30.03.2010r

Metrologia II - ćwiczenia laboratoryjne

Sprawozdanie z laboratorium

„Zastosowanie oscyloskopu katodowego”

Mędala Jan, Mleczko Agnieszka, Mróz Łukasz, Myśliwiec Łukasz gr.13

1. Wyznaczanie czułości stałej przetwornika.

U_max =57,15V

α _max =310 ^o

S =0,1843548387

C = 5,42432196

2. Wyznaczenie statycznej charakterystyki przetwarzania konkretnego przetwornika potencjometrycznego na drodze pomiarowej.

R_v = 10k

Tabela 1
L.p.	α[^o]	URo malejące[V]	URo rosnące[V]	URo śr[V]	U[V]
1	0	-0,03	-0,02	-0,025	0
2	10	1,44	1,45	1,445	1,843548
3	20	3,3	3,3	3,3	3,687097
4	30	5,18	5,28	5,23	5,530645
5	40	6,87	6,97	6,92	7,374194
6	50	8,75	8,78	8,765	9,217742
7	60	10,67	10,7	10,685	11,06129
8	70	12,44	12,56	12,5	12,90484
9	80	14,44	14,48	14,46	14,74839
10	90	16,26	16,4	16,33	16,59194
11	100	18,41	18,46	18,435	18,43548
12	110	20,3	20,25	20,275	20,27903
13	120	22,24	22,19	22,215	22,12258
14	130	23,83	23,87	23,85	23,96613
15	140	26,05	26,09	26,07	25,80968
16	150	28	27,89	27,945	27,65323
17	160	29,95	29,63	29,79	29,49677
18	170	31,82	31,85	31,835	31,34032
19	180	33,77	33,75	33,76	33,18387
20	190	35,53	35,72	35,625	35,02742
21	200	37,17	37,2	37,185	36,87097
22	210	39,11	39,08	39,095	38,71452
23	220	41,29	40,84	41,065	40,55806
24	230	43,25	43,27	43,26	42,40161
25	240	44,68	44,68	44,68	44,24516
26	250	46,88	46,91	46,895	46,08871
27	260	48,74	48,84	48,79	47,93226
28	270	50,42	50,44	50,43	49,77581
29	280	52,43	52,53	52,48	51,61935
30	290	53,96	54,21	54,085	53,4629
31	300	55,76	55,75	55,755	55,30645
32	310	57,26	57,26	57,26	57,15

3. Wyznaczenie statycznej charakterystyki przetwarzania przetwornika potencjometrycznego obciążonego rezystancją.

R_z = 15k

, gdzie

x_i = α_i

y_i = U_{Ro śr i}

n = 32

a₀ = -1,52795455

a₁ = 0,178670271

Tabela 2
L.p.	α[^o]	URo malejące[V]	URo rosnące[V]	URo śr[V]	UR[V]	Ui[V]	δ
1	0	-0,02	-0,02	-0,02	-1,52795	0	0,0004
2	10	1,43	1,6	1,515	0,258748	1,786703	0,0049
3	20	3,22	3,23	3,225	2,045451	3,573405	0,0063
4	30	5,03	5,02	5,025	3,832154	5,360108	0,0061
5	40	6,57	6,59	6,58	5,618856	7,146811	0,0102
6	50	8,28	8,29	8,285	7,405559	8,933514	0,0117
7	60	9,8	9,78	9,79	9,192262	10,72022	0,0168
8	70	11,32	11,33	11,325	10,97896	12,50692	0,0213
9	80	12,84	12,84	12,84	12,76567	14,29362	0,0262
10	90	14,43	14,42	14,425	14,55237	16,08032	0,0299
11	100	16,1	16,1	16,1	16,33907	17,86703	0,0319
12	110	17,61	17,61	17,61	18,12578	19,65373	0,0369
13	120	19,23	19,23	19,23	19,91248	21,44043	0,0399
14	130	20,56	20,56	20,56	21,69918	23,22714	0,0482
15	140	22,51	22,49	22,5	23,48588	25,01384	0,0454
16	150	23,89	23,89	23,89	25,27259	26,80054	0,0525
17	160	25,7	25,7	25,7	27,05929	28,58724	0,0521
18	170	27,4	27,33	27,365	28,84599	30,37395	0,0543
19	180	29,14	29,14	29,14	30,63269	32,16065	0,0545
20	190	30,9	30,9	30,9	32,4194	33,94735	0,0550
21	200	32,33	32,33	32,33	34,2061	35,73405	0,0615
22	210	34,14	34,16	34,15	35,9928	37,52076	0,0609
23	220	36,44	35,96	36,2	37,77951	39,30746	0,0561
24	230	38,64	38,64	38,64	39,56621	41,09416	0,0443
25	240	40,1	40,11	40,105	41,35291	42,88087	0,0501
26	250	42,7	42,96	42,83	43,13961	44,66757	0,0332
27	260	45,09	45,11	45,1	44,92632	46,45427	0,0245
28	270	47,25	47,26	47,255	46,71302	48,24097	0,0178
29	280	50,04	50,04	50,04	48,49972	50,02768	0,0002
30	290	52,26	52,51	52,385	50,28642	51,81438	0,0103
31	300	54,87	55,01	54,94	52,07313	53,60108	0,0242
32	310	57,35	57,35	57,35	53,85983	55,38778	0,0354

Maksymalny błąd podstawowy:

δ = 0,0615

Graniczny błąd jest stały i wynosi:

δ_% = 2,7695%

Wnioski: Celem ćwiczenia było poznanie metod badania właściwości statycznych przetworników pomiarowych.

W ćwiczeniu zbadaliśmy właściwości statycznych przetwornika potencjometrycznego. Na podstawie wykonanych pomiarów i aproksymacji otrzymaliśmy równanie modelu y=0,178670271x-1,52795455. Otrzymane równanie wskazuje, że badany przetwornik był przetwornikiem liniowym. Podstawowe błędy pomiarów spowodowane są względami konstrukcyjnymi oraz niedokładnością wzorcowania przetworników przez wytwórcę. Obliczone wartości błędów względnych i bezwzględnych były bardzo małe(rzędu setnych części volta ), co wskazuje na dobre właściwości badanego przetwornika.

---