Sprawdzanie przyrządów suwmiarkowych

Okresowe sprawdzanie przyrządów suwmiarkowych obejmuje wyznaczanie

i porównywanie z wartościami dopuszczalnymi wszystkich lub niektórych

spośród niżej wymienionych parametrów:

— odchyłki płaskości i prostoliniowości powierzchni i krawędzi pomiarowych,

-- odchyłki równoległości płaskich powierzchni i krawędzi pomiarowych.

— grubości walcowych końcówek szczęk, promienia ich zaokrąglenia i bocznego przesunięcia promienia krzywizny,

— błędów wskazań.

Sprawdzanie przyrządów mikrometrycznych

Okresowe sprawdzanie przyrządów mikrometrycznych obejmuje wyznaczanie

i porównywanie z wartościami dopuszczalnymi wszystkich lub niektórych parametrów

spośród niżej wymienionych:

— odchyłek płaskości powierzchni pomiarowych wrzeciona i kowadełka,

— odchyłki równoległości powierzchni pomiarowych wrzeciona i kowadełka,

— nacisku pomiarowego,

— błędów wskazań.

Sprawdzanie czujników

Okresowe sprawdzanie czujników zębatych zegarowych obejmuje wyznaczenie

i porównanie z wartościami dopuszczalnymi:

— błędów wskazań,

— zmiany wskazań wywołanej naciskiem bocznym na końcówkę pomiarową,

— zakresu rozrzutu wskazań.

— histerezy pomiarowej,

— nacisku pomiarowego oraz jego zmienności.

Badanie przywieralności powierzchni pomiarowych polega na obserwacji

powierzchni pomiarowej płytki wzorcowej poprzez przywartą płytkę interferencyjną

(o tolerancji płaskości 0.1 μπι). Obserwowana powierzchnia powinna

być pozbawiona prążków interferencyjnych oraz plam. W przypadku płytek

wzorcowych klasy 1 i 2 dopuszcza się niewielkie jasne plamy lub szare odcienie.

Wyznaczenie odchyłek płaskości// powierzchni pomiarowych za pomocą

płaskich płytek interferencyjnych opisano w rozdziale 13. Pomiary odchyłki

płaskości ptytek o długości nominalnej do 2,5 mm wykonuje się po wcześniejszym

przywarciu płytki wzorcowej do płytki pomocniczej o grubości conajmniej

11 mm.

Długość I płytki wzorcowej jest zdefiniowana w [PN EN-ISO 3650:1998]

jako odległość w kierunku prostopadłym między każdym dowolnym punktem

powierzchni pomiarowej a powierzchnią płaską płytki pomocniczej z tego

samego materiału i o takiej samej strukturze powierzchni, do której druga

powierzchnia pomiarowa płytki wzorcowej została przywarta. Długość płytek

wzorcowych klasy Κ powinna być mierzona w środku powierzchni pomiarowej

metodą interferencyjną. Płytki wzorcowe pozostałych klas mogą być mierzone

metodą porównawczą. W celu wyznaczenia długości płytki wzorcowej mierzy

się różnicę jej długości środkowej w stosunku do płytki wzorcowej odniesienia

i dodaje, z uwzględnieniem ich znaków, do długości odniesienia. Pomiar wykonuje

się przyrządem czujnikowym z dwoma czujnikami o wysokiej rozdzielczości

pracującymi w układzie różnicowym. Linia pomiaru między końcówkami

pomiarowymi dwóch czujników jest prostopadła do powierzchni pomiarowych.

Rozrzut długości, v, który jest różnicą między długością największą lmax a

długością najmniejszą lmw płytki wzorcowej, jest mierzony również metodą

porównawczą. Pomiary wykonuje się w czterech narożach powierzchni pomiarowych

w odległości około 1,5 mm od powierzchni bocznych.

Rozróżnia się trzy zasadnicze typy przyrządów suwmiarkowych: suwmiarki

(jednostronne, dwustronne i dwustronne z głębokościomierzem), głąbokościomierze

\ wysokościomierze (rys. 5.1). Spotyka się także rozwiązania specjalne

przyrządów suwmiarkowych. Należą do nich: suwmiarki do pomiaru kół zębatych,

suwmiarki do pomiarów głębokości rowków wpustowych (rys. 5.2), suwmiarki

do pomiarów odległości osi otworów (rys. 5.3), suwmiarki dla niewidomych,

dla leworęcznych czy głębokościomierze do pomiarów podtoczeń

(rys, 5.4),