Canon system pomiaru błysku

background image

Problemy E-TTLa

Dotychczasowy zaawansowany pomiar b³ysku Canona –

E-TTL, podobnie jak canonowski 21-polowy pomiar œwiat³a
ci¹g³ego, by³ silnie powi¹zany z aktywnym polem autofokusa.
Odpowiada³o to za³o¿eniu, ¿e w trakcie ekspozycji pole to po-
krywa g³ówny obiekt. Nie zawsze jednak tak by³o – po wybra-
niu do ostrzenia pola centralnego, czêsto po nastawieniu
ostroœci kadr by³ zmieniany. Aktywne pole autofokusa mog³o
wtedy znaleŸæ siê na odleg³ym, wymagaj¹cym silnego na-
œwietlenia tle (poziom oœwietlenia b³yskiem spada wraz
z kwadratem odleg³oœci), czego skutkiem by³o przeœwietlenie
wyostrzonego planu. Poza tym, gdy pomiar œwiat³a powi¹za-
ny by³ z aktywnym polem autofokusa, na ekspozycjê wp³ywa-
³a jasnoœæ kadru w miejscu, na które nastawiona zosta³a
ostroœæ. Nawet je¿eli ujêcie nie zosta³o przekadrowane, ale
wyostrzyliœmy na ciemny obiekt, tak¿e otrzymywaliœmy prze-
œwietlone zdjêcie.

Z sytuacj¹, gdy na ekspozycjê wp³ywa niekorzystnie ja-

snoœæ fragmentu kadru, który pokrywa³ siê z aktywnym polem
(czy polami) autofokusa, mieliœmy najczêœciej do czynienia
przy fotografowaniu z automatycznym wyborem tego pola.
Automatyka zawsze poszukiwa³a obszarów jak najbardziej dla
niej czytelnych, które z regu³y by³y w³aœnie kontrastowe i... ja-
sne. Takie powi¹zanie ekspozycji z jasnymi (bia³ymi) elemen-
tami obrazu, czêsto nawet ma³o wa¿nymi dla ca³ego zdjêcia,
powodowa³o jego niedoœwietlenie.

Ekstremalnie niepokoj¹ca sytuacja wystêpowa³a wtedy,

gdy obydwa czynniki fa³szuj¹ce prawid³owy dobór ekspozycji
– odleg³oœæ t³a i jego jasnoœæ – nak³ada³y siê na siebie. Je¿eli
na przyk³ad po przekadrowaniu aktywne pole autofokusa wy-
pada³o na odleg³ym tle, które do tego by³o ciemne, pierwszy
plan by³ naprawdê potê¿nie przeœwietlony! Przed b³êdami te-
go rodzaju mo¿na by³o siê ustrzec rêcznie wyzwalaj¹c przed-
b³ysk pomiarowy (FEL), ale i on wymaga³ obiektu o œredniej ja-
snoœci. W rozwi¹zaniu tych problemów móg³ wiêc pomóc je-
dynie nowy algorytm pomiaru œwiat³a.

Jak dzia³a E-TTL II?

Chc¹c ostatecznie usun¹æ niedoci¹gniêcia automatyki E-TTL,

Canon zrezygnowa³ ze swego podstawowego (dla wyznacza-
nia ekspozycji) za³o¿enia – œcis³ego powi¹zania pomiaru œwia-
t³a z aktywnym polem autofokusa. Nowemu algorytmowi wy-
znaczy³ zadanie bezpoœredniego wykrycia w kadrze fotografo-
wanego obiektu i przy³o¿enia w³aœnie do niego najwiêkszej
wagi przy ustalaniu ekspozycji b³yskiem. W trudnych sytu-
acjach pomiar dodatkowo wspiera – przekazywana z odpo-
wiedniego obiektywu – informacja o odleg³oœci. Ca³a procedu-
ra wygl¹da tak:

