Canon system pomiaru b�ą‚ysku


sprzęt
E-TTL II
nowoczesny system pomiaru błysku Canona
Problemy E-TTLa
Dotychczasowy zaawansowany pomiar błysku Canona 
E-TTL, podobnie jak canonowski 21-polowy pomiar Swiatła
ciągłego, był silnie powiązany z aktywnym polem autofokusa.
Odpowiadało to założeniu, że w trakcie ekspozycji pole to po-
krywa główny obiekt. Nie zawsze jednak tak było  po wybra-
niu do ostrzenia pola centralnego, często po nastawieniu
ostroSci kadr był zmieniany. Aktywne pole autofokusa mogło
wtedy znalexć się na odległym, wymagającym silnego na-
Swietlenia tle (poziom oSwietlenia błyskiem spada wraz
z kwadratem odległoSci), czego skutkiem było przeSwietlenie
wyostrzonego planu. Poza tym, gdy pomiar Swiatła powiąza-
ny był z aktywnym polem autofokusa, na ekspozycję wpływa-
ła jasnoSć kadru w miejscu, na które nastawiona została
ostroSć. Nawet jeżeli ujęcie nie zostało przekadrowane, ale
wyostrzyliSmy na ciemny obiekt, także otrzymywaliSmy prze-
Swietlone zdjęcie.
Z sytuacją, gdy na ekspozycję wpływa niekorzystnie ja-
snoSć fragmentu kadru, który pokrywał się z aktywnym polem
(czy polami) autofokusa, mieliSmy najczęSciej do czynienia
przy fotografowaniu z automatycznym wyborem tego pola.
Automatyka zawsze poszukiwała obszarów jak najbardziej dla
niej czytelnych, które z reguły były właSnie kontrastowe i... ja-
sne. Takie powiązanie ekspozycji z jasnymi (białymi) elemen-
tami obrazu, często nawet mało ważnymi dla całego zdjęcia,
powodowało jego niedoSwietlenie.
Ekstremalnie niepokojąca sytuacja występowała wtedy,
gdy obydwa czynniki fałszujące prawidłowy dobór ekspozycji
 odległoSć tła i jego jasnoSć  nakładały się na siebie. Jeżeli
na przykład po przekadrowaniu aktywne pole autofokusa wy-
padało na odległym tle, które do tego było ciemne, pierwszy
plan był naprawdę potężnie przeSwietlony! Przed błędami te-
go rodzaju można było się ustrzec ręcznie wyzwalając przed-
błysk pomiarowy (FEL), ale i on wymagał obiektu o Sredniej ja-
snoSci. W rozwiązaniu tych problemów mógł więc pomóc je-
dynie nowy algorytm pomiaru Swiatła.
Przez kilka ostatnich lat canonowski E-TTL był naj-
bardziej wszechstronnym ze znanych systemów Jak działa E-TTL II?
pomiaru błysku. Pracował w pełnej wersji w prze-
różnych konfiguracjach i dawał precyzyjne naSwie- Chcąc ostatecznie usunąć niedociągnięcia automatyki E-TTL,
tlenia. Tylko czasami zdarzały mu się  wpadki , cze- Canon zrezygnował ze swego podstawowego (dla wyznacza-
go nie można było powiedzieć o mało uniwersal- nia ekspozycji) założenia  Scisłego powiązania pomiaru Swia-
nym, ale za to korzystającym z informacji o odległo- tła z aktywnym polem autofokusa. Nowemu algorytmowi wy-
Sci, konkurencyjnym systemie Nikona. Aby zwięk- znaczył zadanie bezpoSredniego wykrycia w kadrze fotografo-
szyć precyzję naSwietlania w  trudnych sytu- wanego obiektu i przyłożenia właSnie do niego największej
acjach, Canon musiał udoskonalić algorytm pomia- wagi przy ustalaniu ekspozycji błyskiem. W trudnych sytu-
ru Swiatła. I udoskonalił  rok temu, wraz z cyfro- acjach pomiar dodatkowo wspiera  przekazywana z odpo-
wym EOSem-1D Mark II, zaprezentował nową au- wiedniego obiektywu  informacja o odległoSci. Cała procedu-
tomatykę błysku E-TTL II. ra wygląda tak:
48
" Po naciSnięciu spustu migawki do końca, ale jeszcze przed
"
emisją przedbłysku pomiarowego, wielosegmentowa ma-
tryca dokonuje pomiaru Swiatła zastanego (ciągłego).
