F302, 302


302

12.10.94

Mikołaj Dolata

Elektryczny

sem.III

Grupa I 3 lab.1

DR

WANDA POLEWSKA

TEMAT: WYZNACZANIE STAŁEJ SIATKI DYFRAKCYJNEJ.

1.Teoretyczne przygotowanie do ćwiczeń - najważniejsze wzory:

Światło jest falą elektromagnetyczną.W zjawiskach optycznych decydującą rolę odgrywa wektor natężenia pola elektrycznego E,zwany w skrócie wektorem elektrycznym.Do opisania fali świetlnej wystarcza określenie tego wektora w funkcji czasu i współrzędnych przestrzennych.Zachowanie się wektora elektrycznego fali biegnącej w kierunku osi x opisuje funkcja falowa :

Interferencja. Polega na nakładaniu się dwóch lub większej ilości fal.Warunki interferencji możemy wyrazić zarówno przez różnicę faz, jak i przez różnicę dróg :

warunek maksimum

warunek minimum

Koherencja.Interferencja zachodzi dla dowolnych fal, jednakże stały w czasie obraz interferencyjny można zaobserwować tylko wtedy , gdy nakładają się fale spójne (koherentne), tzn .takie, które posiadają różnicę faz nie zmieniającą się w czasie.

Dyfrakcja (ugięcie).Odchylenie od prostoliniowości rozchodzenia się fal zachodzące na krawędziach wąskich ( w porównaniu z dlugością fali ) szczelin lub przesłon.

Obraz dyfrakcyjny.Układ szerokich prążków na przemian jasnych i ciemnych.Jest on wynikiem superpozycji fal elementarnych wychodzących z różnych fragmentów szczeliny.Centralne maksimum występuje na przedłużeniu kierunku fal padających, czyli dla kąta , natomiast położenie kolejnych minimów dyfrakcyjnych określone jest związkiem :

a-szerokość szczeliny

Maksima interferencyjne.Występują w punktach ekranu, dla których różnica dróg jest wielokrotnością długości fali.Położenie maksimów interferencyjnych określa związek :

(m=1,2,3....).

Siatka dyfrakcyjna.Układ szczelin wzajemnie równoległych i leżących w równych odległościach.Szerokość szczelin jest rzędu długości fali.

Zwiększenie liczby szczelin od dwóch do n nie zmienia położenia maksimów interferencyjnych , lecz powoduje zmiany ich kształtu.Mianowicie, ze wzrostem liczby szczelin maleje szerokość maksimów głównych i pojawia się (n-2) maksimów wtórnych, których natężenie jest bardzo małe.Szerokość kątowa maksimum głównego wyraża się wzorem :

gdzie oznacza kąt występowania maksimum rzędu m.

Zdolność rozdzielcza. Def:

gdzie jest średnią długością fali dwóch linii widmowych ledwie rozróżnialnych , a jest różnicą długości fal między nimi.

2.Metoda pomiarowa.

a)wymagany sprzęt : lampa sodowa

lunetka

spektrometr

siatka dyfrakcyjna

b)przebieg ćwiczenia :

-znalezienie prążka zerowego rzędu

-odczytanie położenia prążków wyższych rzędów po lewej i po prawej stronie.

-znaleźć kąty ugięcia dla każdego rzędu.

-obliczyć z tych danych stałą siatki dla każdego pomiaru osobno i wartość średnią.

-założenie : znamy dla światła sodowego.

C)tabela pomiarów : wzór podstawowy

sin

m

d =

15120' = 0

-

5896

0

-

1.

15754' = 6.57

0.114417006

5896

1

51530.80129

20.497

2.

16430' = 13.17

0.227841074

5896

2

51755.37401

245.07

15115' = 0

-

5896

0

-

3.

15754' = 6.65

0.115803987

5896

1

50913.61837

- 596.686

4.

16408' = 12.883

0.222960888

5896

2

52888.19984

1377.895

15650' = 0

-

5896

0

-

5.

15028' = 6.366

0.110879198

5896

1

53174.98779

1664.683

6.

14335' = 13.25

0.22920039

5896

2

51448.42904

- 61.875

15129' = 0

-

5896

0

-

7.

14441' = 6.8

0.118403968

5896

1

49795.62847

- 1714.676

8.

13800' = 13.483

0.233156845

5896

2

50575.39700

- 934.91535

WART.ŚREDNIA

BŁ. ŚR. KWAD. ŚRED. ARYTM.

SUROWY WYNIK KOŃCOWY

WYNIK KOŃCOWY DLA ŚREDNIEJ

1.

51510.304

1055.0039

51510.304+1055.0039

515111056

WYNIK KOŃCOWY : (52011)10-8m.

WNIOSKI:

Na podstawie zaobserwowanyego zjawiska dyfrakcji można powiedzieć ,że światło jest falą.Podstawą tego stwierdzenia jest zasada Huyghensa mówiąca ,że każdy punkt, do którego dochodzi fala, staje się źródłem nowej fali kulistej.

4



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
302 Wyznaczanie stałej siatki dyfrakcyjnej
III CSK 302 07 1 id 210245 Nieznany
302 Fiza, studia
302 Wyznaczanie stałej siatki dyfrakcyjnej
Wyznaczanie ogniskowych soczewek ze wzoru soczewkowego oraz metodą Bessela, LAB F303, 302
MPLP 302;303 06.01.2011;18.01.2011
303 3, 302
302 Ustawa o zawodzie felczera
302 303
hummer 302 2010
Lab fiz 302, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, Fizyka, laborki fiza, wszystkie laboratoria z
terminy zajec IBM 302-zima11
303 08, 302
sprawozdania - edytowalne, sprawozdanie 302 moje stała siatki, 302
302
20id 302

więcej podobnych podstron