Maksymalna zdolność rozdzielcza optycznych mikroskopów transmisyjnych nie przekracza 275 nm.
W mikroskopii elektronowej osiągamy zdolności rozdzielcze poniżej 1 nm.
Długość fali elektronowej hlm V może być kontrolowana poprzez zmiany napięcia przyspieszającego.
W technice TEM możemy uzyskiwać obrazy próbek z atomową rozdzielczością oraz określać ich struktury (dyfrakcja elektronowa).