" Następnie emitowany jest przedbłysk i ta sama matryca
"
mierzy poziom Swiatła błyskowego w każdym ze swych
segmentów pomiarowych.
" Teraz następuje ważna częSć procedury   wskazanie
"
obiektu. Wyniki pomiarów Swiatła zastanego, oraz przedbły-
sku, dla każdego z segmentów matrycy, zostają ze sobą po-
równane. Segmenty pokrywające obiekt wykazują dużą róż-
nicę pomiędzy obydwoma pomiarami, ponieważ odbity od
blisko położonego obiektu przedbłysk jest intensywny, a po-
ziom Swiatła zastanego  niski (na przykład w pomieszcze-
niach). Odwrotnie jest w przypadku oddalonego tła  tu od-
bite Swiatło przedbłysku jest słabe, więc różnica obydwu
pomiarów  mała. Zatem segmenty matrycy wykazujące
dużą różnicę pomiędzy odczytami dla Swiatła zastanego
i przedbłysku z dużym prawdopodobieństwem wskazują
obiekt. To one właSnie zostają wybrane do okreSlenia pozio-
mu naSwietlenia błyskiem.
Canon Speedlite 580EX to lampa o znacznie lepszej  w stosunku do po-
przedniczki Speedlite a 550EX  ergonomii. Łatwiej operujemy przyciska-
mi, a tylko jeden z nich wystarcza do aktywacji trybów synchronizacji bły-
sku z super-krótkimi ekspozycjami i na drugą zasłonkę migawki. WartoSci
poszczególnych parametrów wygodnie i szybko dobieramy pokrętłem, któ-
rego centralny przycisk służy do wyboru funkcji, czy parametrów, oraz do
zatwierdzania ich wartoSci (odpowiada poprzedniemu przyciskowi
SEL/SET). Lampa automatycznie może też dostosowywać zoom palnika do
efektywnego kąta widzenia obiektywu (nowy symbol w prawym, górnym
roku wySwietlacza LCD). Głowica lampy nie ma już blokady ruchów w po-
ziomie. PoprawnoSć ekspozycji wskazuje teraz podłużna dioda, znajdująca
się poniżej lampki testowej, a włączona lampa zawsze pracuje w trybie
oszczędnoSci energii (brak trzeciej pozycji włącznika).
49
Canon Speedlite 580EX
Najnowsza topowa lampa błyskowa Canona  Speedlite 580EX  opracowana zo-
stała na bazie poprzedniego modelu flagowego (Speedlite 550EX), ze specjalnym
uwzględnieniem potrzeb lustrzanek cyfrowych. Wprowadzono w niej też kilka spraw-
dzonych już rozwiązań z lamp konkurencyjnych. Speedlite 580EX ma liczbę przewod-
nią 58 (105 mm, ISO 100, m) i kryje Swiatłem pole widzenia obiektywów już od 14
mm (z wbudowanym dyfuzorem). Zoom palnika pracuje w dotychczasowym zakresie
24-105 mm, ale automatycznie dostosowuje kąt Swiecenia do trzech rozmiarów ma-
tryc stosowanych w lustrzankach Canona (pełna klatka, o krotnoSci 1.3x i 1.6x).
Oszczędza to energię i daje szybszą gotowoSć do następnego błysku, chociaż nomi-
nalny czas ładowania nowego flesza także został skrócony  o 25%. Speedlite 580EX
przekazuje do korpusu cyfrowej lustrzanki informacje o temperaturze barwowej emi-
towanego Swiatła, z których korzysta system balansu bieli (automatyka lub nastawie-
nie predefiniowane błysku).
OczywiScie Speedlite 580EX współpracuje również z analogowymi lustrzankami Cano-
na  realizowane są wówczas pomiary E-TTL II, E-TTL i TTL. Dostępna jest między inny-
mi synchronizacja z początkiem i końcem otwarcia migawki, synchronizacja z super-
-krótkimi czasami ekspozycji, autobraketing i korekcja błysku (mogą być łączone). Także
stroboskop  do 199 Hz, oraz tryb ręczny z redukcją energii co 1/3 EV  to nowoSć w lam-
pach Canona (redukcja w dół do 1/128). Zwiększona została powtarzalnoSć błysków  te-
raz tolerancja wynosi tylko +/ 0.3 EV.
