Wykonali:
Bujnik Maciej
Daniluk Damian
Demianiuk Daniel
Izdebski Łukasz
Grupa II
Sprawozdanie
Temat: Omówienie i poznanie zasady działania różnych bramek logicznych i zmierzenie napięć wejścia i wyjścia bramek TTL i CMOS.
Wykorzystane urządzenia:
Moduł edukacyjny KL-22001
Moduł edukacyjny KL-260021
Multimetr
Zasilacz stabilizowany z regulacją napięcia stałego 0–15V
W sprawozdaniu zostanie omówiona zasada działania różnych bramek logicznych. Poznamy zależności napięcia progowego bramek logicznych. Poznamy wartości znamionowe prądów i napięć bramek oraz dokonamy ich pomiarów.
Pomiar napięć bramek w układzie TTL
Zależność napięcia wejściowego i wyjściowego bramki dla Uz=0 – 5V
Dla standardowej bramki NAND
A1 | F1 | A1 | F1 | A1 | F1 | A1 | F1 | A1 | F1 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
0 | 3,37V | 1,5V | 167mV | 2,5V | 167mV | 3,5V | 167mV | 4,5V | 167mV |
0,6V | 3,37V | 1,6V | 167mV | 2,6V | 167mV | 3,6V | 167mV | 4,6V | 167mV |
0,7V | 3,37V | 1,7V | 167mV | 2,7V | 167mV | 3,7V | 167mV | 4,7V | 167mV |
0,8V | 3,36V | 1,8V | 167mV | 2,8V | 167mV | 3,8V | 167mV | 4,8V | 167mV |
0,9V | 3,21V | 1,9V | 167mV | 2,9V | 167mV | 3,9V | 167mV | 4,9V | 167mV |
1V | 3,03V | 2V | 167mV | 3V | 167mV | 4V | 167mV | 5V | 167mV |
1,1V | 1,66V | 2,1V | 167mV | 3,1V | 167mV | 4,1V | 167mV | ||
1,2V | 167mV | 2,2V | 167mV | 3,2V | 167mV | 4,2V | 167mV | ||
1,3V | 167mV | 2,3V | 167mV | 3,3V | 167mV | 4,3V | 167mV | ||
1,4V | 167mV | 2,4V | 167mV | 3,4V | 167mV | 4,4V | 167mV |
Bramka NAND zmienia swój stan gdy na wejściu A1 pojawia się napięcie około 1,1V a całkowitą zmianę stanu gwarantuje napięcie około 1,2V podane na wejście A1.
Dla szybkiej bramki NOR
A3 | F2 | A3 | F2 | A3 | F2 | A3 | F2 | A3 | F2 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
1V | 4,93V | 2V | 151mV | 3V | 151mV | 4V | 151mV | 5V | 151mV |
1,1V | 4,91V | 2,1V | 151mV | 3,1V | 151mV | 4,1V | 151mV | ||
1,2V | 4,9V | 2,2V | 151mV | 3,2V | 151mV | 4,2V | 151mV | ||
1,3V | 4,2V | 2,3V | 151mV | 3,3V | 151mV | 4,3V | 151mV | ||
1,4V | 2,8V | 2,4V | 151mV | 3,4V | 151mV | 4,4V | 151mV | ||
1,5V | 169mV | 2,5V | 151mV | 3,5V | 151mV | 4,5V | 151mV | ||
1,6V | 165mV | 2,6V | 151mV | 3,6V | 151mV | 4,6V | 151mV | ||
1,7V | 160mV | 2,7V | 151mV | 3,7V | 151mV | 4,7V | 151mV | ||
1,8V | 157mV | 2,8V | 151mV | 3,8V | 151mV | 4,8V | 151mV | ||
1,9V | 151mV | 2,9V | 151mV | 3,9V | 151mV | 4,9V | 151mV |
Bramka NOR zmienia swój stan z wysokiego na niski gdy na wejściu A3 pojawia się napięcie około 1,4V a całkowitą zmianę stanu gwarantuje napięcie około 2V podane na wejście A3.
