Techniki i systemy pomiarowe Laboratorium |
POLITECHNIKA LUBELSKA
Wydział Mechaniczny |
|||||
Ćwiczenie nr 8 Pomiar chropowatości powierzchni |
Wykonał: |
Grupa: |
Data: |
Ocena: |
Podpis: |
|
|
Dudziacha Mariusz Krzywdzik Adam Mróz Tomasz |
MD 103.5a
|
14.12.00
|
|
|
Wartość działki elementarnej bębna: WL=2,56μm
Pomiaru wysokości chropowatości:
Pomiar: |
R1 |
R2 |
R3 |
R4 |
R5 |
R6 |
R7 |
R8 |
R9 |
R10 |
1 |
405 μm |
316 μm |
413 μm |
351 μm |
419 μm |
342 μm |
411 μm |
343 μm |
413 μm |
337 μm |
2 |
450 μm |
333 μm |
420 μm |
342 μm |
412 μm |
340 μm |
425 μm |
332 μm |
413 μm |
342 μm |
3 |
411 μm |
331 μm |
424 μm |
328 μm |
411 μm |
317 μm |
460 μm |
320 μm |
410 μm |
327 μm |
Wyniki pomiaru chropowatości obliczamy z wzoru:
Pomiar średniego odstępu chropowatości:
Lp. |
I |
II |
III |
1 |
14μm |
19μm |
16μm |
2 |
206μm |
215μm |
215μm |
3 |
405μm |
418μm |
425μm |
4 |
619μm |
628μm |
631μm |
5 |
830μm |
837μm |
837μm |
Wyniki obliczeń średniego odstępu chropowatości wg. Zależności:
wartość pomiaru kolejnego minus wartość pomiaru poprzedniego.
Lp.
|
I
|
II
|
III
|
S1 |
192μm |
196μm |
199μm |
S2 |
199μm |
203μm |
210μm |
S3 |
214μm |
210μm |
206μm |
S4 |
211μm |
209μm |
204μm |
Zestawienie podstawowych właściwości metrologicznych mikroskopu Schmaltza :
podziałka elementarna 2,56 μm
powiększenie okularu 15×
Wnioski:
Jak widać z powyższych pomiarów i obliczeń wysokość chropowatości Rz i średni odstęp chropowatości S nie są jednakowe . Związane jest to z tym , że podczas obróbki danego materiału występują nierówności związane z budową struktury , co pociąga za sobą nieregularność kształtu - chropowatości. Takie nieregularności kształtu, można wyeliminować poprzez szlifowanie bądź polerowanie, jeżeli wymagana jest duża dokładność powierzchni.