Maciej Chmielowski gr22 z8.
Laboratorium Fizyki
Ćw. 12 Badanie procesów relaksacyjnych w obwodach elektrycznych.
1. Wstęp
Proces relaksacyjny może być określony jako przejście układu makroskopowego do stanu
równowagi (minimalnego potencjału termodynamicznego). Polega na rozproszeniu energii. Procesy
relaksacyjne charakteryzują się tym, że szybkość przebiegu procesu jest proporcjonalna do wartości
odchylenia wielkości mierzonej od równowagii w danej chwili. Procesy relaksacyjne
matematycznie opisywane są przez malejące funkcje wykładnicze, w przypadku rozpraszania
energii, i rosnące, w przypadku lokalnego gromadzenia jej. Ważnym współczynnikiem jest τ, czas
relaksacji. Jest to czas, po którym obserwowana wielkość ulegnie e-krotnej zmianie. Procesy
gromadzenia i rozpraszania energii mogą przebiegać naprzemiennie, jeśli przy przekazywaniu
energii z otoczenia układ osiąga stan równowagi nietrwałej. Wtedy układ może rozproszyć
zgromadzoną energię wielokrotnie szybciej niż jest mu przekazywana. Jeśli energia jest dostarczana
do układu ciągle, to gromadzenie i rozpraszanie jej będzie następowało okresowo, powstaną drgania
relaksacyjne.
W tym ćwiczeniu zajmujemy się drganiami relaksacyjnymi w układzie RC, z dostawioną
lampą neonową, kluczującą czyli zwierającą i rozwierającą obwód w zależności od napięcia na jej
zaciskach. Najpierw w czasie ładowania kondensatora, układ jest rozwarty (lampa rozwiera obwód
przez za niskie napięcie) rośnie napięcie na zaciskach lampy. Następnie, gdy napięcie osiągnie
napięcie zapłonu lampy, następuje gwałtowny przepływ ładunku przez lampę, rozładowanie
kondensatora, i spadek napięcia do napięcia gaśnięcia lampy, kiedy to przerywa ona obwód. Proces
ten ma charakterystykę drgań relaksacyjnych.
2. Układ pomiarowy.
I. Badanie procesu rozładowania kondensatora.
R- opornik o rezystancji 200 lub 300kΩ; C- kondensator 100μF; μA- mikro amperomierz klasy 0,2 o zakresie 150μA; K-
klucz pozwalający na zwieranie i rozwieranie układu
Układ składa się z zasilacza, mikroamperomierza, opornika, kondensatora, klucza. Klucz
pozostawiamy rozwarty, w celu naładowania kondensatora, a po krótkim czasie zwieramy go, by
obserwować przepływ prądu (natężenie) w czasie rozładowywania kondensatora. Użyto oporników
o rezystancjach 200 i 300kΩ.
II. Pomiar napięcia zapłonu U
z
i gaśnięcia U
g
neonówki.
R- opornik; N- neonówka; V- woltomierz cyfrowy V530 c
1
=0,05% c
2
=0,01%
Układ składa się z zasilacza, opornika, neonówki i woltomierza. Napięcie na zaciskach
zasilacza reguluje się tak, by dojżeć napięcie tuż przed zapłonem neonówki (U
z
), i następnie obniża
się je, by dojżeć napięcie gaśnięcia (U
g
).
III. Badanie zależności okresu drgań od wartości rezystancji R i pojemności C.
R- opornik; N- neonówka; V- woltomierz cyfrowy V530 c1=0,05% c2=0,01%; C- kondensator
Układ składa się z woltomierza, oporników o rezystancjach od 300 do 825kΩ,
kondensatorow o pojemnościach 2,2 1 i 0,47μF i neonówki. Przy ustalonym napięciu zasilacza
kolejno zmienia się oporniki 300, 360, 430, 510, 620, 750, 825kΩ. Po takim cyklu zmienia się
kondensator na pojemność mniejszą (zaczynając od 2,2μF, kończąc na 0,47μF)
3. Wykonanie ćwiczenia
ćwiczenie składało się z 3 części:
I. Badanie procesu rozładowania kondensatora
1. Zestawić układ pomiarowy według schematu
2. Włączyć zasilanie
3. Odczekać aż kondensator naładuje się.
4. Za pomocą klucza K zamknąć obwód
5. Co pięć sekund odczytywać wartość natężenia prądu i zapisywać ją. Zapisać
także czas połowicznego spadku natężenia prądu.
