Sprawozdanie Bramki Grupa II

Wykonali:

Grupa II

Sprawozdanie

Temat: Omówienie i poznanie zasady działania różnych bramek logicznych i zmierzenie napięć wejścia i wyjścia bramek TTL i CMOS.

Wykorzystane urządzenia:

W sprawozdaniu zostanie omówiona zasada działania różnych bramek logicznych. Poznamy zależności napięcia progowego bramek logicznych. Poznamy wartości znamionowe prądów i napięć bramek oraz dokonamy ich pomiarów.

Pomiar napięć bramek w układzie TTL

Zależność napięcia wejściowego i wyjściowego bramki dla Uz=0 – 5V

Dla standardowej bramki NAND

A1 F1 A1 F1 A1 F1 A1 F1 A1 F1
0 3,37V 1,5V 167mV 2,5V 167mV 3,5V 167mV 4,5V 167mV
0,6V 3,37V 1,6V 167mV 2,6V 167mV 3,6V 167mV 4,6V 167mV
0,7V 3,37V 1,7V 167mV 2,7V 167mV 3,7V 167mV 4,7V 167mV
0,8V 3,36V 1,8V 167mV 2,8V 167mV 3,8V 167mV 4,8V 167mV
0,9V 3,21V 1,9V 167mV 2,9V 167mV 3,9V 167mV 4,9V 167mV
1V 3,03V 2V 167mV 3V 167mV 4V 167mV 5V 167mV
1,1V 1,66V 2,1V 167mV 3,1V 167mV 4,1V 167mV
1,2V 167mV 2,2V 167mV 3,2V 167mV 4,2V 167mV
1,3V 167mV 2,3V 167mV 3,3V 167mV 4,3V 167mV
1,4V 167mV 2,4V 167mV 3,4V 167mV 4,4V 167mV

Bramka NAND zmienia swój stan gdy na wejściu A1 pojawia się napięcie około 1,1V a całkowitą zmianę stanu gwarantuje napięcie około 1,2V podane na wejście A1.


Dla szybkiej bramki NOR

A3 F2 A3 F2 A3 F2 A3 F2 A3 F2
1V 4,93V 2V 151mV 3V 151mV 4V 151mV 5V 151mV
1,1V 4,91V 2,1V 151mV 3,1V 151mV 4,1V 151mV
1,2V 4,9V 2,2V 151mV 3,2V 151mV 4,2V 151mV
1,3V 4,2V 2,3V 151mV 3,3V 151mV 4,3V 151mV
1,4V 2,8V 2,4V 151mV 3,4V 151mV 4,4V 151mV
1,5V 169mV 2,5V 151mV 3,5V 151mV 4,5V 151mV
1,6V 165mV 2,6V 151mV 3,6V 151mV 4,6V 151mV
1,7V 160mV 2,7V 151mV 3,7V 151mV 4,7V 151mV
1,8V 157mV 2,8V 151mV 3,8V 151mV 4,8V 151mV
1,9V 151mV 2,9V 151mV 3,9V 151mV 4,9V 151mV

Bramka NOR zmienia swój stan z wysokiego na niski gdy na wejściu A3 pojawia się napięcie około 1,4V a całkowitą zmianę stanu gwarantuje napięcie około 2V podane na wejście A3.


Pomiar napięć bramek w układzie CMOS

Ukadz te są budowane przy użyciu tranzystorów i inwerterów typu CMOS

Zależność napięcia wejściowego i wyjściowego bramki dla Udd = 0 – 12V

Dla standardowej bramki NAND

A5 Y1 A5 Y1 A5 Y1 A5 Y1
0V 11,8V 3,5V 11,76V 7V 0,3mV 10,5V 0,1mV
0,5V 11,77V 4V 11,76V 7,5V 0,3mV 11V 0,1mV
1V 11,76V 4,5V 11,76V 8V 0,3mV 11,5V 0,1mV
1,5V 11,76V 5V 11,76V 8,5V 0,3mV 12V 0,1mV
2V 11,76V 5,5V 11,76V 9V 0,1mV 0,1mV
2,5V 11,76V 6V 4,4V 9,5V 0,1mV
3V 11,76V 6,5V 0,3mV 10V 0,1mV

Bramka NAND zbudowana na tranzystorach CMOS zmienia swój stan gdy na wejscie A5 podane zostaje napięcie około 6V. Całkowitą zmianę stanu z wysokiego na niski przy tego typu bramce gwarantuje napięcie 9,5V podane na wejście A8.


