8416073726
| Politechnika Wrocławska
Mikroskop Sił Atomowych XE-100
Mikroskop Sił Atomowych (AFM) XE-100 należy do grupy mikroskopów ze skanującą sondą umożliwiający uzyskanie 3-wymiarowej topografii powierzchni badanej próbki z rozdzielczością w skali nano dzięki wykorzystaniu oddziaływań międzyatomowych pomiędzy sondą a powierzchnią badanej próbki.
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
14 AGHMETODY MIKROSKOPOWE OKREŚLANIAWIELKOŚCI ZIARNA U Ocena wielkości ziarna należy do najczęściej
W adresowaniu klasowym adres IP 74.100.7.8 należy do O klasy C.• klasy A. O klasy B. O klasy
Politechnika Wrocławska
1-2010 TRIBOLOGIA 67APARATURA I METODYKA BADAŃ Mikroskop sił atomowych AFM Badaniom poddano pły
Wykonane przy użyciu mikroskopii sił atomowych AFM widoki topografii powierzchni próbek ze stopu Co-
ZdjÂŚĂ cie207 j) Mikroskopia sił atomowych (AFM) to jedna ze współczesnych technik mikroskop SPM (Sc
o ©4. Mikroskop sił atomowych Szymon Musiał... Tina Schemat mikroskopu sił atomowych (AFM) z optyczn
Politechnika WrocławskaPrzykład 2 - Analiza• Nie ma tu żadnych wypadkowych zewnętrznych sił (w żadny
Politechnika WrocławskaJak rozwiązywać zadania? - Analiza • Suma sił w układzie =
Pracownia Badań Elektrochemicznych Biomateriałów 1. Mikroskop sił atomowych AFM wyposażony w moduły
Slajd11 (100) Politechnika Wrocławska ELEMENTY PRZEKROJU POPRZECZNEGO ULICY DWUJEZDNIOWEJ PAS POWIĄZ
Slajd12 (100) Politechnika WrocławskaBasen odparowujący 12
Slajd13 (100) Politechnika Wrocławska PRZEKRÓJ ULICZNY DWUJEZDNIOWY
Slajd8 (100) Politechnika WrocławskaODCINKI PROSTE Największe zalecane długości odcinków prostych Na
więcej podobnych podstron