6. Przerwać pomiary gdy natężenie zejdzie do 5% wartości początkowej.
7. Wykonać pomiary dla oporu 300 i 200kΩ
II. Pomiar napięcia zapłonu U
z
i gaśnięcia U
g
neonówki.
1. Zestawić układ pomiarowy
2. Przez obrót pokrętła zasilacza powoli zwiększać napięcie aż zapali się
neonówka
3. Zapisać najwyższą wartość napięcia przed zapaleniem neonówki (U
z
)
4. Powoli obniżać napięcie i zanotować wartość przy której gaśnie neonówka
(U
g
).
5. Powtórzyc dziesięciokrotnie.
III. Badanie zależności okresu drgań od wartości rezystancji R i pojemności C.
1. Zestwić układ pomiarowy.
2. Ustawić takie napięcie zasilacza, by neonówka blyskała.
3. Zmierzyć czas 10 rozbłysków neonówki dla różnych R (od 300 do 825kΩ)
4. Wykonać pomiary dla pojemności kondensatora równych 2,2 1 i 0,47μF.
5. Oszacować niepewności R, C, U
z
, U
g
, U.
4. Wyniki i ich opracowanie
I . Badanie procesu rozładowania kondensatora
Czas połowicznego zaniku prądu (spadku natężenia do połowy pierwotnej wartości) wyniósł:
T
1/2
=(18±1,1)s dla R=300kΩ
T
1/2
=(12±1,1)s dla R=200kΩ
Rachunek błędów:
Niepewność eksperymentatora przy pomiarze czasu:
u(t)=
1s
3
=
0,57
U(t)=0,57*2=1,14
Wykres wykonany w programie Origin załączony do sprawozdania.
Dla R=300kΩ:
1/czas relaksacji =
1
czas relaksacji
=
1
=−
slope=0,0345
τ = (28,9855072±0,0000006)s
Test Chi kwadrat:
Dla tego wykresu, χ
2
=53, natomiast χ
2
kryt
dla 15 pomiarów, czyli 13 stopni swobody
jest χ
2
kryt
=22,4. Należy więc odrzucić hipotezę o liniowości zależności.
Dla R=300kΩ:
1/czas relaksacji =
1
czas relaksacji
=
1
=−
slope=0,05172
τ = (19,3348801±0,00000002)s
Dla tego wykresu, χ
2
=102, natomiast χ
2
kryt
dla 9 pomiarów, czyli 7 stopni swobody
jest χ
2
kryt
=14,1. Należy więc odrzucić hipotezę o liniowości zależności.
t[s]
0
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
I[μA] 150
125
105
87
75
64
54
45
37
32
27
23
20
16
14
150
114
89
68
54
41
32
25
19
15
12
--
--
--
--
R [kΩ]
C
1
=100μF
R
1
=300
R
2
=200
I[μA]
Rachunek błędów:
Niepewność złożona:
u =
1
2
∗
u
1
=
0,0000003 dla=20 i 0,0000001 dla =33
U(τ)=0,0000006s dla τ=20s
U(τ)=0,0000002s dla τ=33s
Obliczenia na podstawie znajomości pojemności i rezystancji:
τ=R*C
τ=300Ω*100F*10
-6
*10
3
=(30±3)s
τ=200kΩ*100μF=(20±2)s
Rachunek błędów:
u(C)=x*5%=5μF
u(R)=x*0,5%=1,5 lub 1kΩ
ponieważ τ=R*C
u τ =
R
2
∗
u
2
C C
2
∗
u
2
R
dla R=300kΩ
u(τ)=1,51s
U(τ)=3s
dla R=200kΩ
u(τ)=1s
U(τ)=2s
Informacje odczytane z wykresu:
τ=(20,0±6,8)s
τ=(29,0±6,8)s
Rachunek błędów:
Niepewność eksperymentatora przy odczytywaniu danych z wykresu:
(błąd odczytu każdej wielkości szacuję na 2)
u I =
2
2
3
=
2,4
u t=
2
2
3
=
2,4
Wynika z tego, niepewność τ z wykresu:
u τ =
u
2
τ u
2
I =
2,4
2
2,4
2
=
3,39
U(τ)=6,78
II . Pomiar napięcia zapłonu U
z
i gaśnięcia U
g
neonówki.