Speedlite 580EX steruje bezprzewodowo błyskiem innych fleszy serii EX, może też
pracować jako lampa podporządkowana. System wspomagania autofokusa jest oczy-
wiScie kompatybilny ze wszystkimi polami dowolnego EOSa, także dziewięcioma no-
wego EOSa 20D.
Dużą zaletą Speedlite a 580EX jest jego uproszczona obsługa. Głowica lampy  teraz zaopatrzona we wbudowany
biały ekranik  wykonuje wszystkie podstawowe ruchy, ale w poziomie obraca się o 180 stopni zarówno w lewo, jak
i prawo. Ruchy głowicy blokowane są wygodnie i szybko tylko jednym przyciskiem. Ergonomię lampy poprawia też po-
pularne w rozwiązaniach konkurencyjnych pokrętło, oraz łatwiej obsługiwane przyciski.
Wraz ze Speedlitem 580EX pojawiły się nowe akcesoria  zasilacz bateryjny CP-E3, oraz wysięgnik SB-E1. Speedli-
te 580EX ma już 14 funkcji indywidualnych, jest węższy, zgrabniejszy i lżejszy od poprzednika. Jego wymiary wynoszą
76 x 134 x 114 mm, masa  375 g (bez baterii), a cena  499 euro.
" W tak wyselekcjonowanych segmentach odczyt przedbły-
"
sku zostaje odpowiednio  wyważony i uSredniony  tu
tkwi cała tajemnica nowego systemu. Póxniej jest jeszcze
porównywany z pomiarem Swiatła zastanego. W końcu zo-
staje ustalona  i wprowadzona do pamięci systemu  ener-
gia błysku zasadniczego.
" Na koniec wyzwalana jest migawka przy odmierzonej  jesz-
"
cze przed ekspozycją  iloSci Swiatła błyskowego, a cała
opisana procedura zajmuje drobny ułamek sekundy!
Zalety nowego algorytmu pomiaru błysku
Nowego systemu nie zmyli już przekadrowanie po wy-
ostrzeniu, co w aspekcie opisanej procedury jest chyba zrozu-
miałe. Nie powinna go też zmylić jasnoSć obiektu, bo różnice
pomiędzy dokonanymi z niego pomiarami Swiatła zastanego
i przedbłysku będą i tak stosunkowo duże. Przy pomiarach na
odległe tło różnice te są istotnie większe. Obiekt więc zosta-
nie wskazany prawidłowo, a system odpowiednio  wyważy
i uSredni odczyt przedbłysku. Może przy tym skorzystać z od-
czytów dla pozostałych obiektów znajdujących się w identycz-
nej, co obiekt główny odległoSci, czy też  w końcu  z prze-
kazywanej z obiektywu informacji o odległoSci. A więc bez
względu na położenie obiektu w kadrze, jego wielkoSć, czy
też jasnoSć, wyznaczona energia błysku nie powinna zmienić
się radykalnie, dając dużą dokładnoSć, a także powtarzalnoSć
Wzorem zaawansowanych fleszy Nikona, energię błysku w ma- ekspozycji.
nualu w canonowskiej lampie Speedlite 580EX dobieramy
Jeżeli natomiast niektóre segmenty matrycy wykażą eks-
z drobnym krokiem 1/3 EV, a po wyciągnięciu dyfuzora kąt roz-
tremalnie dużą różnicę pomiędzy pomiarami Swiatła zastane-
syłu Swiatła pokrywa już pole widzenia obiektywu małoobrazko-
wego o ogniskowej 14 mm.
go i przedbłysku, oznacza to, że prawdopodobnie pokrywają
50
obiekt o wyjątkowo wysokim współczynniku odbicia Swiatła,
na przykład wykonany ze szkła. System zignoruje je, o ile nie
pokrywają się z wyznaczonym obiektem, lub też skoryguje od-
czyt przedbłysku do niskiego poziomu tak, aby uniknąć niedo-
Swietlenia. Z reguły dopiero w nietypowych sytuacjach tego
rodzaju E-TTL II korzysta z informacji o odległoSci. Pochodzi
ona z pokrywającego obiekt aktywnego pola autofokusa
i istotnie wspomaga pracę systemu.