sprzêt

48

E-TTL II

nowoczesny system pomiaru b³ysku Canona

Przez kilka ostatnich lat canonowski E-TTL by³ naj-
bardziej wszechstronnym ze znanych systemów
pomiaru b³ysku. Pracowa³ w pe³nej wersji w prze-
ró¿nych konfiguracjach i dawa³ precyzyjne naœwie-
tlenia. Tylko czasami zdarza³y mu siê „wpadki”, cze-
go nie mo¿na by³o powiedzieæ o ma³o uniwersal-
nym, ale za to korzystaj¹cym z informacji o odleg³o-
œci, konkurencyjnym systemie Nikona. Aby zwiêk-
szyæ precyzjê naœwietlania w „trudnych” sytu-
acjach, Canon musia³ udoskonaliæ algorytm pomia-
ru œwiat³a. I udoskonali³ – rok temu, wraz z cyfro-
wym EOSem-1D Mark II, zaprezentowa³ now¹ au-
tomatykê b³ysku E-TTL II.

background image

49

Po naciœniêciu spustu migawki do koñca, ale jeszcze przed

emisj¹ przedb³ysku pomiarowego, wielosegmentowa ma-
tryca dokonuje pomiaru œwiat³a zastanego (ci¹g³ego).

Nastêpnie emitowany jest przedb³ysk i ta sama matryca
mierzy poziom œwiat³a b³yskowego w ka¿dym ze swych
segmentów pomiarowych.

Teraz nastêpuje wa¿na czêœæ procedury – „wskazanie”

obiektu. Wyniki pomiarów œwiat³a zastanego, oraz przedb³y-
sku, dla ka¿dego z segmentów matrycy, zostaj¹ ze sob¹ po-
równane. Segmenty pokrywaj¹ce obiekt wykazuj¹ du¿¹ ró¿-
nicê pomiêdzy obydwoma pomiarami, poniewa¿ odbity od
blisko po³o¿onego obiektu przedb³ysk jest intensywny, a po-
ziom œwiat³a zastanego – niski (na przyk³ad w pomieszcze-
niach). Odwrotnie jest w przypadku oddalonego t³a – tu od-
bite œwiat³o przedb³ysku jest s³abe, wiêc ró¿nica obydwu
pomiarów – ma³a. Zatem segmenty matrycy wykazuj¹ce
du¿¹ ró¿nicê pomiêdzy odczytami dla œwiat³a zastanego
i przedb³ysku z du¿ym prawdopodobieñstwem wskazuj¹
obiekt. To one w³aœnie zostaj¹ wybrane do okreœlenia pozio-
mu naœwietlenia b³yskiem.

Canon Speedlite 580EX to lampa o znacznie lepszej – w stosunku do po-
przedniczki Speedlite’a 550EX – ergonomii. £atwiej operujemy przyciska-
mi, a tylko jeden z nich wystarcza do aktywacji trybów synchronizacji b³y-
sku z super-krótkimi ekspozycjami i na drug¹ zas³onkê migawki. Wartoœci
poszczególnych parametrów wygodnie i szybko dobieramy pokrêt³em, któ-
rego centralny przycisk s³u¿y do wyboru funkcji, czy parametrów, oraz do
zatwierdzania ich wartoœci (odpowiada poprzedniemu przyciskowi
SEL/SET). Lampa automatycznie mo¿e te¿ dostosowywaæ zoom palnika do
efektywnego k¹ta widzenia obiektywu (nowy symbol w prawym, górnym
roku wyœwietlacza LCD). G³owica lampy nie ma ju¿ blokady ruchów w po-
ziomie. Poprawnoœæ ekspozycji wskazuje teraz pod³u¿na dioda, znajduj¹ca
siê poni¿ej lampki testowej, a w³¹czona lampa zawsze pracuje w trybie
oszczêdnoœci energii (brak trzeciej pozycji w³¹cznika).

background image

50

W tak wyselekcjonowanych segmentach odczyt przedb³y-

sku zostaje odpowiednio „wywa¿ony i uœredniony” – tu
tkwi ca³a tajemnica nowego systemu. PóŸniej jest jeszcze
porównywany z pomiarem œwiat³a zastanego. W koñcu zo-
staje ustalona – i wprowadzona do pamiêci systemu – ener-
gia b³ysku zasadniczego.