Wyniki pomiaru:
U
z
= (71,6±1,5)V
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
72,0 71,5
70,5
71,5 72,2 71,6 71,8 70,1 72,6 71,9
56,0 56,7
56,8
56,5 56,4 56,7 56,2 56,5 56,4 56,4
U
z
[V]
U
g
[V]
U
g
= (56,49±0,48)V
Rachunek błędów:
Średnie U
z
= 71,57V
Średnie U
g
= 56,46V
u(U
z
)= 0,75V (odchylenie standardowe)
∆x=c
1
*x + c
2
*z=71,5V*0,05% + 100V*0,01% =0,026V (niepewność wzorcowania,
pomijalnie mała)
U(U
z
)=2*0,75=1,5V (niepewność rozszerzona pomiaru napięcia zapłonu)
u(U
g
)= 0,24V (odchylenie standardowe)
∆x=0,026V (niepewność wzorcowania, z tego samego urządzenia co U
z
)
U(U
g
)=2*0,24=0,48V (niepewność rozszerzona pomiaru napięcia gaśnięcia)
III . Badanie zależności okresu drgań od wartości rezystancji R i pojemności C.
Wyniki pomiaru:
Na podstawie wyników obliczono niepewności pomiaru okresu drgań relaksacyjnych T:
T=t
1
+ t
2
= czas ładowania kondensatora + czas rozładowania kondensatora. Jednakże, t
2
jest
wielokrotnie mniejsze od czasu ładowania, więc można je pominąć w obliczeniach.
Czas ładowania wyraża się wzorem:
R- rezystancja opornika, C- pojemność kondensatora, U
g
- napięcie gaśnięcia neonówki, U
z
- napięcie zapłonu
neonówki, ε- napięcie na zaciskach zasilacza.
Tak więc, przyjmujemy, że T=t
1
.
By obliczyć niepewność pomiaru T, trzeba obliczyć pochodne po wszystkich zmiennych we
wzorze:
T '
R
=
C∗ln
−
U
g
−
U
z
T '
C
=
R∗ln
−
U
g
−
U
z
T '
Ug
=
RC
−
U
g
U [V]
t[s]
U [V]
t[s]
U [V]
t[s]
2,2
80,5
825
20,7
1
80,5
825
9,2
0,47
80,5
825
4,8
750
18,3
750
8,0
750
4,3
620
15,6
620
7,0
620
3,9
510
12,9
510
6,4
510
3,7
430
11,0
430
5,4
430
3,2
360
9,1
360
4,6
360
3,1
300
8,6
300
3,8
300
3,0
C[μF]
R [kΩ]
C[μF]
R [kΩ]
C[μF]
R [kΩ]
t
1
=
R∗C∗ln
−
U
g
−
U
z
T '
Uz
=
RC
−
U
z
T '
=
U
g
−
U
z
−
U
g
−
U
z
Więc u(T) wyraża się wzorem:
u T =
T '
R
2
∗
u
2
RT '
C
2
∗
u
2
C T '
Ug
2
∗
u
2
U
g
T '
Uz
2
∗
u
2
U
z
T '
2
∗
u
2
Po podstawieniu stosownych wartości otrzymujemy:
U= napięcie na zaciskach zasilacza,
t =czas 10 błyśnięć lampy
R=rezystancja opornika
C=pojemność kondensatora
T
eksp
=okres na podstawie eksperymentu(czas n błyśnięć/n)
T
obl
= okres obliczony ze wzoru
u( T
obl
)= niepewność złożona pomiaru na podstawie obliczeń
u(T
eksp
)=niepewność złożona na podstawie eksperymentu
U
t[s]
80,5
20,7
825
2,2
2,07
1,80
0,057
0,200
80,5
18,3
750
2,2
1,83
1,64
0,057
0,182
80,5
15,6
620
2,2
1,56
1,35
0,057
0,150
80,5
12,9
510
2,2
1,29
1,11
0,057
0,124
80,5
11,0
430
2,2
1,10
0,94
0,057
0,104
80,5
9,1
360
2,2
0,91
0,79
0,057
0,087
80,5
8,6
300
2,2
0,86
0,65
0,057
0,073
80,5
9,2
825
1
0,92
0,82
0,057
0,091
80,5
8,0
750
1
0,80
0,74
0,057
0,083
80,5
7,0
620
1
0,70
0,62
0,057
0,068
80,5
6,4
510
1
0,64
0,51
0,057
0,056
80,5
5,4
430
1
0,54
0,43
0,057
0,047
80,5
4,6
360
1
0,46
0,36
0,057
0,040
80,5
3,8
300
1
0,38
0,30
0,057
