3262347665

3.3. Metoda skoku cieplnego (Thermal Step Method TSM)

Metoda termicznego skoku cieplnego została po raz pierwszy praktycznie wykorzystana w pomiarach właściwości dielektryków w Laboratorium d’Elektrotechnique de Montpellier przez grupę Tourelliera w roku 1987. Metoda ta oparta jest na pomiarze prądu wywołanego zmianą ładunku indukowanego na elektrodzie w wyniku wolnego ogrzewanie próbki w warunkach stałej różnicy temperatur pomiędzy elektrodami. Obwód elektryczny próbki zwarty jest przez amperomierz; jedna z elektrod próbki jest utrzymywana w stałej temperaturze, a druga chłodzona, tak aby różnica temperatur była stała [13], Schemat układu pomiarowego zaprezentowano na rysunku 3.5.

Elektrody

Rys. 3.5. Schemat układu pomiarowego metody TSM.

W praktyce jedna strona próbki jest schładzana np. do temperatury -20°C [57] (lub -10°C [8]) a druga jest utrzymywana jest w stałej temperaturze pokojowej. W wyniku tak prowadzonego procesu ogrzewania wytwarza się gradient temperatury wzdłuż grubości próbki. Ulega zmianie grubość próbki (ściskanie lub rozciąganie) i zmienia się wartość przenikalności elektrycznej. Zmiany tych wielkości przedstawiają równania:

dx = dx₀(\ + a_zkT)    (3.7)

(3.8)

s = e_To(\+a_cAT)

19