1
Wskaźniki zdolności procesu
AdamJednoróg
ZDOLNOŚĆ PROCESU
• Wskaźnik zdolności potencjalnej C
p
6
DT
GT
C
p
Wartość
zadana
GT
DT
6
Wskaźniki zdolności procesu
AdamJednoróg
Proces ledwie zdolny Cp=1
4
3
2
1
0
-1
-2
-3
LSL
USL
P rocess Data
Sample N
1000
StDev (Within)
0,986575
StDev (O v erall) 1,00693
LSL
-3
Target
*
U SL
3
Sample M ean
0,0953399
Potential (Within) C apability
C C pk
1,01
O v erall C apability
Pp
0,99
PP L
1,02
PP U
0,96
Ppk
C p
0,96
C pm
*
1,01
C PL
1,05
C PU
0,98
C pk
0,98
O bserv ed P erformance
P PM < LSL
1000,00
P PM > U SL
4000,00
P PM Total
5000,00
Exp. Within Performance
PP M < LSL
852,09
PP M > U SL
1619,02
PP M Total
2471,11
Exp. O v erall P erformance
P PM < LSL
1055,92
P PM > U SL 1959,13
P PM Total
3015,05
Within
Overall
Process Capability of C1
2
Wskaźniki zdolności procesu
AdamJednoróg
Proces zdolny Cp=1.33
3
2
1
0
-1
-2
-3
LSL
USL
Process Data
Sample N
10000
StDev (Within)
0,744334
StDev (O v erall) 0,748632
LSL
-3
Target
*
U SL
3
Sample Mean
-0,00954941
Potential (Within) C apability
C C pk 1,34
O v erall C apability
Pp
1,34
PPL
1,33
PPU
1,34
Ppk
C p
1,33
C pm
*
1,34
C PL
1,34
C PU
1,35
C pk
1,34
O bserv ed Performance
PPM < LSL
0,00
PPM > U SL 0,00
PPM Total
0,00
Exp. Within Performance
PPM < LSL
29,39
PPM > U SL 26,35
PPM Total
55,75
Exp. O v erall Performance
PPM < LSL
32,41
PPM > U SL 29,09
PPM Total
61,50
Within
Overall
Process Capability of C3
Wskaźniki zdolności procesu
AdamJednoróg
Cp=1.0
4
3
2
1
0
-1
-2
-3
LSL
USL
Process Data
Sample N
1000
StDev (Within)
1,00379
StDev (O v erall) 1,01728
LSL
-3
Target
*
U SL
3
Sample Mean
0,960281
Potential (Within) C apability
C C pk 1,00
O v erall C apability
Pp
0,98
PPL
1,30
PPU
0,67
Ppk
C p
0,67
C pm
*
1,00
C PL
1,32
C PU
0,68
C pk
0,68
O bserv ed Performance
PPM < LSL
0,00
PPM > U SL 20000,00
PPM Total
20000,00
Exp. Within Performance
PPM < LSL
39,85
PPM > U SL 21076,17
PPM Total
21116,01
Exp. O v erall Performance
PPM < LSL
49,50
PPM > U SL 22477,69
PPM Total
22527,19
Within
Overall
Process Capability of C2
Cp bez zmian,
ale liczba
braków
wzrosła
3
Wskaźniki zdolności procesu
AdamJednoróg
WSKAŹNIK ZDOLNOŚCI C
pk
• Uwzględnia przesunięcie średniej procesu
3
,
3
min
DT
x
x
GT
C
pk
Wartość
średnia
GT
DT
6
Wskaźniki zdolności procesu
AdamJednoróg
Cp=1.0 Cpk<1.0
4
3
2
1
0
-1
-2
-3
LSL
USL
Process Data
Sample N
1000
StDev (Within)
1,00379
StDev (O v erall) 1,01728
LSL
-3
Target
*
U SL
3
Sample Mean
0,960281
Potential (Within) C apability
C C pk 1,00
O v erall C apability
Pp
0,98
PPL
1,30
PPU
0,67
Ppk
C p
0,67
C pm
*
1,00
C PL
1,32
C PU
0,68
C pk
0,68
O bserv ed Performance
PPM < LSL
0,00
PPM > U SL 20000,00
PPM Total
20000,00
Exp. Within Performance
PPM < LSL
39,85
PPM > U SL 21076,17
PPM Total
21116,01
Exp. O v erall Performance
PPM < LSL
49,50
PPM > U SL 22477,69
PPM Total
22527,19
Within
Overall
Process Capability of C2
Cpk
uwzględnia
przesunięcie
średniej
4
Wskaźniki zdolności procesu
AdamJednoróg
ZALEŻNOŚĆ MIĘDZY C
p
i C
pk
Wartość nominalna
Wartość średnia procesu
C
p
=1,5 C
pk
=1,5
zdolność procesu
potencjalna rzeczywista
C
p
=1,5
C
p
=1,5
C
p
=1,5
C
p
=1,5
C
p
=1,5
C
pk<
1
C
pk
=1
C
pk
=0
C
pk<0
C
pk
=-1
dolna granica
tolerancji
górna granica
tolerancji
)
k
1
(
C
C
p
pk
DT
N
N
GT
N
k
,
min
gdzie: N -
Środek pola tolerancji
UWAGA!
Tę samą wartość wskaźnika Cpk
można
uzyskać przez:
- Zmniejszenie Cp, tzn. zmniejszenie
rozproszenia
-
zmniejszenie odchylenia wartości średniej
od środka pola tolerancji
Wskaźniki zdolności procesu
AdamJednoróg
WSKAŹNIKI ZDOLNOŚCI C
p
i C
pk
• Szacowane są na podstawie rozproszenia
krótkoterminowego występującego w próbce
2
d
R
ˆ
• Tak określana zdolność ma sens jeśli proces jest
statystycznie stabilny
• Jeśli proces nie jest statystycznie stabilny
wskaźniki zdolności C
p
i C
pk
będą miały większe
wartości niż rzeczywista zdolność procesu