7581048428

Ćw4
	Suma godzin

Forma zajęć - laboratorium		Liczba godzin
Lal	Zajęcia organizacyjne (BHP, warunki zaliczenia)	2
La2	Pomiar wartości rzeczywistych rezystancji, określenie błędów względnych i bezwzględnych	2
La3	Szeregowe i równoległe łączenie rezystorów, rezystancja wypadkowa	2
La4	Pomiar charakterystyki I=f(U) diody półprzewodnikowej	2
La5	Dioda Zenera, pomiar właściwości stabilizatora opartego na diodzie Zenera	2
La6	Pomiar charakterystyk tranzystora bipolarnego	2
La7	Pomiar częstotliwości granicznych tranzystora bipolarnego	2
La8	Pomiar charakterystyk tranzystora unipolarnego	2
La9	Pomiar charakterystyk statycznych bramki TTL	2
LalO	Pomiar mocy pobieranej przez bramkę TTL	2
Lali	Pomiar czasu przełączania bramki TTL	2
Lal 2	Pomiar charakterystyk elementów optoelektronicznych	2
Lal3	Termin odróbczy I	2
Lal4	Termin odróbczy II	2
Lal 5	Zaliczenia i wpisy	2
	Suma godzin	30

Forma zajęć - projekt		Liczba godzin
Prl
Pr2
Pr3
Pr4
	Suma godzin

Forma zajęć - seminarium		Liczba godzin
Sel
Se2
Se3
	Suma godzin

_STOSOWANE NARZĘDZIA DYDAKTYCZNE

1.    Wykład — metoda tradycyjna z wykorzystaniem środków multimedialnych

2.    Laboratorium pomiarowe - metoda tradycyjna

3.    Konsultacje

4.    Praca własna studenta - przygotowanie do laboratorium

3