L Metrologia 2

Wydział Budowy Maszyn i Informatyki Data przeprowadzonych zajęć:14.10.2010

Rok akademicki:2010/2011

Studia: stacjonarne inż.

Semestr: 3

Kierunek / Specjalność: Mech

Grupa: Czwartek – godz.14.00-15.30

LABORATORIUM

METROLOGII TECHNICZNEJ

Laboratorium nr 2

Wzorce i podstawowe przyrządy pomiarowe

Sprawozdanie
Do poprawy:
Zaliczone:
  1. Cel ćwiczenia

Celem ćwiczenia jest:

-poznanie podstawowych pojęć z zakresu metrologii

-poznanie zasad posługiwania się przyrządami pomiarowymi

-poznanie wzorów umożliwiających obliczenie niepewności pomiarowej

Podczas ćwiczenia zapoznaliśmy się z dokonywaniem pomiarów za pomocą następujących wzorców i przyrządów pomiarowych:

-płytki wzorcowe

-suwmiarki (analogowe, cyfrowe)

-mikrometry

-średnicówki

2. Przebieg ćwiczenia

  1. Złożenie stosu płytek wzorcowych.

Płytki wzorcowe są jednowymiarowymi końcowymi wzorcami długości. Komplet płytek wzorcowych umożliwia zbudowanie dowolnego stosu o stopniowaniu, co 0,01mm. Zaleca się układnie stosów nie większych niż 4 płytki. Płytki wzorcowe dzielimy na następujące klasy dokładności: 0, 1, 2 i K. Płytki mogą służyć do kontrolowania błędów wskazań np. mikrometru.

Przykład układani stosu płytek:

74,37mm = (1,37+3,0+20,0+50,0)

42,88mm = (1,5+1,38+40,0)

  1. Pomiar przyrządami suwmiarkowymi.

Pomiar zostanie wykonany trzema suwmiarkami:

-suwmiarką analogową z dokładnością odczytową ∆= 0.1mm

-suwmiarką analogową z dokładnością odczytową ∆= 0.05mm

-suwmiarką cyfrową z dokładnością odczytową ∆= 0.01mm

Dla suwmiarki z noniuszem należy przyjąć niepewność pomiaru u = ±0,1mm, natomiast dla suwmiarki cyfrowej należy przyjąć niepewność pomiaru u = ±0,03mm.

Pomiary:

Przedmiot do pomiaru suwmiarkami

  1. Suwmiarka z noniuszem o dokładności odczytu ∆= 0.1mm

u = ± 0,1 mm

Wymiary zmierzone:

A = 8,6mm

B = 30,0mm

Wynik pomiaru w postaci poprawionej:

A= 8,6 ± 0,1 mm

B = 30,0 ± 0,1 mm

  1. Suwmiarka z noniuszem o dokładności odczytu ∆= 0.05mm

u = ± 0,10 mm

Wymiary zmierzone:

A = 8,65mm

B = 30,05mm

Wynik pomiaru w postaci poprawionej:

A= 8,65 ± 0,10 mm

B = 30,05 ± 0,10 mm

  1. Suwmiarka cyfrową o dokładności odczytu ∆= 0.01mm

u = ± 0,03 mm

Wymiary zmierzone:

A = 8,621mm

B = 30,029mm

Wynik pomiaru w postaci poprawionej:

A= 8,621 ± 0,03 mm

B = 30,029 ± 0,03 mm

  1. Pomiar przyrządami mikrometrycznymi.

Rozróżnia się pięć typów przyrządów mikrometrycznych:

-mikrometry zewnętrzne

-mikrometry wewnętrzne

-średnicówki (dwu i trój punktowe)

-głębokościomierze

-głowice mikrometryczne

Przy dokonywaniu pomiaru mikrometrem należy pamiętać aby ostateczne dociśnięcie do mierzonej powierzchni odbyło się poprzez dokręcenie sprzęgiełka.

Pomiary:

Przedmiot do pomiaru mikrometrem.

  1. Pomiar mikroskopem zewnętrznym.

Wymiar zmierzony:

A = 8,621mm

Obliczenie niepewności pomiaru:

U = ±(4+L/40)µm

gdzie:

L- długość zmierzona [mm]

U = ±(4+8,621/40) = 4,22 µm = ±0,00422 mm = ± 0,005 mm

Wynik w postaci poprawionej:

A = 8,621 ± 0,005 mm

  1. Pomiar mikroskopem wewnętrznym.

Wymiar zmierzony:

B = 30,029mm

Obliczenie niepewności pomiaru:

U = ±(4+L/40)µm

gdzie:

L- długość zmierzona [mm]

U = ±(4+30,029/40) = 4,75 µm = ±0,00475 mm = ± 0,005 mm

Wynik w postaci poprawionej:

B = 30,029 ± 0,005 mm

  1. Wnioski

- należy pamiętać o doliczeniu do uzyskanego wyniku odpowiedniej niepewności pomiarowej

- przy dokonywaniu pomiarów należy delikatnie obchodzić się ze wzorcami i przyrządami pomiarowymi gdyż użycie zbyt dużej siły może zafałszować wynik i uszkodzić przyrząd

- suwmiarki są uniwersalnym przyrządem pomiarowym

- wykorzystuje się obecnie suwmiarki analogowe o dokładności odczytu ∆= 0.1 mm ∆= 0.05 mm natomiast te o dokładności ∆= 0.02 mm są rzadziej stosowane ze względu na wynik, który uzyskujemy jest na granicy błędu.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
5 Podstawy Metrologii systemy pomiarowe
metrologia
kuran,Metrologia wielkosci geom Nieznany
oscyloskop metrologia cw6
Metrologia Elektryczna i Elektroniczna wykład 2
Podstawy Metrologii
Zadanie z pasowania otwarte, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
1.10spis treci do cigi z metro, POLITECHNIKA (Łódzka), Metrologia, 1semestr
Program-3, Studia, Metrologia
ściąga metrologia (2), PWR mbm, Podstawy metrologii
MIERNIK ELEKTRODYNAMICZNY, Studia, Metrologia
Program-4, Studia, Metrologia
SPRAWOZDANIE NR 1, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Sprawozdanie nr 1
metrologia - błędy kształtu, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
Metrologia sciaga, Politechnika, Metrologia
LABMETS1, AGH IMIR Mechanika i budowa maszyn, II ROK, Metrologia Tyka Haduch, Metrologia, Metrologia

więcej podobnych podstron