MW zaliczenie, Politechnika Poznańska ZiIP, IV semestr, IV semestr, Techniki pomiarowe, TechnikiPom, TP, TP


Wzorce miar-narzędzia pomiarowe charakteryzujące się znaną wartością określonej wielkości. Wzorce muszą cechować się określona dokładnością a także stałością, odtwarzalnością i mierzalnością. Wykonuje się wzorce o różnej dokładności.

Pomiar-zbiór operacji mających na celu wyznaczenie wartości wielkości, przy czym wielkość jest cechą zjawiska, przedmiotu lub substancji, którą można rozróżnić jakościowo i określić ilościowo.

Zasada pomiaru-naukowa podstawa pomiaru (np. zjawisko termoelektryczne wykorzystywane do pomiaru temp.)

Metoda pomiaru-logiczny ciąg wykonywany podczas pomiaru operacji, opisanych w sposób ogólny (np. metoda różnicowa, metoda zerowa).

Wielkość mierzona-wielkość stanowiąca przedmiot pomiaru.

Wielkość wpływająca-wielkość nie będąca wielkością mierzoną, która ma jednak wpływ na wynik pomiaru.

Sygnał pomiarowy-wielkość reprezentująca wielkość mierzoną i związana z nią funkcjonalnie.

Wynik pomiaru-wartość przypisana wielkości mierzonej, uzyskana drogą pomiaru.

Wynik surowy-wynik pomiaru przed korekcją błędu systematycznego.

Wynik poprawkowy-wynik pomiaru po korekcji błędu systematycznego.

Czujnik-element przyrządu pomiarowego lub łańcucha pomiarowego, na który oddziaływuje bezpośrednio wielkość mierzona (np. złącze pomiarowe termometru elektrycznego, wirnik przepływomierza turbinowego, fotokomórka spektrofotometru).

Detektor-urządzenie lub substancja wskazująca istnienie pewnego zjawiska, bez konieczności podawania wartości wielkości związanej z tym zjawiskiem (np. piroelektryczny detektor ruchu, papierek lakmusowy). W pewnych dziedzinach termin detektor stosowany jest w znaczeniu czujnika.

Podstawowe warunki zachowania jednolitości miar:

1. Muszą być ściśle zdefiniowane i ogólnie przyjęte jednostki miar.

2. Musi być zapewniona odtwarzalność tych jednostek w postaci wzorów jak najbardziej niezmiennych.

3. Stosowane do pomiarów przyrządy pomiarowe muszą być sprawdzane pod względem ich właściwości metrologicznych, a przede wszystkim pod względem dokładności.

4. Muszą być stosowane właściwe metody pomiaru.

5. Pomiar musi być wykonywany prawidłowo.

Wzorce miar-narzędzia pomiarowe charakteryzują się znaną wartością miary określonej wielkości. Wzorce muszą cechować się określoną dokładnością a także stałością, odtwarzalnością i mierzalnością.

Transtabilność-właściwość miary wzorca polegająca na tym, że można ją porównać z miarami etalonów (państwowych, międzynarodowych) za pośrednictwem nieprzerwanego łańcucha porównań.

System pomiarowy-nazywa się układ, w którym występuje sterowanie procesem pomiarowym.

Rodzaje pomiarów-wg metody pomiarów, wg sposobu pomiaru, wg warunków pomiaru, wg stopnia zapotrzebowania.

W pomiarach pośrednich-wartości mierzonej wielkości nie otrzymuje się bezpośrednio, Lech oblicza się ją z funkcji określającej zależność wielkości mierzonej od innych wielkości mierzonych bezpośrednio.

W pomiarach złożonych-wartość mierzonej wielkości jest obliczana z funkcjonału określającego zależność wielkości mierzonej od funkcji innych wielkości mierzonych bezpośrednio.

Podstawowe warunki zachowania jednolitości miar:

1. Muszą być ściśle zdefiniowane i ogólnie przyjęte jednostki miar.

2. Musi być zapewniona odtwarzalność tych jednostek w postaci wzorów jak najbardziej niezmiennych.

3. Stosowane do pomiarów przyrządy pomiarowe muszą być sprawdzane pod względem ich właściwości metrologicznych, a przede wszystkim pod względem dokładności.

4. Muszą być stosowane właściwe metody pomiaru.

5. Pomiar musi być wykonywany prawidłowo.

Wzorce miar-narzędzia pomiarowe charakteryzują się znaną wartością miary określonej wielkości. Wzorce muszą cechować się określoną dokładnością a także stałością, odtwarzalnością i mierzalnością.

Transtabilność-właściwość miary wzorca polegająca na tym, że można ją porównać z miarami etalonów (państwowych, międzynarodowych) za pośrednictwem nieprzerwanego łańcucha porównań.

System pomiarowy-nazywa się układ, w którym występuje sterowanie procesem pomiarowym.

Rodzaje pomiarów-wg metody pomiarów, wg sposobu pomiaru, wg warunków pomiaru, wg stopnia zapotrzebowania.

W pomiarach pośrednich-wartości mierzonej wielkości nie otrzymuje się bezpośrednio, Lech oblicza się ją z funkcji określającej zależność wielkości mierzonej od innych wielkości mierzonych bezpośrednio.

W pomiarach złożonych-wartość mierzonej wielkości jest obliczana z funkcjonału określającego zależność wielkości mierzonej od funkcji innych wielkości mierzonych bezpośrednio.

Niepewność pomiaru-parametr związany z wynikiem pomiaru charakteryzujący rozrzut wartości, które można w uzasadniony sposób przypisać wielkości mierzonej(przewodnik ISO słownik VIM)

Błąd gruby-powstaje podczas omyłki mierzącego lub awarii, niesprawności środków mierniczych, uwzględnia często zmieniających się warunków zewnętrznych itp. Błędy grube doprowadzają na ogół do jawnego wypaczania rezultatów pomiarów i dlatego przy opracowywaniu wyniku pomiaru należy je pominąć.

