pytania EiUA 1 - poprawione, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Elementy i ukladay automatyzacji


ZAGADNIENIA

  1. Definicje podstawowe,

  2. Kryteria podziału układów automatyki

  3. Sygnały w automatyce, sieci, transmisja szeregowa w automatyce

  4. Przetwornik a/c (podstawowe parametry, cel stosowania)

  5. Zasilanie obwodów automatyki

  6. Regulatory (ich zadanie, rodzaje)

  7. Włączniki, przełączniki, rodzaje zestyków, Wyłączniki krańcowe

  8. Przekaźniki, styczniki, Co to jest histereza

  9. Bezkontaktowe czujniki indukcyjnościowe - budowa, działanie, parametry

  10. Bezkontaktowe czujniki indukcyjnościowe - montaż, rodzaje wyjść

  11. Prądnica tachometryczna prądu stałego i prądnica synchroniczna

  12. Pomiary bezkontaktowe (impulsowe) prędkości

  13. Bezkontaktowe czujniki pojemnościowe

  14. Bezkontaktowe czujniki optyczne, laserowe

  15. Bezkontaktowe czujniki ultradźwiękowe

  16. Pomiary temperatury

  17. Czujnik potencjometryczny

  18. Czujnik transformatorowy

  19. Czujnik magnetostrykcyjny

  20. Czujnik optyczny (enkoder) inkrementalny i układ pomiarowy

  21. Czujniki absolutne

  22. Pamięć na elementach stykowych (podtrzymanie, przykładowy układ)

  23. Typy sterowania

  24. Kody (NKB,BDC,1z n, z parytetem, z parytetem CRC)

  25. Budowa sterownika PLC

  26. Parametry sterownika PLC, Podział PLC

  27. Rodzaje operacji i rozkazów realizowanych przez sterownik PLC

  28. Podłączenie elementów we i wy do PLC

  29. Przykłady programów:

sterowanie taśmociągiem, sortowanie

  1. Elementy czasowe i licznikowe - przykładowe programy

  2. Typowa struktura hardwarowa systemu zautomatyzowanego

  3. Funkcje czasowe i licznikowe (timery i liczniki, przykłady zastosowań, symbole, cechy charakterystyczne,)

  4. liczniki rewersyjne CNTR, Instrukcja porównania COMPARE CMP (symbol, zastosowanie, opis instrukcji)



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
OP, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Miut
Udarność sprawko, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Metody badan, metody badań wyrobów i
udarnosci hofman, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Metody badan, metody badań wyrobów i
Wozniak-oprzyrzadowanie - ściąga, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Miut, archiwa, MiUT I
sciaga wozniak1, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Miut, archiwa, MiUT II
HD sprawko, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Metody badan, metody badań wyrobów i proces
KONWENCJA BERNEŃSKA, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektualnej,
Pojęcia, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektualnej, wojtysiak,
Rodzaje utworów chronionych prawem autorskim, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona
Utwory pracownicze, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektualnej,
najważniejsze podmioty, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektual
OWI full test, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektualnej, wojty
1.abcd, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektualnej, wojtysiak, O
ZAS PRZYWIL KOMUNIKACYJNEGO, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelek

więcej podobnych podstron