1070411764

1070411764



44 S. Domek, P. Dworak, M. Grudziński, K.Okarma, M. Pajor

Rys.4. Chmura punktów reprezentująca fragment skanowanej powierzchni

Po dokonaniu transformacji układu współrzędnych i wpasowaniu zeskanowanego detalu program obróbki modyfikowany jest o nowy układ bazowy (X’bY’bZ’b), w którego osiach będzie poruszać się narzędzie obrabiarki. W efekcie końcowym detal wykonany zostanie całkowicie bez ryzyka wystąpienia powierzchni nieobrobionych (poza materiałem). Powierzchnie niewidoczne wcześniej dla kamer mogą zostać obrobione po przestawieniu przygotówki w uchwytach, przeprowadzeniu kolejnego procesu skanowania i przyjęcia nowej bazy do obróbki.

Przy doborze urządzeń optycznych należy uwzględnić kilka istotnych parametrów. Ogniskowa obiektywu, ściśle związana z polem widzenia kamer, musi być dobrana tak, aby na obrazie można było szczegółowo zarejestrować przedmiot o założonych wymiarach i przy założeniu minimalnej możliwej do uzyskania odległości od kamery. Z kolei przekątna wyświetlanego z projektora obrazu powinna być możliwie mała, aby na zarejestrowanym obrazie można było obserwować gęsty wzorzec światła strukturalnego i jednocześnie krawędzie wzorca były ostre. Biorąc pod uwagę dokładność wykonania obiektywów i zjawisko różnego kąta załamania dla zmiennej długości fali świetlnej (aberracja chromatyczna), konieczne jest określenie minimalnej gęstości wyświetlanego wzorca rastrowego, który pozostanie wyraźnie widoczny na zarejestrowanym obrazie.

Skanowanie 3D może służyć również do stworzenia bazy tzw. programowych krańcówek dla ruchu narzędzia, co ma szczególne znaczenie przy obrabiarkach o znacznej prędkości przesuwu suportu. Skanowanie 3D dodatkowo można wykorzystać do oceny poprawności i zgodności wykonanego detalu z modelem CAD, a w wersji najbardziej zaawansowanej do sterowania obrabiarką w czasie obróbki. Jednakże w takim przypadku konieczne jest przeprowadzenie dalszych badań i opracowanie procedur programowych mających na celu zapewnienie możliwie najwyższej dokładności uzyskiwanych pomiarów z uwzględnieniem warunków oświetleniowych oraz różnego charakteru skanowanych powierzchni (różne współczynniki odbicia światła, różna połyskliwość materiału).



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
40 S. Domek, P. Dworak, M. Grudziński, K.Okarma, M. Pajor o położeniu wszystkich zidentyfikowanych o
46 S. Domek, P. Dworak, M. Grudziński, K.Okarma, M. Pajor 3. WNIOSKI Dzięki zastosowaniu systemu wiz
42 S. Domek, P. Dworak, ML Grudziński, K.Okarma, M. Pajor program obróbki Rys.2. Schemat ideowy stan

więcej podobnych podstron