Korzystanie z E-TTLa II
System pomiaru błysku E-TTL II zastosowany został we
wszystkich lustrzankach Canona wprowadzonych po
EOSie-1D Mark II, a więc cyfrowych Canonach EOS-1Ds
Mark II, EOS 20D i EOS 350D, oraz analogowych  EOS
30V Date/33V i EOS 300x. E-TTL II  tak jak jego poprzed-
nia wersja  realizowany jest przy współpracy ze wszystki-
mi lampami serii EX, w tym obecnie topową Canon Speedli-
te 580EX. Natomiast informację o odległoSci przenoszą do
korpusu głównie oryginalne obiektywy wyposażone w pier-
Scieniowy silnik USM (praktycznie wszystkie obecnie do-
stępne modele optyki zaawansowanej i profesjonalnej),
oraz EF 50 mm f/1.4 USM, MP-E 65 mm f/2.8, EF 28-105 mm
f/4-5.6 USM, EF 28-105 mm f/ 4-5.6 DC, EF 90-300 mm f/4.5-
5.6 USM, EF 90-300 mm f/4.5-5.6 DC i EF 28-200 mm f/3.5-
5.6 USM. O optyce niezależnej Canon oczywiScie nie wspo-
mina...
Test E-TTLa II w  trudnych sytuacjach
Celem testu nowego systemu pomiaru błysku Canona 
E-TTL II było sprawdzenie precyzji naSwietlania w sytu-
acjach kłopotliwych dla dotychczasowego E-TTLa. Badałem
ekspozycję przy użyciu lampy obiektu o Sredniej jasnoSci
przy przekadrowaniu ujęcia na odległe, ciemne tło w sytu-
acji, gdy oSwietlenie zastane było znikome. OkreSlałem też
ekspozycję w tych samych warunkach obiektu jasnego (bia-
łego). Ponadto sprawdziłem, czy naSwietlenia błyskiem tych
motywów zależą od ich wielkoSci (użytej ogniskowej), oraz
jak sprawuje się E-TTL II z optyką niezależną, w przypadku
Wbudowany biały ekranik oraz
pojedyncza blokada ruchów gło-
wicy, to kolejne usprawnienia
Speedlite a 580 EX i zarazem po-
dobieństwa do zaawansowa-
nych lamp konkurenta. W zesta-
wie handlowym nie ma jednak
dodatkowej nasadki rozpraszają-
cej, tak zwanego  kubełka .
51
W sytuacji, gdy błysk jest głównym xródłem Swiatła, E-TTL II prawidłowo eksponuje obiekt o Sredniej jasnoSci  zarówno gdy znajduje się w centrum ka-
dru, jak i na jego brzegu. Po przekadrowaniu, ostrzące centralne pole autofokusa wypada na czarnym tle, a mimo to ekspozycja nie zmienia się, nawet gdy
motyw zajmuje znacznie mniejszą niż poprzednio częSć kadru. Identyczny efekt naSwietlenia w obydwu przypadkach wystąpił również przy zdjęciach z opty-
ką niezależną (Tokina AT-X AF 28-70 mm f/2.6-2.8 Pro II).
Sprzęt: Canon EOS 20D + EF-S 10-22 mm f/3.5-4.5 USM + Speedlite 580EX, ekspozycja: 1/250 s, f/8, ISO 100, ogniskowa: 22 mm.
której najprawdopodobniej nie jest przekazywana informacja
o odległoSci. Drugą częSć testu wykonałem w plenerze, do-
Swietlając zacienione obiekty i uzupełniając błyskiem sceny Błysk jako główne xródło Swiatła,
oSwietlone słabo, choć równomiernie. tło oddalone i ciemne
W każdym przypadku zwracałem uwagę na stabilnoSć ba-
"
lansu bieli przy kolejnych zdjęciach oraz na powtarzalnoSć pre- " Przy przekadrowaniu obiektu o Sredniej jasnoSci (tablica
cyzji naSwietleń. Fotografowałem lustrzanką cyfrową Canon GretagMacbeth) ekspozycja błyskiem nadal była prawidło-
EOS 20D, ostrząc centralnym czujnikiem autofokusa. Aparat wa, nawet gdy obiekt zajmował tylko wąski wycinek na
wyposażony był w obiektyw Canon EF-S 10-22 mm f/3.5-4.5 brzegu kadru. NaSwietlenie praktycznie nie zależało od po-
USM i lampę błyskową Canon Speedlite 580EX. W plenerze łożenia obiektu, jego wielkoSci, czy użytej ogniskowej.