Na koniec wyzwalana jest migawka przy odmierzonej – jesz-

cze przed ekspozycj¹ – iloœci œwiat³a b³yskowego, a ca³a
opisana procedura zajmuje drobny u³amek sekundy!

Zalety nowego algorytmu pomiaru b³ysku

Nowego systemu nie zmyli ju¿ przekadrowanie po wy-

ostrzeniu, co w aspekcie opisanej procedury jest chyba zrozu-
mia³e. Nie powinna go te¿ zmyliæ jasnoœæ obiektu, bo ró¿nice
pomiêdzy dokonanymi z niego pomiarami œwiat³a zastanego
i przedb³ysku bêd¹ i tak stosunkowo du¿e. Przy pomiarach na
odleg³e t³o ró¿nice te s¹ istotnie wiêksze. Obiekt wiêc zosta-
nie wskazany prawid³owo, a system odpowiednio „wywa¿y
i uœredni” odczyt przedb³ysku. Mo¿e przy tym skorzystaæ z od-
czytów dla pozosta³ych obiektów znajduj¹cych siê w identycz-
nej, co obiekt g³ówny odleg³oœci, czy te¿ – w koñcu – z prze-
kazywanej z obiektywu informacji o odleg³oœci. A wiêc bez
wzglêdu na po³o¿enie obiektu w kadrze, jego wielkoœæ, czy
te¿ jasnoœæ, wyznaczona energia b³ysku nie powinna zmieniæ
siê radykalnie, daj¹c du¿¹ dok³adnoœæ, a tak¿e powtarzalnoœæ
ekspozycji.

Je¿eli natomiast niektóre segmenty matrycy wyka¿¹ eks-

tremalnie du¿¹ ró¿nicê pomiêdzy pomiarami œwiat³a zastane-
go i przedb³ysku, oznacza to, ¿e prawdopodobnie pokrywaj¹

Najnowsza topowa lampa b³yskowa Canona – Speedlite 580EX – opracowana zo-

sta³a na bazie poprzedniego modelu flagowego (Speedlite 550EX), ze specjalnym
uwzglêdnieniem potrzeb lustrzanek cyfrowych. Wprowadzono w niej te¿ kilka spraw-
dzonych ju¿ rozwi¹zañ z lamp konkurencyjnych. Speedlite 580EX ma liczbê przewod-
ni¹ 58 (105 mm, ISO 100, m) i kryje œwiat³em pole widzenia obiektywów ju¿ od 14
mm (z wbudowanym dyfuzorem). Zoom palnika pracuje w dotychczasowym zakresie
24-105 mm, ale automatycznie dostosowuje k¹t œwiecenia do trzech rozmiarów ma-
tryc stosowanych w lustrzankach Canona (pe³na klatka, o krotnoœci 1.3x i 1.6x).
Oszczêdza to energiê i daje szybsz¹ gotowoœæ do nastêpnego b³ysku, chocia¿ nomi-
nalny czas ³adowania nowego flesza tak¿e zosta³ skrócony – o 25%. Speedlite 580EX
przekazuje do korpusu cyfrowej lustrzanki informacje o temperaturze barwowej emi-
towanego œwiat³a, z których korzysta system balansu bieli (automatyka lub nastawie-
nie predefiniowane b³ysku).

Oczywiœcie Speedlite 580EX wspó³pracuje równie¿ z analogowymi lustrzankami Cano-

na – realizowane s¹ wówczas pomiary E-TTL II, E-TTL i TTL. Dostêpna jest miêdzy inny-
mi synchronizacja z pocz¹tkiem i koñcem otwarcia migawki, synchronizacja z super-
-krótkimi czasami ekspozycji, autobraketing i korekcja b³ysku (mog¹ byæ ³¹czone). Tak¿e
stroboskop – do 199 Hz, oraz tryb rêczny z redukcj¹ energii co 1/3 EV – to nowoœæ w lam-
pach Canona (redukcja w dó³ do 1/128). Zwiêkszona zosta³a powtarzalnoœæ b³ysków – te-
raz tolerancja wynosi tylko +/–0.3 EV.