0,033
80,5
4,8
825
0,47
0,48
0,38
0,057
0,043
80,5
4,3
750
0,47
0,43
0,35
0,057
0,039
80,5
3,9
620
0,47
0,39
0,29
0,057
0,032
80,5
3,7
510
0,47
0,37
0,24
0,057
0,027
80,5
3,2
430
0,47
0,32
0,20
0,057
0,023
80,5
3,1
360
0,47
0,31
0,17
0,057
0,019
80,5
3,0
300
0,47
0,30
0,14
0,057
0,016
R [kΩ] C[μF] T
eksp
[s] T
obl
[s]
u(T
ek
)[s] u(T
obl
) [s]
Wykresy obrazujące zależności T od R, dla stałych pojemności kondensatora równych 2,2, 1 lub
0,47:
Obliczeniowe:
Eksperymentalne:
0,00 0,20 0,40 0,60 0,80 1,00 1,20 1,40 1,60 1,80 2,00
0
100
200
300
400
500
600
700
800
900
2,2
1
0,47
T
R
0,20 0,40 0,60 0,80 1,00 1,20 1,40 1,60 1,80 2,00 2,20
0
100
200
300
400
500
600
700
800
900
2,2
1
0,47
T
R
5. Wnioski
Zadziwiające w tym ćwiczeniu okazały się wartości chi kwadrat obliczone przez program
origin. Znacząco przekroczyły wartości chi kwadrat krytycznej, przez co zdaje się, że nie ma nawet
cienia szansy, by zależność przez nas badana była prawdziwa. Jednakże, wiemy, iż zależność ta jest
logarytmiczna, więc prawdopodobnie błędy pomiaru spowodowały taką wysoką wartość chi
kwadrat. Możliwe, że przy pomiarach napięcia zapłonu i gaśnięcia neonówki, błędy pomiaru były
większe niż wynikające z parametrów urządzenia, poniważ mierzono wielkość stale się
zmieniajacą, więc powinno się wziąć pod uwagę refleks badacza. Takie same błędy (i to właśnie w
części ćwiczenia badanej przez chi kwadrat) mogły mieć miejsce przy pomiarze prądu
rozładowania kondensatora. Pomiar natężenia prądu w odstępach pięcio-sekundowych z pewnością
miał mniejszą dokładność niż wynikająca z parametrów urządzenia (w tym typu B), ponieważ,
chociażby w początkowych częściach pomiaru, wartośc zmieniała się gwałtownie. Pomiaru nie
ułatwił też mechanizm wskazań urządzenia, nie poprzez wskazówkę, a punkt światła, o dużej
średnicy względem działki. Pomiar także był wykonywany przez dwie osoby, jedną mierzącą czas,
a drugą zapisującą natężenie prądu, przez co opóźnienia w komunikacji mogły znacząco zwiększyć
błąd pomiaru.
Widać, że błędy przyjęte przez progam są o kilka rzędów wielkości mniejsze, niż
wynikające z obliczeń przy użyciu niepewności złożonej dla czasu relaksacji.
Przy tak dużych błędach pomiaru, względem niepewności złożonych a nawet i
rozszerzonych, niemożliwe było uznanie hipotezy za słuszną, mimo, że tak na prawdę jest.
Pozostała część ćwiczenia dotyczyła wyznaczania okresu drgań relaksacyjnych. Tu także
można było popełnić znaczne błędy, chociażby przy mierzeniu okresu drgań relaksacyjnych. Nawet
dziesięć okresów było już na granicy możliwości ludzkiej do zmierzenia. Dla tego też, niepewność
okresu obliczonego, a nie zmierzonego, jest mniejsza od niepewności okresu zmierzonego.
Podsumowując, największą bolączką eksperymentatora w tym ćwiczeniu były jego własne
błędy.