNiepewności systematyczne (duże w porównaniu z przypadkowymi) 2a) Pomiar pośredni - metoda różniczkiNiepewności systematyczne (duże w porównaniu z przypadkowymi) 2a) Pomiar pośredni - metoda różniczkiNiepewności systematyczne (duże w porównaniu z przypadkowymi) 2a) Pomiar pośredni - metoda różniczkiPA200077 [1600x1200] KALIBRACJA ANALITYCZNA PROCEDURA KALIBRACYJNA Przygotowani* wzorców i próbek dostr026 (3) •VI 11V11 N.i cml odciętych zaznaczono różnicę czasu [s] pomiędzy pomiarami wykonanymi pr5 (1859) Pomiary wykonać dla różnych położeń Atr. i suwaka Rr. Wyniki zanotować w tabeli. Położeni10156792T10977326759598874181 n 7 7 2.2. Tabela pomiarowa (wykonana na podstawie zarejestrowanych z200 m y% < ► < > ili MWartości NDVI obliczone podstawie pomiarów wykonanych wPomiary wykonać miernikiem wielkości elektrycznych, posiadającym aktualny certyfikat potwierdzającyBłędy systematyczne Zawsze w ten sam sposób wpływają na wyniki pomiarów wykonanych za pomocą tej samwięcej podobnych podstron