Lab fiz 302, Nr ćwicz


Nr ćwicz.

Data

Paweł Matuszak

wydział elektryczny

Semestr

II

E9

1

mgr

Janusz Rzeszutek

przygotowanie:

wykonanie:

ocena:

Wyznaczanie stałej siatki dyfrakcyjnej

Światło jest falą elektromagnetyczną rozchodzącą się w próżni ze stałą prędkością c. Do celów optycznych potrzebne jest jedynie opisanie w czasie wektora elektrycznego fali świetlnej równaniem (dla fali biegnącej w kierunku osi x): 0x01 graphic

Zgodnie z zasadą Hyghensa, każdy punkt, który fala napotyka na swojej drodze staje się źródłem nowej fali kulistej; położenie fali można odczytać jako styczną do fal cząstkowych. Jest to podstawa wyjaśnienia zjawisk dyfrakcji i interferencji.

Interferencja jest to wzajemne nakładanie się fal. W określonym punkcie przestrzeni nastąpi wzmocnienie lub wygaszenie amplitudy w zależności od faz fal w tym punkcie. Fale będą się wygaszać wzajemnie gdy ich fazy będą przeciwne, natomiast będą się maksymalnie wzmacniać, gdy ich fazy będą zgodne.

Dyfrakcja jest to zjawisko ugięcia się fali zauważalne, gdy przechodzi ona przez szczelinę o rozmiarach porównywalnych z długością fali.

Siatka dyfrakcyjna to układ szczelin wzajemnie równoległych i leżących w stałej odległości.

W siatkach dyfrakcyjnych szerokość szczelin jest rzędu długości fali świetlnej, więc natężenie prążków interferencyjnych jest prawie stałe.

Maksima interferencyjne (obszary wzmocnienia fali) występują w punktach ekranu, dla których różnica dróg jest wielokrotnością długości fali.

0x01 graphic
więc 0x01 graphic

Natomiast szerokość kątową maksimum głównego opisuje wzór: 0x01 graphic

gdzie 0x01 graphic
oznacza kąt występowania maksimum rzędu mSiatka dyfrakcyjna ma zdolność rozdzielczą 0x01 graphic
gdzie jest średnią długości fali dwóch linii widmowych ledwie rozróżnialnych, a jest różnicą długości fal między nimi.

Kryterium Rayleigh'a głosi, że dwa maksima są ledwie rozróżnialne, gdy ich odległość kątowa jest taka, że maksimum jednej linii przypada na minimum drugiej. Jeśli zastosujemy to kryterium, to możemy pokazać, że: R = N m, gdzie:

R--zdolność rozdzielcza, N--całkowita liczba nacięć, m--rząd obserwowanego widma.

W celu znalezienia stałej siatki dyfrakcyjnej d (czyli odległości między środkami dwóch sąsiednich szczelin) skorzystamy z równania 0x01 graphic
gdzie:

m - rząd widma, - długość fali, - kąt pod jakim obserwowane jest max. widma.W doświadczeniu użyjemy światła sodowego o długości fali 0x01 graphic
nm.

Kąt 0x01 graphic
wyrazimy natomiast przez różnicę położenia maksimum głównego 0x01 graphic
i położenia prążka 0x01 graphic
: 0x01 graphic
. Stąd: 0x01 graphic

0x01 graphic

Pomiary

Położenie prążka zerowego: α0 = 87o48'

Δα = 0001'

Siatka A:

m

αL

αP

dL [nm]

dP [nm]

ΔdL [nm]

Δ dP [nm]

dśr [nm]

1

121051'

53040

1053,01

1050,75

51,94

51,67

1051,88

Siatka B:

m

αL

αP

dL [nm]

dP [nm]

ΔdL [nm]

Δ dP [nm]

dśr [nm]

1

123014'

70043'

1016,98

2007,07

47,65

217,70

1512,02

2

145013'

51037'

1399,46

1997,39

29,82

91,03

1698,41

Siatka D:

m

αL

αP

dL [nm]

dP [nm]

ΔdL [nm]

Δ dP [nm]

dśr [nm]

1

94038'

81003

4955,39

5016,28

1378,42

1412,75

4985,83

2

101035'

74009

4949,40

4996,82

672,53

685,86

4973,11

3

108044'

67007

4950,72

5007,89

431,41

442,16

4979,30

4

116015'

59041

4950,56

5004,37

292,54

312,20

4977,46

0x01 graphic
4978,93 [nm]

0x01 graphic
= 5,29 [nm]

Wnioski

W przypadku siatki dyfrakcyjnej A kąty lewy i prawy są prawie jednakowo oddalone od α0 w związku z czym można twierdzić, że doświadczenie dla tej siatki było przeprowadzone prawidłowo. Wykonanie jednego pomiaru uniemożliwiło użycie w przypadku siatki A teorii błędów przypadkowych.

W przypadku siatki B błąd jest zbyt duży już na pierwszy rzut oka. Można stwierdzić, że wystąpił tu błąd gruby, np. przeoczenie któregoś z prążków po jednej ze stron. W związku z tym nie prowadziłem obliczeń średniej dla siatki B.

W przypadku siatki dyfrakcyjnej D wyniki są zbliżone, co daje niskie odchylenie standardowe jak również sugeruje poprawność wykonania ćwiczenia. Duża wartość błędu w pierwszych pomiarach jest spowodowana małymi odchyleniami kątów αL i αP od kąta α0, lecz wartość błędu maleje wraz ze zwiększaniem tego odchylenia.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Lab fiz 302, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, Fizyka, laborki fiza, wszystkie laboratoria z
Lab fiz 302 obliczenia
Lab fiz 302 obliczenia
Lab fiz 302 obliczenia
lab fiz sem 5, lab 4d, Nr grupy: 32
Ćw nr 24, Lab fiz 24, Ćwiczenie 43
lab fiz sem 5, lab 4s, nr grupy : 32
lab fiz sem 5, lab 4w, nr grupy : 32
lab fiz sem 5, lab 4b, Nr ćwiczenia : 4
lab fiz nr 13
Lab fiz 43 2, Studia, Semestr 1, Fizyka, Sprawozdania
Lab fiz 15, Studia, Semestr 1, Fizyka, Sprawozdania
Lab fiz 44, Studia, Semestr 1, Fizyka, Sprawozdania
Lab fiz 01, fff, dużo
Lab.Fiz II-21, MIBM WIP PW, fizyka 2, laborki fiza(2), 29-Optyczna analiza widmowa

więcej podobnych podstron