Speedlite 580EX steruje bezprzewodowo b³yskiem innych fleszy serii EX, mo¿e te¿

pracowaæ jako lampa podporz¹dkowana. System wspomagania autofokusa jest oczy-
wiœcie kompatybilny ze wszystkimi polami dowolnego EOSa, tak¿e dziewiêcioma no-
wego EOSa 20D.

Du¿¹ zalet¹ Speedlite’a 580EX jest jego uproszczona obs³uga. G³owica lampy – teraz zaopatrzona we wbudowany

bia³y ekranik – wykonuje wszystkie podstawowe ruchy, ale w poziomie obraca siê o 180 stopni zarówno w lewo, jak
i prawo. Ruchy g³owicy blokowane s¹ wygodnie i szybko tylko jednym przyciskiem. Ergonomiê lampy poprawia te¿ po-
pularne w rozwi¹zaniach konkurencyjnych pokrêt³o, oraz ³atwiej obs³ugiwane przyciski.

Wraz ze Speedlitem 580EX pojawi³y siê nowe akcesoria – zasilacz bateryjny CP-E3, oraz wysiêgnik SB-E1. Speedli-

te 580EX ma ju¿ 14 funkcji indywidualnych, jest wê¿szy, zgrabniejszy i l¿ejszy od poprzednika. Jego wymiary wynosz¹
76 x 134 x 114 mm, masa – 375 g (bez baterii), a cena – 499 euro.

Canon Speedlite 580EX

Wzorem zaawansowanych fleszy Nikona, energiê b³ysku w ma-
nualu w canonowskiej lampie Speedlite 580EX dobieramy
z drobnym krokiem 1/3 EV, a po wyci¹gniêciu dyfuzora k¹t roz-
sy³u œwiat³a pokrywa ju¿ pole widzenia obiektywu ma³oobrazko-
wego o ogniskowej 14 mm.

background image

51

obiekt o wyj¹tkowo wysokim wspó³czynniku odbicia œwiat³a,
na przyk³ad wykonany ze szk³a. System zignoruje je, o ile nie
pokrywaj¹ siê z wyznaczonym obiektem, lub te¿ skoryguje od-
czyt przedb³ysku do niskiego poziomu tak, aby unikn¹æ niedo-
œwietlenia. Z regu³y dopiero w nietypowych sytuacjach tego
rodzaju E-TTL II korzysta z informacji o odleg³oœci. Pochodzi
ona z pokrywaj¹cego obiekt aktywnego pola autofokusa
i istotnie wspomaga pracê systemu.

Korzystanie z E-TTLa II

System pomiaru b³ysku E-TTL II zastosowany zosta³ we

wszystkich lustrzankach Canona wprowadzonych po
EOSie-1D Mark II, a wiêc cyfrowych Canonach EOS-1Ds
Mark II, EOS 20D i EOS 350D, oraz analogowych – EOS
30V Date/33V i EOS 300x. E-TTL II – tak jak jego poprzed-
nia wersja – realizowany jest przy wspó³pracy ze wszystki-
mi lampami serii EX, w tym obecnie topow¹ Canon Speedli-
te 580EX. Natomiast informacjê o odleg³oœci przenosz¹ do
korpusu g³ównie oryginalne obiektywy wyposa¿one w pier-
œcieniowy silnik USM (praktycznie wszystkie obecnie do-
stêpne modele optyki zaawansowanej i profesjonalnej),
oraz EF 50 mm f/1.4 USM, MP-E 65 mm f/2.8, EF 28-105 mm
f/4-5.6 USM, EF 28-105 mm f/ 4-5.6 DC, EF 90-300 mm f/4.5-
5.6 USM, EF 90-300 mm f/4.5-5.6 DC i EF 28-200 mm f/3.5-
5.6 USM. O optyce niezale¿nej Canon oczywiœcie nie wspo-
mina...

