A Odon SYSTEMY POM W MECHATR Stacj VI sem kier Elektr PWSZ starsze 2013


Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa
im. Jana Amosa Komeńskiego w Lesznie
Instytut Politechniczny

KARTA MODUŁU KSZTAŁCENIA

I. Informacje ogólne

Nazwa modułu kształcenia (przedmiotu)

Systemy pomiarowe w mechatronice

Kod modułu kształcenia

???

Rodzaj modułu kształcenia (obowiązkowy lub wybieralny)

obowiązkowy

Rodzaj studiów

stacjonarne, I-go stopnia

Obszar kształcenia

Nauki techniczne

Kierunek studiów

Elektrotechnika

Specjalność

-

Profil kształcenia

praktyczny

Rok studiów

trzeci

Semestr

szósty

Rodzaj zajęć i liczba godzin dydaktycznych

30 w., 30 lab.

Liczba punktów ECTS

4 (sem. IV)

Tytuł/stopień naukowy, imię, nazwisko, adres e-mail wykładowcy (wykładowców)

Dr hab. inż. Andrzej Odon, prof. nadzw.

andrzej.odon@put.poznan.pl

mgr inż. Grzegorz Pilzak

pilzak@wp.pl

Wykładowy język

polski

II. Cel (cele) modułu kształcenia

Zapoznanie się z zagadnieniami statycznych i dynamicznych właściwości sensorów i przetworników pomiarowych, ich błędów przetwarzania, rejestracji i przetwarzania sygnałów zmiennych w czasie oraz zastosowania zaawansowanych systemów pomiarowych.

Opanowanie umiejętności właściwego doboru narzędzi pomiarowych dla realizacji zadań inżynierskich w zakresie statycznych i dynamicznych pomiarów wielkości elektrycznych i nieelektrycznych.

III. Wymagania wstępne w zakresie wiedzy, umiejętności oraz kompetencji społecznych

Podstawowa wiedza w zakresie matematyki, fizyki, podstaw elektrotechniki i metrologii. Umiejętność efektywnego samokształcenia w dziedzinie związanej z wybranym kierunkiem studiów.

IV. Efekty kształcenia

W zakresie wiedzy, umiejętności oraz kompetencji społecznych dla modułu kształcenia i odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów

Symbol

efektów

kształcenia

Po zakończeniu przedmiotu i potwierdzeniu osiągnięcia efektów kształcenia student:

Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów

???_W01

ma uporządkowaną wiedzę w zakresie opisu właściwości statycznych i dynamicznych przetworników pomiarowych

K_????

???_W02

Ma ogólną wiedzę w zakresie budowy, właściwości i zastosowań sensorów i elektronicznych analogowych i analogowo-cyfrowych przetworników pomiarowych

K_????

???_W03

Ma wiedzę pozwalającą na scharakteryzowanie podstawowych metod przetwarzania, kondycjonowania i rejestracji sygnałów toru pomiarowego z wykorzystaniem zaawansowanych cyfrowych elektronicznych technik przetwarzania sygnałów i systemów pomiarowych

K_????

???_U01

potrafi objaśnić metodologię badań właściwości statycznych i dynamicznych sensorów i przetworników pomiarowych oraz przeprowadzić samodzielnie badanie eksperymentalne mające na celu wyznaczenie statycznych i dynamicznych parametrów tych narzędzi pomiarowych

K_????

???_U02

potrafi zaplanować i przeprowadzić proste pomiarowe zadanie inżynierskie z wykorzystaniem zaawansowanych technik pomiarowych do rejestracji i przetwarzania sygnałów toru pomiarowego

K_????

V. Treści kształcenia

Symbol treści kształcenia

Opis treści kształcenia

Odniesienie do efektów kształcenia modułu

TK_01

Podstawowe pojęcia dotyczące błędów i niepewności pomiarów. Wybrane zagadnienia przetwarzania niezniekształcającego -  właściwości statyczne i dynamiczne sensorów i przetworników pomiarowych. Dopasowanie przetworników w torze pomiarowym.

???_W01

TK_02

Analogowe elementy sprzętowe systemów pomiarowych - sensory, analogowe przetworniki pomiarowe, układy kondycjonowania sygnałów toru pomiarowego,

???_W02

TK_03

Cyfrowe przetwarzanie sygnałów ciągłych - próbkowanie, zjawisko aliasingu, kwantowanie, kodowanie, błędy kwantowania, dokładność pomiaru. Elementy sprzętowe techniki przetwarzania cyfrowego - komparatory, układy próbkująco-pamiętające, przetworniki impulsowo-czasowe, przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe.

???_W03

TK_04

Zastosowanie zaawansowanych technik pomiarowych do wizualizacji, rejestracji i pomiarów sygnałów oraz akwizycji i przetwarzania danych - rejestratory cyfrowe i oscyloskopy cyfrowe, karty pomiarowe, przegląd interfejsów, oprogramowanie elementów systemów pomiarowych (LabView, DasyLab

???_W03

TK_05

Dot. treści ćw. lab.: badanie właściwości dynamicznych i statycznych sensorów do pomiaru temperatury, przemieszczeń i parametrów promieniowania i wybranych elementów układu kondycjonowania sygnału (wzmacniacze pomiarowe, przetworniki wartości średniej i szczytowej, filtry aktywne)

E??_U01 E??_U02

TK_06

Dot. treści ćw. lab.: badanie właściwości elektronicznych (analogowych i analogowo-cyfrowych) przetworników sygnałów. Zastosowanie zaawansowanych technik pomiarowych do rejestracji i pomiarów zmiennych w czasie wielkości nieelektrycznych i elektrycznych - oscyloskop cyfrowy, karty pomiarowe.