używałem też zooma Canon EF 70-200 mm f/4L USM, a przy Brawo! Prawidłową ekspozycję uzyskiwałem również przy
zdjęciach w pomieszczeniach optyki niezależnej  Tokiny AT-X odbijaniu błysku, czy też wczeSniejszym jego zapamięta-
AF 28-70 mm f/2.6-2.8 Pro II. niu (FEL).
Eleganckie doSwietlenie
błyskiem  bez jego korek-
cji. Zmniejszenie poziomu
błysku o 1/2 EV mogłoby,
co prawda, zmniejszyć ja-
snoSć wyzwalającej mi-
gawkę dłoni.
Sprzęt: Canon EOS 20D +
EF 70-200 mm f/4L USM +
Speedlite 580EX, ekspozy-
cja: 1/250 s, f/8, ISO 800,
ogniskowa: 100 mm.
52
" Prawidłowo eksponowany błyskiem bezpoSrednim był tak-
"
że  znajdujący się w centrum kadru  obiekt zupełnie biały.
DoSwietlałem z tej samej odległoSci, ale przy różnych ogniskowych, a więc
System najwyraxniej korzystał z informacji o odległoSci
przy różnej wielkoSci obiektu w kadrze. Uzyskałem naturalny i wyrównany
(obiektyw z USM), co dało wspaniały rezultat. Jednak po
efekt bez ingerencji w pracę automatyki E-TTL II  przynajmniej na pierw-
przekadrowaniu ujęcia (obiekt z boku kadru) wystąpiło pew- szych dwóch zdjęciach. Trzecie zdjęcie zdradza minimalnie zwiększony
udział błysku, ale nadal naSwietlone jest prawidłowo (niektórzy może wole-
ne niedoSwietlenie (do 1 EV), podobne do tego jakie otrzy-
liby wprowadzić tutaj korekcję  1/2 EV).
mywałem w każdej sytuacji zapamiętując błysk (FEL). Nie
było natomiast  charakterystycznego dla dawnego syste- Sprzęt: Canon EOS 20D + EF-S 10-22 mm f/3.5-4.5 USM + Speedlite 580EX.
mu  przeSwietlenia! Niestety, przy odbijaniu błysku nasta-
Ogniskowa: 22 mm, ekspozycja: 1/250 s, f/8, ISO 400
O
g
n
i
s
k
o
w
a
:
2
2
m
m
,
e
k
s
p
o
z
y
c
j
a
:
1
/
2
5
0
s
,
f
/
8
,
I
S
O
4
0
0
wiona odległoSć nie była w stanie pomóc systemowi (praw-
dopodobnie w ogóle nie jest wtedy uwzględniana). Rezultat
 podobne niedoSwietlenie obiektu, niemal identyczne tak-
że po przekadrowaniu.
" Fotografując obiekt o Sredniej jasnoSci obiektywem nieza-
"
leżnym (Tokina) naSwietlenia również były prawidłowe
w każdej z wymienionych wczeSniej sytuacji. Co ciekawe,
nawet przy białym obiekcie rezultaty były analogiczne do
uzyskanych optyką z pełną wymianą informacji! Czyżby
więc profesjonalna Tokina AT-X AF 28-70 mm f/2.6-2.8 Pro
II, wyposażona  jakby nie było  w oryginalny chip Cano-
na, przekazywała dane o odległoSci fotografowanego
obiektu?