Dla bardzo szybkiej bramki NOR

A8 Y2 A8 Y2 A8 Y2 A8 Y2
0V 11,75V 3,5V 11,75V 7V 9mV 10,5V 9mV
0,5V 11,75V 4V 11,75V 7,5V 9mV 11V 9mV
1V 11,75V 4,5V 11,75V 8V 9mV 11,5V 9mV
1,5V 11,75V 5V 8,2V 8,5V 9mV 12V 9mV
2V 11,75V 5,5V 3V 9V 9mV
2,5V 11,75V 6V 2V 9,5V 9mV
3V 11,75V 6,5V 14mV 10V 9mV

Bramka NOR (b. szybka) zbudowana na tranzystorach CMOS zmienia swój stan gdy na wejscie A8 podane zostaje napięcie około 5V. Całkowitą zmianę stanu z wysokiego na niski przy tego typu bramce gwarantuje napięcie 7V podane na wejście A8.

Pomiary napięcia progowego bramek TTL i CMOS

Układ TTL

Po doprowadzeniu do układu napięcia 5V na wejściu A1 standardowej bramki NAND pojawiło się napięcie 1,08V a na wyjściu F1 1,2V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 1,08 a powyżej 1,2.

Po doprowadzeniu do układu napięcia 5V na wejściu A3 szybkiej bramki NOR pojawiło się napięcie 0,9V a na wyjściu F2 0,69V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 0,9V a powyżej 0,69V

Układ CMOS

Po doprowadzeniu do układu napięcia 12V na wejściu A5 standardowej bramki NAND pojawiło się napięcie 5,5V a na wyjściu Y1 5,4V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 5,5V a powyżej 5,4V

Po doprowadzeniu do układu napięcia 12V na wejściu A7 bardzo szybkiej bramki NOR pojawiło się napięcie 5,2V a na wyjściu Y2 5,14V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 5,2V a powyżej 5,14V

Wnioski

Bramki zbudowane na tranzystorach bipolarnych (bramki TTL) przełaczają swoje stany w bardzo krótkim czasie co jest porządane. Ich wadą są niestety niskie napięcia w których mogą pracować bez uszkodzeń układu.

Bramki z tranzystorami polowymi (CMOS) mają stosunkowo długi czas przełączania pomiędzy stanami wysokim i niskim w porównaniu do bramek TTL. Ich zaletą jest duża rozpiętość napięć z którymi te bramki mogą pracować.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Grupa II 41C, OGRODNICTWO inż, Semestr 7, Przetwórstwo, sprawozdanie nr 3
Mateusz Szramowiat 11M7 grupa II sprawozdanie 6 7
SPRAWOZDANIE Z farmako, Farmacja, II rok farmacji, I semstr, fizyczna, Fizyczna, Sprawozdania z fizy
CO POWINNO ZAWIERAC SPRAWOZDANIE wytyczne, sem II, pod teorii okrętw, lab
SPRAWOZDANIE NR 1, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Sprawozdanie nr 1
SPRĘARKI, energetyka, mgr 2, sep, Grupa II
TEST GRUPA II-MODU III-1, testy
Test poprawkowy 2003 Grupa II odp
Typy i rodzaje sieci zasilających, Uprawnienia SEP Grupa II, Uprawnienia SEP Grupa II
Sprawozdanie nr 3 (3), sem II, Podstawy Technologii Okrętów - Wykład.Laboratorium, Laboratorium nr 3
TEST modu IV grupa II, testy
ROZPORZADZENIE 2003 energetyczne, Uprawnienia SEP Grupa II, Uprawnienia SEP Grupa II
Sprawozdanie 5 Zespół 1 Grupa I GiG
sprawozdanie nr 4 grupa p
PBL grupa I, II, III (środa, s 1) Tematy zajęć
D juniorzy grupa II
Grupa II
grupa II, teologia skrypty, ex universa wrocław
sprawozdanie z cw 4, Polibuda, II semestr, fizyka, FIZA, lab, Chemia laborki, chemia ogolna nie orga

więcej podobnych podstron