Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa
im. Jana Amosa Komeńskiego w Lesznie
Instytut Politechniczny
KARTA MODUŁU KSZTAŁCENIA
I. Informacje ogólne
Nazwa modułu kształcenia (przedmiotu) |
Systemy pomiarowe w mechatronice |
Kod modułu kształcenia |
??? |
Rodzaj modułu kształcenia (obowiązkowy lub wybieralny) |
obowiązkowy |
Rodzaj studiów |
stacjonarne, I-go stopnia |
Obszar kształcenia |
Nauki techniczne |
Kierunek studiów |
Elektrotechnika |
Specjalność |
- |
Profil kształcenia |
praktyczny |
Rok studiów |
trzeci |
Semestr |
szósty |
Rodzaj zajęć i liczba godzin dydaktycznych |
30 w., 30 lab. |
Liczba punktów ECTS |
4 (sem. IV) |
Tytuł/stopień naukowy, imię, nazwisko, adres e-mail wykładowcy (wykładowców) |
Dr hab. inż. Andrzej Odon, prof. nadzw. andrzej.odon@put.poznan.pl mgr inż. Grzegorz Pilzak pilzak@wp.pl |
Wykładowy język |
polski |
II. Cel (cele) modułu kształcenia
Zapoznanie się z zagadnieniami statycznych i dynamicznych właściwości sensorów i przetworników pomiarowych, ich błędów przetwarzania, rejestracji i przetwarzania sygnałów zmiennych w czasie oraz zastosowania zaawansowanych systemów pomiarowych.
Opanowanie umiejętności właściwego doboru narzędzi pomiarowych dla realizacji zadań inżynierskich w zakresie statycznych i dynamicznych pomiarów wielkości elektrycznych i nieelektrycznych.
III. Wymagania wstępne w zakresie wiedzy, umiejętności oraz kompetencji społecznych
Podstawowa wiedza w zakresie matematyki, fizyki, podstaw elektrotechniki i metrologii. Umiejętność efektywnego samokształcenia w dziedzinie związanej z wybranym kierunkiem studiów.
IV. Efekty kształcenia
W zakresie wiedzy, umiejętności oraz kompetencji społecznych dla modułu kształcenia i odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów
Symbol efektów kształcenia |
Po zakończeniu przedmiotu i potwierdzeniu osiągnięcia efektów kształcenia student: |
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów |
???_W01 |
ma uporządkowaną wiedzę w zakresie opisu właściwości statycznych i dynamicznych przetworników pomiarowych |
K_???? |
???_W02 |
Ma ogólną wiedzę w zakresie budowy, właściwości i zastosowań sensorów i elektronicznych analogowych i analogowo-cyfrowych przetworników pomiarowych |
K_???? |
???_W03 |
Ma wiedzę pozwalającą na scharakteryzowanie podstawowych metod przetwarzania, kondycjonowania i rejestracji sygnałów toru pomiarowego z wykorzystaniem zaawansowanych cyfrowych elektronicznych technik przetwarzania sygnałów i systemów pomiarowych |
K_???? |
???_U01 |
potrafi objaśnić metodologię badań właściwości statycznych i dynamicznych sensorów i przetworników pomiarowych oraz przeprowadzić samodzielnie badanie eksperymentalne mające na celu wyznaczenie statycznych i dynamicznych parametrów tych narzędzi pomiarowych |
K_???? |
???_U02 |
potrafi zaplanować i przeprowadzić proste pomiarowe zadanie inżynierskie z wykorzystaniem zaawansowanych technik pomiarowych do rejestracji i przetwarzania sygnałów toru pomiarowego |
K_???? |
V. Treści kształcenia
Symbol treści kształcenia |
Opis treści kształcenia |
Odniesienie do efektów kształcenia modułu |
TK_01 |
Podstawowe pojęcia dotyczące błędów i niepewności pomiarów. Wybrane zagadnienia przetwarzania niezniekształcającego - właściwości statyczne i dynamiczne sensorów i przetworników pomiarowych. Dopasowanie przetworników w torze pomiarowym. |
???_W01 |
TK_02 |
Analogowe elementy sprzętowe systemów pomiarowych - sensory, analogowe przetworniki pomiarowe, układy kondycjonowania sygnałów toru pomiarowego, |
???_W02 |
TK_03 |
Cyfrowe przetwarzanie sygnałów ciągłych - próbkowanie, zjawisko aliasingu, kwantowanie, kodowanie, błędy kwantowania, dokładność pomiaru. Elementy sprzętowe techniki przetwarzania cyfrowego - komparatory, układy próbkująco-pamiętające, przetworniki impulsowo-czasowe, przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe. |
???_W03 |
TK_04 |
Zastosowanie zaawansowanych technik pomiarowych do wizualizacji, rejestracji i pomiarów sygnałów oraz akwizycji i przetwarzania danych - rejestratory cyfrowe i oscyloskopy cyfrowe, karty pomiarowe, przegląd interfejsów, oprogramowanie elementów systemów pomiarowych (LabView, DasyLab |
???_W03 |
TK_05 |
Dot. treści ćw. lab.: badanie właściwości dynamicznych i statycznych sensorów do pomiaru temperatury, przemieszczeń i parametrów promieniowania i wybranych elementów układu kondycjonowania sygnału (wzmacniacze pomiarowe, przetworniki wartości średniej i szczytowej, filtry aktywne) |
E??_U01 E??_U02 |
TK_06 |
Dot. treści ćw. lab.: badanie właściwości elektronicznych (analogowych i analogowo-cyfrowych) przetworników sygnałów. Zastosowanie zaawansowanych technik pomiarowych do rejestracji i pomiarów zmiennych w czasie wielkości nieelektrycznych i elektrycznych - oscyloskop cyfrowy, karty pomiarowe. |