Błysk jako uzupełniające xródło Swiatła
" Błysk uzupełniający (doSwietlający) na ogół zawsze wywa-
"
Ogniskowa: 14 mm, ekspozycja: 1/350 s, f/8, ISO 400
O
g
n
i
s
k
o
w
a
:
1
4
m
m
,
e
k
s
p
o
z
y
c
j
a
:
1
/
3
5
0
s
,
f
/
8
,
I
S
O
4
0
0
żony był prawidłowo  zarówno przy jasnym, jak i ciemnym
tle. Wprowadzanie ewentualnych korekcji pozostawało je-
dynie kwestią gustu fotografującego. Poziom doSwietlenia
praktycznie nie zależał od pozycji obiektu w kadrze, czy je-
go wielkoSci (użytej ogniskowej).
" Przy intensywnym (wielokrotnym i szybkim) fotografowaniu
"
tego samego obiektu  zarówno w pomieszczeniach, jak
i plenerze  balans bieli zachowywał się rzeczywiScie stabil-
nie. Jednak precyzja ekspozycji błyskiem nie zawsze była
powtarzalna. To dziwne wobec zapewnień producenta, ale
jak najbardziej prawdziwe!
E-TTL II  naprawdę dobry!
E-TTL II rzeczywiScie sprawuje się lepiej w sytuacjach trud-
nych dla dotychczasowego E-TTLa. Przy przekadrowaniach
na ciemnym tle nie przeSwietla już pierwszego planu  nawet
przy optyce niezależnej. Przy błysku bezpoSrednim prawidło- Ogniskowa: 10 mm, ekspozycja: 1/500 s, f/8, ISO 400
O
g
n
i
s
k
o
w
a
:
1
0
m
m
,
e
k
s
p
o
z
y
c
j
a
:
1
/
5
0
0
s
,
f
/
8
,
I
S
O
4
0
0
wo też naSwietla jasne obiekty. Daje więc wymarzone przez
wielu fotografujących lustrzankami Canona rezultaty. Także
uzupełnianie błyskiem Swiatła ciągłego jest na najwyższym
poziomie, ale do tego Canon nas już przyzwyczaił. Precyzja
pracy E-TTLa II z reguły nie zależy od wielkoSci obiektu, choć
czasami zdarza się jej niepełna powtarzalnoSć. Natomiast ba-
lans bieli wydaje się całkowicie stabilny. W sumie  E-TTL II
to naprawdę dobry, a być może nawet najlepszy z nowocze-
snych systemów pomiaru błysku.
Jarosław Mikołajczuk
J
a
r
o
s
ł
a
w
M
i
k
o
ł
a
j
c
z
u
k
Za wypożyczenie sprzętu do testu (Canon EOS 20D,
Z
a
w
y
p
o
ż
y
c
z
e
n
i
e
s
p
r
z
ę
t
u
d
o
t
e
s
t
u
(
C
a
n
o
n
E
O
S
2
0
D
,
obiektyw Canon EF-S 10-22 mm f/3.5-4.5 USM, lampa
o
b
i
e
k
t
y
w
C
a
n
o
n
E
F
-
S
1
0
-
2
2
m
m
f
/
3
.
5
-
4
.
5
U
S
M
,
l
a
m
p
a
błyskowa Canon Speedlite 580EX) dziękujemy sklepowi
b
ł
y
s
k
o
w
a
C
a
n
o
n
S
p
e
e
d
l
i
t
e
5
8
0
E
X
)
d
z
i
ę
k
u
j
e
m
y
s
k
l
e
p
o
w
i
internetowemu www.pstryk.pl.
i
n
t
e
r
n
e
t
o
w
e
m
u
w
w
w
.
p
s
t
r
y
k
.
p
l
.
55


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
ANALIZA KOMPUTEROWA SYSTEMÓW POMIAROWYCH — MSE
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE I0 04 2012 OiO
Wielofunkcyjny system pomiarowy HANDYPROBE HP2
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE0 04 2012 WEiA
Miernictwo i systemy pomiarowe II LABorat str 2
Komputerowe systemy pomiarowe
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE0 04 2012 Mech
Ochrona przed przepięciami systemów pomiarowych
nie ma na liscie MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE0 04 2012
nie ma na liscie MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE0 04 2012
ZIMK21 Miernictwo i systemy pomiarowe
Miernictwo i systemy pomiarowe II LAB
Systemy pomiarowe Sprzęt
6 Elektroniczne systemy pomiaru kątów
systemy pomiarowe
ZIMK72 Miernictwo i systemy pomiarowe

więcej podobnych podstron