Piotr Fugel Piotr Hylak Michał Dobiaszewski	Komputerowy system pomiaru odchyłek kształtu wałka	Grupa: MD 103.6a
Data: 12.X.2004	Podpis:	Ocena:

1. Wiadomości teoretyczne

W pomiarach odchyłek kształtu wykorzystuje się trzy sposoby uzyskiwania informacji o wartości mierzonej odchyłki:

Analogowy sposób pozyskiwania informacji o wartości mierzonej odchyłki (niezależnie od tego czy przetwarzanie wewnątrz przyrządu jest analogowe lub cyfrowe) polega na ciągłym pomiarze zarysu wybranego przekroju i przed­stawienia wyniku pomiaru w postaci wykresu kołowego lub liniowego z po­większonym k razy zarysem rzeczywistym mierzonej powierzchni.

Analogowo dyskretny sposób pozyskiwania informacji o wartości mierzonej odchyłki, polega na ciągłym pomiarze zarysu wybranego przekroju i doko­nywaniu odczytów z pewnym krokiem. W tym przypadku bazuje się na powierzchni mierzonej a więc obarczonej błędami kształtu. W zależności od kształtu powierzchni bazowej przyrządu pomiarowego, błędy kształtu powierzchni mierzonej mogą mieć różny wpływ na wynik pomiaru. Wpływ ten można wyeliminować poprzez dobór kształtu powierzchni bazowej przyrządu, przyjmując uproszczony model błędów kształtu, w którym zakłada się, że odchyłka kształtu mają charakter regularny.

Dyskretny sposób pozyskiwania informacji dokonuje się najczęściej przyrządami dwupunktowymi. w których powierzchnia pomiarowa stałej końcówki jest bazą pomiarową przyrządu. Ten sposób nie wykrywa odchyłki nieparzystej okrągłości.

Schemat systemu pomiarowego do pomiaru odchyłek kształtu wałka

2. Przebieg ćwiczenia

1. Dokonaliśmy pomiarów metodą różnicową przy pomocy mikromierza cyfrowego. Ustawiliśmy mikromierz na wymiar nominalny 20mm średnicy danego wałka. Pomiar wykonaliśmy metodą różnicową z odczytem wartości absolutnej (funkcja ABS).

2. W celu ustawienia mikromierza na wymiar odniesienia 20mm zestawiliśmy stos płytek wzorcowych o wartości H_s = 20mm, przygotowaliśmy mikromierz do przyjęcia wartości odniesienia, umieściliśmy stos płytek wzorcowych pomiędzy końcówkami pomiarowymi mikromierza i doprowadziliśmy do styku powierzchni pomiarowych mikromierza z powierzchniami pomiarowymi stosu płytek.

1. Uruchomiliśmy program transmisji danych pomiar 1, procedurę protokołu zbierania danych i analizy wyników i ustawiliśmy okna tych programów
   na pulpicie tak, aby obydwa były widoczne.

2. Klikając dwukrotnie myszką kolejno na komórki wartości: wymiaru nominalnego, odchyłki górnej, odchyłki dolnej uaktywniamy je a następnie, gdy komórka umożliwia edycję, wprowadzamy odpowiednie wartości tych parametrów. Po podaniu wartości wymiaru nominalnego dostosowaliśmy skalę wartości osi y wykresu.

3. Obliczenia

Odchyłka górna wałka

gdzie: B - górna wartość graniczna

N - wartość nominalna

Odchyłka dolna wałka

gdzie: A - dolna wartość graniczna

uN - wartość nominalna

Tolerancja wałka

Przekrój A-A

Średni wynik pomiaru

Odchylenie standardowe

Błąd wartości wymiaru spowodowany odchyłkami kształtu

Przekrój B-B

Średni wynik pomiaru

Odchylenie standardowe

Błąd wartości wymiaru spowodowany odchyłkami kształtu

4. Wnioski

Komputerowe metody pomiaru odchyłek kształtu wałka ułatwiają i przyśpieszają uzyskanie danego pomiaru. Elektroniczny mikromierz jest znacznie dokładniejszy niż ludzkie oko, dzięki temu wynik jest dokładniejszy, obarczony mniejszym błędem.

Po przeanalizowaniu otrzymanych wykresów widzimy, że wałek w przekroju A-A i B-B ma z jednej strony większą średnicę niż z drugiej. Jest to odchyłka walcowości a w szczególności stożkowatość

---