Pomiar napięć bramek w układzie CMOS
Ukadz te są budowane przy użyciu tranzystorów i inwerterów typu CMOS
Zależność napięcia wejściowego i wyjściowego bramki dla Udd = 0 – 12V
Dla standardowej bramki NAND
A5 | Y1 | A5 | Y1 | A5 | Y1 | A5 | Y1 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
0V | 11,8V | 3,5V | 11,76V | 7V | 0,3mV | 10,5V | 0,1mV |
0,5V | 11,77V | 4V | 11,76V | 7,5V | 0,3mV | 11V | 0,1mV |
1V | 11,76V | 4,5V | 11,76V | 8V | 0,3mV | 11,5V | 0,1mV |
1,5V | 11,76V | 5V | 11,76V | 8,5V | 0,3mV | 12V | 0,1mV |
2V | 11,76V | 5,5V | 11,76V | 9V | 0,1mV | 0,1mV | |
2,5V | 11,76V | 6V | 4,4V | 9,5V | 0,1mV | ||
3V | 11,76V | 6,5V | 0,3mV | 10V | 0,1mV |
Bramka NAND zbudowana na tranzystorach CMOS zmienia swój stan gdy na wejscie A5 podane zostaje napięcie około 6V. Całkowitą zmianę stanu z wysokiego na niski przy tego typu bramce gwarantuje napięcie 9,5V podane na wejście A8.
Dla bardzo szybkiej bramki NOR
A8 | Y2 | A8 | Y2 | A8 | Y2 | A8 | Y2 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
0V | 11,75V | 3,5V | 11,75V | 7V | 9mV | 10,5V | 9mV |
0,5V | 11,75V | 4V | 11,75V | 7,5V | 9mV | 11V | 9mV |
1V | 11,75V | 4,5V | 11,75V | 8V | 9mV | 11,5V | 9mV |
1,5V | 11,75V | 5V | 8,2V | 8,5V | 9mV | 12V | 9mV |
2V | 11,75V | 5,5V | 3V | 9V | 9mV | ||
2,5V | 11,75V | 6V | 2V | 9,5V | 9mV | ||
3V | 11,75V | 6,5V | 14mV | 10V | 9mV |
Bramka NOR (b. szybka) zbudowana na tranzystorach CMOS zmienia swój stan gdy na wejscie A8 podane zostaje napięcie około 5V. Całkowitą zmianę stanu z wysokiego na niski przy tego typu bramce gwarantuje napięcie 7V podane na wejście A8.
Pomiary napięcia progowego bramek TTL i CMOS
Układ TTL
Po doprowadzeniu do układu napięcia 5V na wejściu A1 standardowej bramki NAND pojawiło się napięcie 1,08V a na wyjściu F1 1,2V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 1,08 a powyżej 1,2.
Po doprowadzeniu do układu napięcia 5V na wejściu A3 szybkiej bramki NOR pojawiło się napięcie 0,9V a na wyjściu F2 0,69V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 0,9V a powyżej 0,69V
Układ CMOS
Po doprowadzeniu do układu napięcia 12V na wejściu A5 standardowej bramki NAND pojawiło się napięcie 5,5V a na wyjściu Y1 5,4V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 5,5V a powyżej 5,4V
Po doprowadzeniu do układu napięcia 12V na wejściu A7 bardzo szybkiej bramki NOR pojawiło się napięcie 5,2V a na wyjściu Y2 5,14V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 5,2V a powyżej 5,14V
Wnioski
Bramki zbudowane na tranzystorach bipolarnych (bramki TTL) przełaczają swoje stany w bardzo krótkim czasie co jest porządane. Ich wadą są niestety niskie napięcia w których mogą pracować bez uszkodzeń układu.
Bramki z tranzystorami polowymi (CMOS) mają stosunkowo długi czas przełączania pomiędzy stanami wysokim i niskim w porównaniu do bramek TTL. Ich zaletą jest duża rozpiętość napięć z którymi te bramki mogą pracować.