8416073728

Politechnika Wrocławska

| Mikroskop Sił Atomowych XE-100

Mody pracy mikroskopu XE-100

Tryby pracy mikroskopu XE-100

	^ Mod kontaktowy ^	^■1
wyniki	(Contact AFM): kontaktowe wierciedlenie topografii prób j przesuwania się igły pomi; po powierzchni próbki.	ki w arowej

Mod bezkontaktowy

r(True Non-Contact AFM): odwzorowani^B topografii powierzchni za pomocą ' oscylacyjnego ruchu igły z częstotliwością bliską częstotliwości rezonansowej A i amplitudzie kilku nanometrów^^^

Mikroskop Sił Poprzecznych

LFM (Lateral Force Microscopy)

Mikroskop Sił Magnetycznych

MFM (Magnetic Force Microscopy)

Mikroskop Sił Elektrostatycznych

EFM (Electrostatic Force Microscopy)

Skaningowy Mikroskop Tunelowy

STM (Scanning Tunneling Microskopy)

Mikroskop z Modulacją Siły

FMM (Force Modulation Microscopy)