Test E-TTLa II w „trudnych” sytuacjach

Celem testu nowego systemu pomiaru b³ysku Canona –

E-TTL II by³o sprawdzenie precyzji naœwietlania w sytu-
acjach k³opotliwych dla dotychczasowego E-TTLa. Bada³em
ekspozycjê przy u¿yciu lampy obiektu o œredniej jasnoœci
przy przekadrowaniu ujêcia na odleg³e, ciemne t³o w sytu-
acji, gdy oœwietlenie zastane by³o znikome. Okreœla³em te¿
ekspozycjê w tych samych warunkach obiektu jasnego (bia-
³ego). Ponadto sprawdzi³em, czy naœwietlenia b³yskiem tych
motywów zale¿¹ od ich wielkoœci (u¿ytej ogniskowej), oraz
jak sprawuje siê E-TTL II z optyk¹ niezale¿n¹, w przypadku

Wbudowany bia³y ekranik oraz
pojedyncza blokada ruchów g³o-
wicy, to kolejne usprawnienia
Speedlite’a 580 EX i zarazem po-
dobieñstwa do zaawansowa-
nych lamp konkurenta. W zesta-
wie handlowym nie ma jednak
dodatkowej nasadki rozpraszaj¹-
cej, tak zwanego „kube³ka”.

background image

52

której najprawdopodobniej nie jest przekazywana informacja
o odleg³oœci. Drug¹ czêœæ testu wykona³em w plenerze, do-
œwietlaj¹c zacienione obiekty i uzupe³niaj¹c b³yskiem sceny
oœwietlone s³abo, choæ równomiernie.

W ka¿dym przypadku zwraca³em uwagê na stabilnoœæ ba-

lansu bieli przy kolejnych zdjêciach oraz na powtarzalnoœæ pre-
cyzji naœwietleñ. Fotografowa³em lustrzank¹ cyfrow¹ Canon
EOS 20D, ostrz¹c centralnym czujnikiem autofokusa. Aparat
wyposa¿ony by³ w obiektyw Canon EF-S 10-22 mm f/3.5-4.5
USM i lampê b³yskow¹ Canon Speedlite 580EX. W plenerze
u¿ywa³em te¿ zooma Canon EF 70-200 mm f/4L USM, a przy
zdjêciach w pomieszczeniach optyki niezale¿nej – Tokiny AT-X
AF 28-70 mm f/2.6-2.8 Pro II.

B³ysk jako g³ówne Ÿród³o œwiat³a,

t³o oddalone i ciemne

Przy przekadrowaniu obiektu o œredniej jasnoœci (tablica
GretagMacbeth) ekspozycja b³yskiem nadal by³a prawid³o-
wa, nawet gdy obiekt zajmowa³ tylko w¹ski wycinek na
brzegu kadru. Naœwietlenie praktycznie nie zale¿a³o od po-
³o¿enia obiektu, jego wielkoœci, czy u¿ytej ogniskowej.
Brawo! Prawid³ow¹ ekspozycjê uzyskiwa³em równie¿ przy
odbijaniu b³ysku, czy te¿ wczeœniejszym jego zapamiêta-
niu (FEL).

W sytuacji, gdy b³ysk jest g³ównym Ÿród³em œwiat³a, E-TTL II prawid³owo eksponuje obiekt o œredniej jasnoœci – zarówno gdy znajduje siê w centrum ka-
dru, jak i na jego brzegu. Po przekadrowaniu, ostrz¹ce centralne pole autofokusa wypada na czarnym tle, a mimo to ekspozycja nie zmienia siê, nawet gdy
motyw zajmuje znacznie mniejsz¹ ni¿ poprzednio czêœæ kadru. Identyczny efekt naœwietlenia w obydwu przypadkach wyst¹pi³ równie¿ przy zdjêciach z opty-
k¹ niezale¿n¹ (Tokina AT-X AF 28-70 mm f/2.6-2.8 Pro II).

Sprzêt: Canon EOS 20D + EF-S 10-22 mm f/3.5-4.5 USM + Speedlite 580EX, ekspozycja: 1/250 s, f/8, ISO 100, ogniskowa: 22 mm.

Eleganckie doœwietlenie
b³yskiem – bez jego korek-
cji. Zmniejszenie poziomu
b³ysku o 1/2 EV mog³oby,
co prawda, zmniejszyæ ja-
snoœæ wyzwalaj¹cej mi-
gawkê d³oni.

