cw1, Semestr II, Podstawy metrologii, Sprawka


Anna Jankowiak, Mirona Matusik, Krystian Kaczała

Fizyka techniczna


Gr I - 5

25.03.2011

Cw. 1

ETI

Dr inż. P.Swornowski



Temat: Statystyczne opracowanie wyników pomiarów

Dokonano 30 pomiarów wałeczków o wymiarze nominalnym 14 mm.
Wyniki pomiarów po uporządkowaniu [µm] :
-18, -16, -15, -14, -13, -11, -10, -8, -7, -7, -5, -5, -3, -1, -1, -1, 0, 0, 0, 1, 1, 2, 2, 3, 3, 3, 4, 5, 6, 8,

Obliczenia:

1. Rozstęp i przedziały klasowe:

R= xmax - xmin = 8 - (-18) = 26 [µm]

Zakładając długość przedziału Δx = 5 µm

Liczba przedziałów c = 5,2

2. Obliczenie wartości średniej, wariancji i odchylenia standardowego.

Nr przedziału

Przedział klasowy

Liczebność
n

Środek przedziału x

Częstość względna

Częstość skumulowana

x * n

x-x

(x-x)2

(x-x)2 *n

1.

-18;-13

4

-15,5

0,13

0,13

-62

-18,375

337,641

1350,563

2.

-13;-8

3

-10,5

0,10

0,23

-31,5

-13,375

178,891

536,672

3.

-8;-3

5

-5,5

0,16

0,40

-27,5

-8,375

70,141

350,703

4.

-3;2

9

-0,5

0,30

0,70

-4,5

-3,375

11,391

102,516

5.

2;7

8

4,5

0,26

0,96

36

1,625

2,641

21,125

6.

7;12

1

9,5

0,03

1

9,5

6,625

43,891

43,891



W oparciu o sporządzoną tabelę obliczono:
-wartość średnią:

0x01 graphic


xsr= -4,85 [µm]
-wariancja:

0x01 graphic
51,013
-odchylenie średnie:

s = 7,143[µm]


Zatem wartości graniczne dla próbki wynoszą:

xmax = xsr + 3s = -4,85 + 3* 7,143 = 16,579 85 [µm]

xmin = xśr -3s = -4,85 - 3*7,143 = -26,179 85 [µm]



Granice te obejmują wszystkie wyniki pomiarów.

Wykresy:

0x01 graphic


0x01 graphic








Wnioski: Po wykonaniu ćwiczenia i obliczeń możemy stwierdzić, że nasze pomiary 30 wałeczków nie były zbyt dokładnie, ponieważ różnica pomiędzy największym i najmniejszym pomiarem (rozstęp) wynosi 26 [µm]. Zmierzone wartości zamieściliśmy w 5 przedziałach liczbowych. Liczebność w każdym z przedziałów jest różna Częstość względna w każdym z przedziałów jest różna, ale można powiedzieć, że niektóre wartości są do siebie zbliżone. Z ćwiczenia tego wynika, że pomiary nie są dokładne, a żeby uzyskać jak największą dokładność należy dokonać jak najwięcej pomiarów i zrobić statystyczne opracowanie wyników pomiarów.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
cw5, Semestr II, Podstawy metrologii, Sprawka
Kulki, Studia Politechnika Poznańska, Semestr II, Podstawy metrologii, metr
wałki i otwory, Studia Politechnika Poznańska, Semestr II, Podstawy metrologii, metr
zaliczenie - pytania i odp2, Politechnika Lubelska Wydział Mechaniczny, Semestr II, Podstawy Elektro
!!!zachowanie pedu kaczor, Studia, Mibm, semestr II, Mechanika, LABORY!!, SPRAWKA
zagadnienia z wykładów1, III, IV, V ROK, SEMESTR II, PODSTAWY PSYCHOLOGII REKLAMY, opracowania
podstawy zarządzania wykłąd I 22 02 2013, WSM Kawęczyńska semestr II, PODSTAWY ZARZĄDZANIA WYKŁAD
żyroskop żabik, Studia, Mibm, semestr II, Mechanika, LABORY!!, SPRAWKA
pytania z neuro, III, IV, V ROK, SEMESTR II, PODSTAWY NEUROBIOLOGII ZACHOWANAI I ETOLOGII, pytania
Podstawy zarządzania pytania 1-32, WSM Kawęczyńska semestr II, PODSTAWY ZARZĄDZANIA WYKŁAD
Finanse - zadania, SZKOŁA, semestr II, Podstawy finansów
Statystyki nieparametryczne, PSYCHOLOGIA, I ROK, semestr II, podstawy metodologii badań psychologicz
Centralne Twierdzenie Graniczne, PSYCHOLOGIA, I ROK, semestr II, podstawy metodologii badań psycholo
PNOM - metale, AGH, Semestr II, Podstawy Nauk o materiałach[Kot,Dymek,Rakowski], PNOM, PNOM
inw-wyk3, Akademia Ekonomiczna w Katowicach, FiR, Semestr II, Podstawy inwestowania
sciaga obrobka nowa!!!!, AGH, Semestr II, Podstawy Nauk o materiałach[Kot,Dymek,Rakowski], PNOM, egz
inw-wyk4, Akademia Ekonomiczna w Katowicach, FiR, Semestr II, Podstawy inwestowania

więcej podobnych podstron