Optoelektronika 2

Optoelektronika 2

Pomiar niewielkich odległości metodą triangulacji

Opracowanie:

Mirosław Berg

Jakub Szklarz

Tianxiao Yang

Krzysztof Zielonka

Adrian Wojak

Konrad Wydmuch

Czym jest triangulacja ?
Triangulacja jest procesem znajdowania współrzędnych i odległości do danego punktu, poprzez obliczenie długości jednego z boków trójkąta utworzonego z tego punktu oraz dwóch innych punktów referencyjnych, przy znanych wartościach kątów i długości boków tego trójkąta, przy wykorzystaniu prawa sinusów.

Metoda triangulacyjna:

W metodzie tej promień laserowy pada prostopadle na powierzchnię mierzonego elementu, odbiornik zaś, który odbiera odbite światło, jest usytuowany pod kątem około 25°. Jeżeli zmienia się odległość między źródłem światła a przedmiotem, promień odbity pada na inne miejsce fotodetektora.

Nasze urządzenie ma za zadanie mierzenie odległości od 2 – 200mm

gdzie:

r - odległość od przedmiotu

b - baza dalmierza

f - ogniskowa

α - kąt nachylenia nadajnika

dx - miejsce padania wiązki światła na detektor CCD

Baza dalmierza zostanie zmierzona. Ogniskową obliczymy ze wzoru $\frac{1}{f} = \left( \frac{n}{n_{0}} - 1 \right)(\frac{1}{R_{1}} + \frac{1}{R_{2}})$ lub odczytamy z noty katalogowej

Wykorzystanie CCD i PSD:

CCD jest wykorzystywane głównie w aparatach i kamerach. PSD to proste urządzenie mowiące gdzie pada najwięcej światła przez co potrafi mierzyć odkształcenie powierzchni. Do naszego urządzenia zostanie użyte PSD

Urządzenie na jakim będziemy się wzorować:

Czujnik ILD1401-50 z serii optoNCDT działa na zasadzie pomiaru laserowego metodą triangulacyjną. Dioda laserowa dokonuje projekcji widzialnej plamki światła na powierzchni mierzonego obiektu. Odbite od tej plamki światło rozproszone zobrazowane jest poprzez układy optyczne na elemencie światłoczułym wykrywającym pozycję (linijka CCD). Jeśli cel zmienia odległość od czujnika, prowadzi to do przesunięcia punktu odwzorowania plamki świetlnej na linijce CCD, co rozpoznaje elektronika czujnika. Wartości mierzone są opracowywane cyfrowo przez zintegrowany kontroler czujnika. Dane są dostarczane analogowo pętlą prądową 4..20mA lub cyfrowo przez łącze RS232. Poprzez użycie wysokiej jakości szkła optycznego i wydajnego procesora DSP zapewniono wysoką dokładność (liniowość 0,2%) i rozdzielczość 5um statycznie (25um dynamicznie przy 1kHz).

Zalety:

Szybkie dopasowanie do zmieniającej się powierzchni

Zwarta budowa, wymiary: 50x65x20mm

wysoka rozdzielczość: 0,005 statycznie

wysoka częstotliwość pomiaru: 1kHz

wyjście analogowe 4...20mA i cyfrowe RS232

Własności:

Zakres pomiarowy: 50 mm (45mm początek, 95mm koniec zakresu)

Liniowość: 0,2% zakresu pomiarowego (FSO)

Rozdzielczość: 0,01% FSO

Wielkość plamki: 110um w środku zakresu pomiarowego

Prędkość pomiaru: 1kHz


Inne metody

Rozważaliśmy również zastosowanie innej metody.

Powstaną błędy kwantyzacji. Przetworniki ADC maja zazwyczaj niewielką rozdzielczość co nie sprawdzi w naszym wypadku.


$$d = \ \frac{1}{2}\ V\ t$$

Nie możemy policzyć odległości wykonując pomiar prostopadłej wiązki lasera licząc czas i dzieląc przez 2


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
optoelektronika02
Korbutowicz,optoelektronika,Technologia wytwarzania półprzewodnikowych struktur optoelektronicznych
Optoelektronika 2
Podzespoły optoelektroniczne z ZWLE
optoelektronika cw 1 zima
Optoelektronika
optoelektronika
OPTOELEKTRONIKA m p
optoelektronikaPytania
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 5 , LABORATORIUM FIZYCZNE
Badanie ementów optoelektronicznych, ELEKKI~1, 1
Optoelektronika, Informatyka -STUDIA, PODSTAWY ELEKTRONIKI I MIERNICTWA
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 1 , Pomiar pierwszy
Przyżądy Optoelektroniczne, AiR Sem IV gr I Sekcja
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 4 , ˙ukasz Czerlonek
Przyrządy Optoelektroniczne
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 4 , ˙ukasz Czerlonek
Przyrządy Optoelektroniczne

więcej podobnych podstron