Sprzêt: Canon EOS 20D +
EF 70-200 mm f/4L USM +
Speedlite 580EX, ekspozy-
cja: 1/250 s, f/8, ISO 800,
ogniskowa: 100 mm.

background image

55

Prawid³owo eksponowany b³yskiem bezpoœrednim by³ tak-

¿e – znajduj¹cy siê w centrum kadru – obiekt zupe³nie bia³y.
System najwyraŸniej korzysta³ z informacji o odleg³oœci
(obiektyw z USM), co da³o wspania³y rezultat. Jednak po
przekadrowaniu ujêcia (obiekt z boku kadru) wyst¹pi³o pew-
ne niedoœwietlenie (do 1EV), podobne do tego jakie otrzy-
mywa³em w ka¿dej sytuacji zapamiêtuj¹c b³ysk (FEL). Nie
by³o natomiast – charakterystycznego dla dawnego syste-
mu – przeœwietlenia! Niestety, przy odbijaniu b³ysku nasta-
wiona odleg³oœæ nie by³a w stanie pomóc systemowi (praw-
dopodobnie w ogóle nie jest wtedy uwzglêdniana). Rezultat
– podobne niedoœwietlenie obiektu, niemal identyczne tak-
¿e po przekadrowaniu.

Fotografuj¹c obiekt o œredniej jasnoœci obiektywem nieza-

le¿nym (Tokina) naœwietlenia równie¿ by³y prawid³owe
w ka¿dej z wymienionych wczeœniej sytuacji. Co ciekawe,
nawet przy bia³ym obiekcie rezultaty by³y analogiczne do
uzyskanych optyk¹ z pe³n¹ wymian¹ informacji! Czy¿by
wiêc profesjonalna Tokina AT-X AF 28-70 mm f/2.6-2.8 Pro
II, wyposa¿ona – jakby nie by³o – w oryginalny chip Cano-
na, przekazywa³a dane o odleg³oœci fotografowanego
obiektu?

B³ysk jako uzupe³niaj¹ce Ÿród³o œwiat³a

B³ysk uzupe³niaj¹cy (doœwietlaj¹cy) na ogó³ zawsze wywa-

¿ony by³ prawid³owo – zarówno przy jasnym, jak i ciemnym
tle. Wprowadzanie ewentualnych korekcji pozostawa³o je-
dynie kwesti¹ gustu fotografuj¹cego. Poziom doœwietlenia
praktycznie nie zale¿a³ od pozycji obiektu w kadrze, czy je-
go wielkoœci (u¿ytej ogniskowej).

Przy intensywnym (wielokrotnym i szybkim) fotografowaniu

tego samego obiektu – zarówno w pomieszczeniach, jak
i plenerze – balans bieli zachowywa³ siê rzeczywiœcie stabil-
nie. Jednak precyzja ekspozycji b³yskiem nie zawsze by³a
powtarzalna. To dziwne wobec zapewnieñ producenta, ale
jak najbardziej prawdziwe!

E-TTL II – naprawdê dobry!

E-TTL II rzeczywiœcie sprawuje siê lepiej w sytuacjach trud-

nych dla dotychczasowego E-TTLa. Przy przekadrowaniach
na ciemnym tle nie przeœwietla ju¿ pierwszego planu – nawet
przy optyce niezale¿nej. Przy b³ysku bezpoœrednim prawid³o-
wo te¿ naœwietla jasne obiekty. Daje wiêc wymarzone przez
wielu fotografuj¹cych lustrzankami Canona rezultaty. Tak¿e
uzupe³nianie b³yskiem œwiat³a ci¹g³ego jest na najwy¿szym
poziomie, ale do tego Canon nas ju¿ przyzwyczai³. Precyzja
pracy E-TTLa II z regu³y nie zale¿y od wielkoœci obiektu, choæ
czasami zdarza siê jej niepe³na powtarzalnoœæ. Natomiast ba-
lans bieli wydaje siê ca³kowicie stabilny. W sumie – E-TTL II
to naprawdê dobry, a byæ mo¿e nawet najlepszy z nowocze-
snych systemów pomiaru b³ysku.

