CW4MIERN, Technologia INZ PWR, Semestr 3, Miernictwo i Automatyka, Sprawozdania, Sprawozdania z 1998, Sprawozdanie nr 4 Kompensacyjna metoda pomiaru


0x01 graphic

Wydział Elektroniki Politechniki Wrocławskiej

Laboratorium miernictwa elektronicznego

Wykonali

Grupa

6

Ćw. nr

4

Prowadzący

mgr R. Szczepanowski

Kompensacyjna metoda pomiaru napięcia i jej zastosowanie w kompensacyjnym przetworniku A/C

Data wykonania

98.04.28

Data oddania

98.05.05

Ocena

CEL ĆWICZENIA:

Celem ćwiczenia jest poznanie zasady pomiaru oraz źródeł błędów w pomiarze napięcia metodą bezpośredniego porównania z wzorcem oraz sposobu technicznej realizacji tej zasady i zwrócenie uwagi, że zautomatyzowanie pomiaru tą metodą doprowadziło do powstania kompensacyjnych przetworników A/C.

WYKAZ PRZYRZĄDÓW :

1. Źródło napięcia wzorcowego ZB-1

0x01 graphic
[V]

EW = ± 0,2%EW ± 10 mV

RW = 100 

Ziarno regulacji wzorca: 0,01 V

2. Źródło napięcia wzorcowego ZD-1

0x08 graphic

EW = R⋅10 mA

I = 10 mA ± 0,05%

×1 - kl. 0,1

Klasa R: ×10 - kl. 0,05

×100 - kl. 0,05

3. Źródło napięcia wzorcowego ZD-2

0x08 graphic

RRW = 101,87 

ERW = 101,87⋅I

stabilność prądu 0,005%

×0,1 - kl. 0,5

Klasa R: ×1 - kl. 0,1

×100, ×10 - kl. 0,05

4. Źródło Ex-1

Ewyj = Ex [V] ± 10%

RW ≤ 200 

5. Komparator napięć KN-1

max = 20 dz

RRW = 2000  dla Ci = 500 A/dz

RRW = 500  dla Ci = 50 A/dz

RRW = 250  dla Ci = 5 A/dz

6. Komparator dwustanowy SFC-2211

7. Ogniwo normalne EN200 = (1,0187 ± 0,0002) V, RW ≤ 600 

PRZEBIEG ĆWICZENIA :

0x08 graphic
1. Pomiar Ex metodą kompensacji z zastosowaniem źródła ZB-1

a) komparator jednostanowy

Ew

Ex

Ci

Ex

Ex ± Ex

[ V ]

[ V ]

[ A/dz ]

[ dz ]

[ V ]

[ V ]

0,01(20+21+22+25+26) = 1,03

1,03

5

1

0,02

1,03 ± 0,02

0,01(21+22+23+26+27) = 2,06

2,06

5

1

0,03

2,06 ± 0,03

Ex = Ew

Ex = Ex ± (Ew + Ez)

Ez = (Er ∪ Ep) + Ee - błąd zrównania

Ep = I0Rk = CiRk- czułość komparatora

Ee = I0(Rx + RN) = Ci(Rx + RN) - błąd wynikający z poboru mocy

Er - ziarno regulacji wzorca

gdzie: Rk - rezystancja wewnętrzna komparatora

Rx - rezystancja wewnętrzna mierzonego źródła napięcia

RN - rezystancja wewnętrzna wzorcowego źródła napięcia

Przykładowe obliczenia:

Ep = 5⋅10-6⋅1⋅250 = 1,25 mV

Er = 10 mV

Ee = 5⋅10-6⋅1⋅(200+100) = 1,5 mV

Ez = 10+1,25+1,5 = 12,75 mV

Ew = 0,2%⋅1,03+10 = 12,06 mV

Ex = Ez + Ew = 0,02 V

b) komparator dwustanowy

Ew < Ex dla Ew [V]

Ew ≥ Ex dla Ew [V]

1,03 (n=6,5,2,1,0)

1,04 (n=6,5,3)

2,06 (n=7,6,3,2,1)

2,07 (n=7,6,3,2,1,0)

Szukaliśmy takich wartości napięcia, które różnią się co do wartości ziarnem regulacji wzorca, a komparator zmienia stan, dlatego wartość mierzona zawiera się w przedziale:

Ex [Ew1±Ew1, Ew1±Ew1]

Ex1 ∈ [1,03±0,01 ; 1,04±0,01]

Ex2 ∈ [2,06±0,01 ; 2,07±0,01]

Wartości błędów Ew wyliczane są w identyczny sposób jak w punkcie poprzednim ze wzoru

EW = ± 0,2%EW ± 10 mV

2. Pomiar Ex metodą kompensacji z zastosowaniem źródła ZD-1

Ew

Ex

Ci

Ex

Ex ± Ex

[ V ]

[ V ]

[ A/dz ]

[ dz ]

[ V ]

[ V ]

0,01(100+3) = 1,03

1,03

5

0

0,002

1,03 ± 0,01

0,01(200+6) = 2,06

2,06

5

0,5

0,01

2,06 ± 0,01

Ex = Ew

Ex = Ex ± (Ew + Ez)

Ez = (Er ∪ Ep) + Ee - błąd zrównania

Ep = I0Rk = CiRk- czułość komparatora

Ee = I0(Rx + RN) = Ci(Rx + RN) - błąd wynikający z poboru mocy

Er - ziarno regulacji wzorca

gdzie: Rk - rezystancja wewnętrzna komparatora

Rx - rezystancja wewnętrzna mierzonego źródła napięcia

RN - rezystancja wewnętrzna wzorcowego źródła napięcia

0x01 graphic

R = δR⋅R

δEw = δR + δI

Ew = (δR + δI)Ew

Przykładowe obliczenia:

Ep = 5⋅10-6⋅0,5⋅250 = 0,6 mV

Er = 10mA⋅1 = 10 mV

Ee = 5⋅10-6⋅0,5⋅(200+206) = 1 mV

Ez = 10+1,25+1,5 = 11,6 mV

R = 200⋅0,05%+6⋅0,1% = 0,106 

I = 0,05%⋅10 = 0,005 mA

Ew = (0,05% + 0,05%)2,06 = 2,06 mV

Ex = Ez + Ew = 0,01 V

3. Pomiar Ex metodą kompensacji z zastosowaniem źródła ZD-2 (kompensacja podwójna)

0x08 graphic

Rp = 101,87 

RN = 600 

EN = 1,0187 V

Dla bezpieczeństwa galwanometru w układzie przedstawionym na rys. obok zastosowano tłumik.

0x01 graphic

Wyniki pomiarów:

RW = 153,7  Ex = 1,0187⋅153,7/600 = 0,261 V

RW = 64,2  Ex = 1,0187⋅64,2/600 = 0,109 V

RW = 11,1  Ex = 1,0187⋅11,2/600 = 0,019 V

Błąd pomiaru (metoda różniczki zupełnej):

0x01 graphic

Rw = δR⋅Rw

0x01 graphic

WNIOSKI I UWAGI:

W pkt.1 i 2 ćwiczenia mierzyliśmy napięcia metodą kompensacyjną. Na błąd pomiaru składają się takie czynniki jak błąd zrównania, czułości komparatora, poboru mocy, źródła wzorcowego, ziarno regulacji wzorca. Analizując błędy na podstawie pomiarów można stwierdzić, że w naszym przypadku największym czynnikiem błędu sumarycznego jest ziarno regulacji wzorca.

Porównując wyniki pomiaru dla komparatora jednostanowego i dwustanowego widzimy, że dokładniejszy przedział wartości błędu możemy wyznaczyć dla komparatora dwustanowego. W naszym przypadki wynosi on Ex =0,01 V. Błąd ten zależy od błędu wartości wzorcowej, ziarna regulacji wzorca oraz czułości komparatora.

W ćwiczeniu można było wykorzystać dwie metody kompensacji: schodkową i wagową. Kompensacja schodkowa jest szybsza dla małych wartości napięcia, zaś dla większych napięć szybsza jest kompensacja wagowa.

W pkt. 3 ćwiczenia mierzyliśmy napięcia metodą kompensacji podwójnej. Aby nie uszkodzić galwanometru do układu dołączono tłumik. Wartości napięcia uzyskane tą metodą są teoretycznie dokładniejsze, dlatego układy takie wykorzystuje się w przetwornikach A/C. Uzyskane przez nas wyniki pomiarów są ok. 5 razy mniejsze od oczekiwanych. Spowodowane jest to wadliwą pracą tłumika (w pomiarach służył on jako separator). Błąd pomiaru opracowano metodą różniczki zupełnej, lecz nie wyliczano wartości liczbowych ze względu na w/w przyczynę.

________________________________________________________________________________

Porównanie napięć komparatorem dwustanowym:

Ex = Ew, gdzie Ew jest napięciem, przy którym komparator zmienia stan

Błędem jest ziarno regulacji wzorca

(Za Ew przyjmuje się jedno z napięć, np. w naszym przypadku 1,03 lub 1,04V, a błąd pomiaru to 10mV)



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Sprawozdanie nr 1 Błędy graniczne przyrządów, Technologia INZ PWR, Semestr 3, Miernictwo i Automatyk
Ćwiczenie nr 4 zapoznanie się z mostkiem Wheatstone, Technologia INZ PWR, Semestr 2, Elektronika i E
Sprawozdanie nr I, Technologia INZ PWR, Semestr 2, Elektronika i Elektrotechnika - Laboratorium, Spr
wzmacniacz, Technologia INZ PWR, Semestr 2, Elektronika i Elektrotechnika - Laboratorium, Sprawozdan
Pomiary napięć stałych, Technologia INZ PWR, Semestr 2, Elektronika i Elektrotechnika - Laboratorium
Pomiar napięć stałych, Technologia INZ PWR, Semestr 2, Elektronika i Elektrotechnika - Laboratorium,
Cwiczenie - F OKSYALKILENOWANIE ALKOHOLI, Technologia INZ PWR, Semestr 5, Technologia Chemiczna - su
Tabela6, Technologia INZ PWR, Semestr 2, Analiza Matematyczna 2.2, Tabele
Opracowanie - materialy, Technologia INZ PWR, Semestr 1, Materiałoznastwo, Materiały - opracowania
Technologia chemiczna W3, Technologia INZ PWR, Semestr 4, Technologia Chemiczna - surowce i procesy,
Zajecia 4, Technologia INZ PWR, Semestr 3, Podstawy Chemii Organicznej, Podstawy chemii organicznej
10, Technologia INZ PWR, Semestr 1, Chemia Ogólna, Wykłady z Chemii Ogólnej
Technologia chemiczna W6, Technologia INZ PWR, Semestr 4, Technologia Chemiczna - surowce i procesy,
Zajecia 3, Technologia INZ PWR, Semestr 3, Podstawy Chemii Organicznej, Podstawy chemii organicznej
harmonogram zajęć technologia, Technologia INZ PWR, Semestr 5, Inżynieria chemiczna, Inżynieria Chem

więcej podobnych podstron