E??_U01

E??_U02

VI. Zalecana literatura

  1. M. Gruca, J. Grzelka, M. Pyrc, S. Szwaja, W. Tutak, Miernictwo i systemy pomiarowe, Częstochowa 2008

  2. W. Nawrocki, Komputerowe systemy pomiarowe, WKŁ 2002

  3. A. Chwaleba, M Poniński, A. Siedlecki - Metrologia elektryczna, WNT, Warszawa, 2010.

  4. A. Cysewska-Sobusiak - Podstawy Metrologii i inżynierii pomiarowej, Wyd. Politechniki Poznańskiej, 2010.

  5. J. Dusza, G. Gortat, A. Leśniewski, Podstawy miernictwa, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2002.

  6. J. Rydzewski, Pomiary oscyloskopowe, WNT, Warszawa, 2007.

  7. S. Tumański - Technika pomiarowa, WNT 2007.

  8. A. Zatorski, R. Sroka - Podstawy metrologii elektrycznej, Wyd. AGH, Kraków, 2011.

  9. J. Grzelka, E. Mazur, M. Gruca, W. Tutak - Miernictwo i systemy pomiarowe - laboratorium, WPC, Częstochowa, 2004

  10. J. Zakrzewski , Czujniki i przetworniki pomiarowe. WPŚl. Gliwice 2004.

VII. Odniesienie efektów kształcenia i treści kształcenia do sposobów prowadzenia zajęć i metod oceniania

Symbol efektu kształcenia dla modułu

Symbol treści kształcenia realizowanych w trakcie zajęć#

Sposoby prowadzenia zajęć umożliwiające osiągnięcie założonych efektów kształcenia

Metody oceniania stopnia osiągnięcia założonego efektu kształcenia&

E??/?_W01

E??/?_W02

E??/?_W03

E??/?_W03

TK_01

TK_02

TK_03

TK_04

Wykład w formie tradycyjnej z wykorzystaniem technik multimedialnych ilustrujących treści poszczególnych tematów

Egzamin pisemno-ustny (pytania testowe, rachunkowe i problemowe)

E??/?_U01 E??/?_U02

TK_05, TK_06

TK_05, TK_06

Ćwiczenia laboratoryjne z podziałem na kikuosobowe zespoły realizujące odrębne zadania badawcze

systematyczne ocenianie przygotowania i umiejętności w realizacji zadań laboratoryjnych

VIII. Obciążenie pracą studenta

Forma aktywności

Średnia liczba godzin na zrealizowanie aktywności

Godziny zajęć (wg planu studiów) z nauczycielem

60 h

Praca własna studenta

10 h - przygotowanie do zajęć

Praca własna studenta

7 h - opracowanie wyników

Praca własna studenta

8 h - napisanie raportu z zajęć

Praca własna studenta

15 h - przygotowanie do egzaminu

SUMA GODZIN

100 h

IX. Kryteria oceniania

Wykład:

Ocena końcowa według następujących kryteriów:

. 5,0 - student uzyskał powyżej 90 % punktów z egzaminu pisemnego,

4,5 - student uzyskał od 80 % do 90 % punktów z egzaminu pisemnego,

4,0 - student uzyskał od 70 % do 80 % punktów z egzaminu pisemnego,

3,5 - student uzyskał od 60 % do 70 % punktów z egzaminu pisemnego,

3,0 - student uzyskał od 50 % do 60 % punktów z egzaminu pisemnego,

2,0 - student uzyskał poniżej 50 % punktów z egzaminu pisemnego.

Dodatkowe kryteria oceniania wykładów: możliwość uzyskania dodatkowych punktów w wyniku premiowania obecności i aktywności na wykładach oraz premiowania w oparciu o ocenę uzyskaną z ćwiczeń laboratoryjnych

Ćwiczenia laboratoryjne:

Kryteria oceny:

4



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
~$ Odon SYSTEMY POM W MECHATR Stacj VI sem kier Elektr PWSZ 2013
A Odon SYSTEMY POM W MECHATR Stacj VI sem Elektr specj Elektromechatr PWSZ 2013
A Odon METROLOGIA stacj kier Elektr PWSZ 2013
Lista Projekt VI sem. KBI kon. met. specjalne 2013, KBiI
A Odon ANKIETA EWAL SYSTEMY POMIAR W MECHATR VI sem ST
2 stronnicowy opis, Mechatronika, Semestr VI, Budowa i eksploatacja systemów mechatronicznych
w 13 III rok VI sem
Pytania ze sprawdzianow z satki, gik VI sem, GiK VI, SAT, kolos 1GS
SIP-autostrada, gik VI sem, GiK VI, SIP, przodki SIP, SIP 3
Funkcjonowanie klasycznego systemu MRP, Materiały dla ZiP, sem III
9. Protokół przyjęcia granic, gik VI sem, GiK VI, GOG, gog od doroty, podział operat, podział operat
pwsz kalisz Metody oznaczania mikroorganizmów w powietrzu, inżynieria ochrony środowiska kalisz, a p
5 - Protokol badania KW, gik VI sem, GiK VI, GOG, cw2, podział dokumenty
1416220502. Wprowadzenie do Mechatroniki dzienne new new, SIMR Mechatronika, 2 rok, 2 rok 3 sem, Wpr
testy, Budownictwo, VI sem MiBP, od natali VI sem, INSTALACJE BUDOWLANE, materiały na zaliczenie Bag
PROTOKÓŁ GRANICZNY, gik VI sem, GiK VI, GOG, Michał Kamiński, dokumenty cwiczenie 1
System polit UG stacj 09

więcej podobnych podstron