2224357138

2224357138



2A - pomiary wykonane oscyloskopem

Tw

fx

ófx

Afx

fx ± Afx

s

kHz

%

kHz

kHz

1

0,010

4

0,0004

0,01000 + 0,0004

10

0,0102

4

0,0004

0,01020 + 0,0004

1

0,102

4

0,004

0,1020 + 0,004

10

0,1023

4

0,004

0,102 + 0,004

1

1,023

4

0,04

1,02+0,04

10

1,0227

4

0,04

1,02+0,04

1

9,635

4

0,4

9,6+0,4

10

9,6335

4

0,4

9,6+0,4

1

100,813

4

4

101+4

10

100,8274

4

4

101+4


{

{

{

{

{


10 Hz 100 Hz 1kHz

10 kHz 100 kHz

Obliczenia dotyczące części 2A

AfK=|l/Tx2| *ATX ATX= + STX*TX

6TX =+(6IX+ 6C,) = +((0,1 dz /7,8 dz) + 0,02) = 0,0328205 = 0.04

Tx = l/fx = 1/(10 Hz) =0,15

ATX= 0,0328205 * 0,1 s = 0,00328205 s = 0,004 s

Afx= |l/Tx21 * ATX = 1/(0,1 s)2* 0,00328205 s = 0,328205 Hz = 0.4 Hz

6fx=Afx/fx = 0,000328205 kHz/ 0,010 kHz = 0,0328205 =>4%



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
fizjo spr 7 (2) < J w Parametr RRs RRr HR sv co Wyniki pomiaru wykonanego (wartości
IMG 91 2-3-2. Pomiar odcinków czasowych Drugim podstawowym pomiarem wykonywanym oscyloskopem z sync
IMGW20 29 Hpwych (pomiar wykonany po usunięciu ok. 20 nm) - spada do 2% at. Podobnie Kk w przypadku
P1140770 Następnie przystąpiono do pomiarów twardości metodą Vickersa. Pomiary wykonano w próbkach w
Analiza wpływu stopnia kompresji. 147 3.4. Badanie wpływu jednokrotnej kompresji obrazu Pomiary wyko
Niepewności systematyczne (duże w porównaniu z przypadkowymi) 2a) Pomiar pośredni - metoda różniczki
Niepewności systematyczne (duże w porównaniu z przypadkowymi) 2a) Pomiar pośredni - metoda różniczki
Niepewności systematyczne (duże w porównaniu z przypadkowymi) 2a) Pomiar pośredni - metoda różniczki
PA200077 [1600x1200] KALIBRACJA ANALITYCZNA PROCEDURA KALIBRACYJNA Przygotowani* wzorców i próbek do
str026 (3) •VI 11V11 N.i cml odciętych zaznaczono różnicę czasu [s] pomiędzy pomiarami wykonanymi pr
5 (1859) Pomiary wykonać dla różnych położeń Atr. i suwaka Rr. Wyniki zanotować w tabeli. Położeni
10156792T10977326759598874181 n 7 7 2.2. Tabela pomiarowa (wykonana na podstawie zarejestrowanych z
200 m y% < ► < > ili MWartości NDVI obliczone podstawie pomiarów wykonanych w
Pomiary wykonać miernikiem wielkości elektrycznych, posiadającym aktualny certyfikat potwierdzający
Błędy systematyczne Zawsze w ten sam sposób wpływają na wyniki pomiarów wykonanych za pomocą tej sam

więcej podobnych podstron