o ©
Szymon Musiał...
Tina
Schemat mikroskopu sił atomowych (AFM) z optyczną detekcją ugięcia mikrobelki # - P* - $ SŁ" P O - • ©
l/nmute Stłrt V*5to S«unty P»txęonti CM SM< Saim ł««d ttatcbom