Zas. Franca-Condona→przejścia elektronowe 10-15s zachodzą szybciej niż oscylacyjne 10-13s
ASA:
- fotopowielacze →system detekcji sygnałów
- plazma niskotemperaturowa
- próbkę analizujemy w formie roztworu, po wcześniej całkowitym rozbiciu jej na atomy
- źródła promieniowania: lampa z katodą wnękową
- inna lampa dla każdego pierwiastka ()
- typowa metoda porównawcza
- najczęściej stosowana w analizie ilościowej
- dobra odtwarzalność oznaczeń
- niska granica wykrywalności
- doskonała selektywność
- efekty matrycowe → zanieczyszczenie wprowadzone z próbką
- możliwość interferencji i zakłóceń → nakładanie się linii
- czynniki aparaturowe (emisja cieplna atomów w plazmie, fluorescencja atomowa itp.)
- określa się skład pierwiastków śladowych
- aparatura: lampa (źródło prom.),układ atomizera i palnika, monochromator (wybiera
określone fragmenty widma i kieruje je na detektor), detektor, układ wzmacniający i
rejestrujący, czasem są soczewki
Atomizer:
- prosta proporcjonalna zależność pomiędzy stężeniem oznaczonego pierwiastka w próbce i
jego atomów w plazmie
- płomieniowy
→roztwory doprowadza się do postaci jednorodnej mgiełki, skierowanie do palnika to
NEBULIZACJA
→ ATOMIZACJA→ płomień palnika, jest gaz utleniający i palny, które się mieszają i dają
temperaturę plazmy
→doprowadzanie rozpuszczalnika
→ stopienie soli i przejście jej w stan pary złożonej z cząsteczek soli
→ dysocjacja termiczna (przejście ciała stałego w ciecz, parę wodną)
- elektrotermiczny → suszenie próbki, tobie i usuwanie niektórych składników matrycy
atomizacja, nebulizer (wzrost P, spadek prędkości)
- wodorkowy → pierwiastki metaliczne, które łatwo można przeprowadzić do wodorków
- wykorzystywanie zimnej par Hg
- atomizacja w plazmie laserowej
ESA:
- 3 działy:
* fotometria promieniowa →wzbudzenie w płomieniu palnika, oznaczenia ilościowe, metoda
wbudowania wzorca, oznaczenia Na, K, Ca w rolnictwie, przemyśle ceramicznym i
geologii, ograniczenie do litowców i berylowców
* spektroskopia klasyczna →badania stopów i metali, 2 elektrody zbudowane z tego samego
materiału, wzbudzone substancje nie utleniają się, oznaczenia ilościowe, pierwiastki lekkie
* plazma emisyjna →indukcyjnie wzbudzona plazma (ICP), plazma Ar, krótkotrwała
Wyładowania, generowanie drgającego pola elektrycznego, pęd wirowy
WDS:
- opiera się na prawie Bragga
- kryształ ma znaną wartość d
- stosowane monochromatyczne promieniowanie X
- próba jest nieruchoma, zmienia się położenie kryształu, detektora oraz kąt padania
promieniowania (analizują poszczególne pierwiastki nadal pozostawać na kole Ralanda)
- 2 lub 3 spektrometry (im więcej tym krótszy czas analizy)
- detektory półprzewodnikowe
dobra zdolności rozdzielcza
kryształ Si i Ge z domieszką Li (Li zanieczyszcza kryształ, aby było więcej dziur, defektów i przemieszczających się elektronów)
WDS
- niska sprawność zbierania prom.X <0,2%
- 30% czas martwy
- w spektrometrze mała część widma
EDS
- sprawność zbierania prom. X 2%, bo
detektor położony jest bliżej próbki
- zliczanie prom. wchodzącego do
detektora 100%,bo blisko jest
- cały zakres energii badamy jednocześnie
WDS ma 2,3 razy wyższą rozdzielczość niż EDS
XRF( FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA)
- emisja przez badaną substancję
- monoenergetyczny strumień fotonów
- promieniowanie wzbudzające
- pochłanianie kwantu promieniowania elektromagnetycznego
- jonizacja wewnątrz atomu
- zapełnienie powstałej luki przez elektron z innej powłoki
- uwolnienie energii i kwantu prom. X
- nie zależy od budowy cząsteczki