LABORATORIUM - Ceramika Narzędziowa
rzeczywistej średnicy pojedynczego ziarna:
D = --d-1,215-d.
K
Jeśli w mikrostrukturze analizowanego materiale występuje więcej niż jedna faza, to należy podać zakres wielkości w obrębie poszczególnych faz.
b) Określić powtarzający się kształt ziam.
c) Określić wielkość ziarna średniego, posługując się następującymi metodami:
• metoda Snyder - Graffa
• metoda powierzchniowa Brucha,
• metoda Jeffriesa (metoda zliczania ziaren).
Pomiar wielkości ziarna średniego metoda Snyder - Graffa.
Numer siecznej |
Długość odcinka pomiarowego [|xm] |
Ilość przecięć ziaren |
Przez płaszczyznę zgładu prowadzi się przypadkowo zorientowaną prostą (sieczną), która na długości pomiarowej L przecina n ziaren analizowanej fazy. Ocena wielkości ziarna polega na zliczeniu ziam przeciętych przez sieczną z tym, że dwa ziarna krańcowe nie przecięte przez dany odcinek na całej długości liczy się jako jedno ziarno. Taki sposób postępowania powtarzamy kilka lub kilkanaście razy (przynajmniej 5). Wyniki pomiarów zliczenia ziaren przeciętych przez sieczne przedstawić w tabeli.__
Iloraz łącznej rzeczywistej długości siecznych L (uwzględniając powiększenie mikroskopu) przez ogólną liczbę przeciętych ziaren n daje średnią wielkość ziarna - zgodnie ze wzorem:
»=-M
n
Pomiar średniej liczby ziaren na jednostkę powierzchni metoda Jeffriesa.
Na fotografię przedstawiającą obraz mikrostruktury analizowanego materiału należy przyłożyć kwadrat pomiarowy o znanej powierzchni A w mm2 (po uwzględnieniu powiększenia obrazu) a następnie określić liczbę ziaren leżących całkowicie wewnątrz kwadratu Nw oraz liczbę ziaren przeciętych przez brzegi kwadratu Nb bez czterech ziam narożnych. Całkowita liczba ziaren Nr na powierzchni kwadratu pomiarowego równa się: Nj = Nw + 0,5 • Nb + 1. Średnią liczbę ziaren na jednostkę powierzchni Na należy wyliczyć korzystając ze wzoru:
Pomiaru należy dokonać w kilku (przynajmniej 3) polach równomiernie rozłożonych na powierzchni zgładu. Wyniki pomiarów należy przedstawić w tabeli._
Nr pomiaru |
Powiększenie |
A [mm2] |
Nw |
Nb |
Ny |
Na [mm’2] |
Pomiar średniej średnicy ziarna płaskiego metoda powierzchniowa Brucha.
Na fotografię przedstawiającą obraz mikrostruktury analizowanego materiału