E??_U01 E??_U02 |
VI. Zalecana literatura
M. Gruca, J. Grzelka, M. Pyrc, S. Szwaja, W. Tutak, Miernictwo i systemy pomiarowe, Częstochowa 2008
W. Nawrocki, Komputerowe systemy pomiarowe, WKŁ 2002
A. Chwaleba, M Poniński, A. Siedlecki - Metrologia elektryczna, WNT, Warszawa, 2010.
A. Cysewska-Sobusiak - Podstawy Metrologii i inżynierii pomiarowej, Wyd. Politechniki Poznańskiej, 2010.
J. Dusza, G. Gortat, A. Leśniewski, Podstawy miernictwa, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2002.
J. Rydzewski, Pomiary oscyloskopowe, WNT, Warszawa, 2007.
S. Tumański - Technika pomiarowa, WNT 2007.
A. Zatorski, R. Sroka - Podstawy metrologii elektrycznej, Wyd. AGH, Kraków, 2011.
J. Grzelka, E. Mazur, M. Gruca, W. Tutak - Miernictwo i systemy pomiarowe - laboratorium, WPC, Częstochowa, 2004
J. Zakrzewski , Czujniki i przetworniki pomiarowe. WPŚl. Gliwice 2004.
VII. Odniesienie efektów kształcenia i treści kształcenia do sposobów prowadzenia zajęć i metod oceniania
Symbol efektu kształcenia dla modułu |
Symbol treści kształcenia realizowanych w trakcie zajęć# |
Sposoby prowadzenia zajęć umożliwiające osiągnięcie założonych efektów kształcenia |
Metody oceniania stopnia osiągnięcia założonego efektu kształcenia& |
E??/?_W01 E??/?_W02 E??/?_W03 E??/?_W03 |
TK_01 TK_02 TK_03 TK_04 |
Wykład w formie tradycyjnej z wykorzystaniem technik multimedialnych ilustrujących treści poszczególnych tematów |
Egzamin pisemno-ustny (pytania testowe, rachunkowe i problemowe) |
E??/?_U01 E??/?_U02 |
TK_05, TK_06 TK_05, TK_06 |
Ćwiczenia laboratoryjne z podziałem na kikuosobowe zespoły realizujące odrębne zadania badawcze |
systematyczne ocenianie przygotowania i umiejętności w realizacji zadań laboratoryjnych |
VIII. Obciążenie pracą studenta
Forma aktywności |
Średnia liczba godzin na zrealizowanie aktywności |
Godziny zajęć (wg planu studiów) z nauczycielem |
60 h |
Praca własna studenta |
10 h - przygotowanie do zajęć |
Praca własna studenta |
7 h - opracowanie wyników |
Praca własna studenta |
8 h - napisanie raportu z zajęć |
Praca własna studenta |
15 h - przygotowanie do egzaminu |
SUMA GODZIN |
100 h |
IX. Kryteria oceniania
Wykład:
Ocena końcowa według następujących kryteriów:
. 5,0 - student uzyskał powyżej 90 % punktów z egzaminu pisemnego,
4,5 - student uzyskał od 80 % do 90 % punktów z egzaminu pisemnego,
4,0 - student uzyskał od 70 % do 80 % punktów z egzaminu pisemnego,
3,5 - student uzyskał od 60 % do 70 % punktów z egzaminu pisemnego,
3,0 - student uzyskał od 50 % do 60 % punktów z egzaminu pisemnego,
2,0 - student uzyskał poniżej 50 % punktów z egzaminu pisemnego.
Dodatkowe kryteria oceniania wykładów: możliwość uzyskania dodatkowych punktów w wyniku premiowania obecności i aktywności na wykładach oraz premiowania w oparciu o ocenę uzyskaną z ćwiczeń laboratoryjnych
Ćwiczenia laboratoryjne:
Kryteria oceny:
wiedza ogólna z zakresu miernictwa i systemów pomiarowych niezbędna do realizacji postawionych problemów w obszarze zadań laboratoryjnych,
wiedza i umiejętności związane z realizacją konkretnego zadania ćwiczeniowego, ocena sprawozdania z wykonanego ćwiczenia,
4