J

Ja

arro

os

s³³a

aw

w M

Miik

ko

o³³a

ajjc

czzu

uk

k

Z

Za

a w

wy

yp

po

o¿¿y

yc

czze

en

niie

e s

sp

prrzzê

êttu

u d

do

o tte

es

sttu

u ((C

Ca

an

no

on

n E

EO

OS

S 2

20

0D

D,,

o

ob

biie

ek

ktty

yw

w C

Ca

an

no

on

n E

EF

F--S

S 1

10

0--2

22

2 m

mm

m ff//3

3..5

5--4

4..5

5 U

US

SM

M,, lla

am

mp

pa

a

b

b³³y

ys

sk

ko

ow

wa

a C

Ca

an

no

on

n S

Sp

pe

ee

ed

dlliitte

e 5

58

80

0E

EX

X)) d

dzziiê

êk

ku

ujje

em

my

y s

sk

klle

ep

po

ow

wii

iin

ntte

errn

ne

etto

ow

we

em

mu

u w

ww

ww

w..p

ps

sttrry

yk

k..p

pll..

Doœwietla³em z tej samej odleg³oœci, ale przy ró¿nych ogniskowych, a wiêc
przy ró¿nej wielkoœci obiektu w kadrze. Uzyska³em naturalny i wyrównany
efekt bez ingerencji w pracê automatyki E-TTL II – przynajmniej na pierw-
szych dwóch zdjêciach. Trzecie zdjêcie zdradza minimalnie zwiêkszony
udzia³ b³ysku, ale nadal naœwietlone jest prawid³owo (niektórzy mo¿e wole-
liby wprowadziæ tutaj korekcjê –1/2 EV).

Sprzêt: Canon EOS 20D + EF-S 10-22 mm f/3.5-4.5 USM + Speedlite 580EX.

O

Og

gn

niis

sk

ko

ow

wa

a:: 2

22

2 m

mm

m,, e

ek

ks

sp

po

ozzy

yc

cjja

a:: 1

1//2

25

50

0 s

s,, ff//8

8,, IIS

SO

O 4

40

00

0

O

Og

gn

niis

sk

ko

ow

wa

a:: 1

14

4 m

mm

m,, e

ek

ks

sp

po

ozzy

yc

cjja

a:: 1

1//3

35

50

0 s

s,, ff//8

8,, IIS

SO

O 4

40

00

0

O

Og

gn

niis

sk

ko

ow

wa

a:: 1

10

0 m

mm

m,, e

ek

ks

sp

po

ozzy

yc

cjja

a:: 1

1//5

50

00

0 s

s,, ff//8

8,, IIS

SO

O 4

40

00

0


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
5 Podstawy Metrologii systemy pomiarowe
PROGRAMOWANIE SYSTEMU POMIAROWEGO
etzi-zagadnienia do zaliczenia-2016, ELEKTRONIKA I TELEKOMUNIKACJA PRZ - systemy pomiarowe i diagnos
Miernictwo i systemy pomiarowe II LAB
Program Laboratorium Komputerowe systemy pomiarowe Gawędzki KSP
1. Podstawowe określenia. Jednostki miary, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- D
Systemy pomiarowe kolos 1 Wolszczak
systemy pomiarowe 2 kolos Wolszczak
szablon ćw.6, PWSZ Nowy Sącz, II semestr, METROLOGIA I SYSTEMY POMIAROWE, Metrologia
lab6, MECHATRONIKA 1 ROK PWSZ, SEMESTR II, Metrologia techniczna i systemy pomiarowe, Laborki
Techniki i systemy pomiarowe-III semestr', ZESTAWY, ZESTAW 1
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE 30 04 2012 Mech
KP1 POMIARY WYMIARÓW ZEWNĘTRZNCH, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- Daszyk
8. Klasyfikacja i właściwości metrologiczne narzędzi pomiarowyc, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo
Omówić konstrukcję przykładowych modułów pomiarowych stosowanych do budowy rozproszonych systemów po
ZIMK21 Miernictwo i systemy pomiarowe

więcej podobnych podstron