Błąd środkowy położenia kreski wzorca w bisektorze ebis-wynika z niesymetrycznego objęcia równoległymi kreskami bisektora kreski wzorca. Oko wykazuje dużą wrażliwość na brak symetrii. Kąt dostrzeżenia braku symetrii wynosi 5''. Stąd ebis=(+/-) 0.006

Sposoby usuwania błędów systematycznych:eliminacja, korekcja.

Odkształcenia sprężyste mogą być wynikiem:

-nacisków pomiarowych wywieranych przez narzędzia pomiarowe na mierzony przedmiot

-sprężystego ugięcia (badanie elementu lub wzorca miary)

Wymiar długości-(czyli tzw. Wymiar liniowy) lub kąta wyraża się odpowiednią liczbą jednostek lub kąta. Z punktu widzenia usytuowania wymiarów odróżnia się wymiary zewnętrzne, mieszane i pośrednie.

Wymiar zewnętrzny „Z” - określa odległość elementów powierzchni, pomiędzy którymi ich bezpośrednie otoczenie jest wypełnione materiałem, np. wymiar średnicy wałka.

Wymiar wewnętrzny „W” - określa odległość elementów powierzchni, pomiędzy którymi ich bezpośrednie otoczenie nie jest wypełnione materiałem, np. wymiar średnicy otworu. W przypadku wymiaru wewnętrznego linie wymiarowe są obejmowane przez materiał przedmiotu.

Wymiar mieszany „M” - określa odległość takich dwóch elementów powierzchni, dla których bezpośrednie otoczenie jednego jest wypełnione materiałem, a drugie nie. Przykładami wymiarów mieszanych są: wysokość występu (lub wymiar głębokości rowka).

Wymiar pośredni „P” - odległość elementów, z których co najmniej jeden jest elementem teoretycznym (oś lub płaszczyzna symetrii), np. odległość osi otworów, odległość osi wałków, odległość osi otworów od krawędzi.

Wymiary graniczne A, B-wymiary, między którymi powinien być zawarty lub którym może by równy wymiar zaobserwowany.

Wymiar górny B-największy dopuszczalny wymiar elementu (większy z dwóch wymiarów granicznych).

Linia zerowa (0-0)-prosta odpowiadająca wymiarowi nominalnemu, względem której określa się odchyłki i tolerancje względem której określa się odchyłki i tolerancje przy ich graficznym przedstawianiu. Odchyłki dodatnie umieszcza się powyżej linii zerowej, ujemne zaś-poniżej.

Odchyłka-różnica wymiaru (zaobserwowanego, granicznego itp.) i odpowiadającemu mu wymiaru nominalnego.

Odchyłka graniczna-różnica algebraiczna wymiaru granicznego (górnego lub dolnego( i wymiaru nominalnego. Przyjęto zasadę oznaczania odchyłek wałków małymi literami, a otworów dużymi literami.

Odchyłka górna es, ES-odchyłka graniczna będąca różnicą algebraiczną wymiaru górnego Bw wałka lub otworu Bo i wymiaru nominalnego D.

Odchyłka dolna ei, EI-odchyłka graniczna będąca różnicą algebraiczną wymiaru górnego Aw wałka lub otworu Ao i wymiaru nominalnego.

Pole tolerancji-termin stosowany przy graficznym przedstawieniu tolerancji: oznacza obszar zawarty między prostymi równoległymi do linii zerowej, odpowiadającymi wymiarom lub odchyłkom granicznym. Pole tolerancji przedstawia graficznie wartość tolerancji i jej położenie względem linii zerowej.

Luz graniczny-jeden z luzów (najmniejszy lub największy), między którymi powinien być zawarty luz zaobserwowany i otrzymany z analizy wyników pomiaru.

Luz najmniejszy-luz wynikający z różnicy dolnego wymiaru A otworu i wymiaru górnego B wałka lub odpowiednia różnica odchyłek granicznych.

Luz największy-luz wynikający z różnicy górnego wymiaru B otworu i dolnego wymiaru A wałka lub odpowiednia różnica odchyłek granicznych.

Wskaźnik pasowania-wzajemne powiązanie wałka z otworem, określający różnicę wymiarów otworu i wałka przed ich połączeniem.

Tolerancja pasowania-jest sumą tolerancji otworów i tolerancji wałka tworzących połączenie i możemy traktować ją jako miarę dokładności pasowania elementów.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Projekt zagadnienia załącznik inter, Politechnika Poznańska ZiIP, IV semestr, IV semestr, Ergonomia
Spr. 4-Materiałoznawstwo, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, nom, Laboratoria-sprawozdania NOM
206e, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, Fizyka, laborki fiza, Laborki, laborki fiza, Fizyka -
Ćw[1]. 04 - Stale narzędziowe, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, nom, Laboratoria-sprawozdani
NOM ( I kolokwium II semestr) opracowane przez Piaska, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, nom
moje sprawko 4(1), Politechnika Poznańska ZiIP, III semestr, OCiS
104, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, Fizyka, laborki fiza, Laborki, laborki fiza, Fizyka -
204pl, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, Fizyka, laborki fiza, wszystkie laboratoria z 1 prac
104e, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, Fizyka, laborki fiza, Laborki, laborki fiza, Fizyka -
100, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, Fizyka, laborki fiza, Laborki, laborki fiza, Fizyka -
5 elazo w giel, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, nom, Laboratoria-sprawozdania NOM, sprawoz

więcej podobnych podstron