laborki(metr5 ), Lotnictwo i Kosmonautyka WAT, semestr 2, Metrologia, Metrologia, Metrologia, komplet2


0x01 graphic
IMIĘ I NAZWISKO:

TOMASZ

ADAMCZYK

LABORATORIUM METROLOGII TECHNICZNEJ

KIERUNEK

WM

GRUPA

31A

OCENA

DATA

1999-

PODPIS

TEMAT ĆWICZENIA:

Ustalenie klasy dokładności narzędzia pomiarowego.”

1. Część teoretyczna.

Konieczność oceny narzędzi pomiarowych ze względu na przydatność do wykonywanych pomiarów, wymaga przyjęcia odpowiednich kryteriów ilościowych, określających ich własności metrologiczne. Do własności metrologicznych związanych z dokładnością pomiaru narzędzia pomiarowego należy zaliczyć: poprawność, wierności, dokładność.

Poprawność narzędzia pomiarowego nazywamy właściwość charakteryzującą zdolność narzędzia pomiarowego do wskazania poprawnych wartości wielkości mierzonej bez uwzględnienia błędu wierności wskazań.

Błąd poprawności jest to suma algebraiczna błędów systematycznych, obarczających wskazania narzędzia pomiarowego w określonych warunkach użytkowania. Natomiast błąd poprawności ej wzorca miary wyznacza się jako różnicę między jego wartością nominalną xn a średnią arytmetyczną poprawnych wartości wzorca miary, otrzymanych jako wyniki w jednej serii kolejnych pomiarów wykonanych w normalnych warunkach użytkowania.

  1. Opis stanowiska pomiarowego.

Stanowisko pomiarowe wyposażone zostało w:

a) mikrometr zewnętrzny i płytkę wzorcową,

b) czujnik zegarowy oraz czujnik indukcyjny ze wskaźnikiem cyfrowym.

  1. Opracowanie wyników pomiarów.

MIKROMETR ZEWNĘTRZNY:

1. Obliczanie błędu poprawności .

Błąd poprawności przyrządu pomiarowego określa się jako różnicę pomiędzy średnią arytmetyczną wskazań , otrzymanych za pomocą przyrządu w jednej serii kolejnych pomiarów tej samej wielkości mierzonej, wykonanych w normalnych warunkach użytkowania, a wartością poprawną wielkości mierzonej:

= -

- wartość poprawna wielkości mierzonej,

- średnia arytmetyczna wskazań x przyrządu pomiarowego.

Wyniki pomiarów za pomocą mikrometru płytki wzorcowej o grubości 10 mm .

Nr pomiaru

Grubość płytki wzorcowej

[ mm]

Nr pomiaru

Grubość płytki wzorcowej [mm]

1

10.005

26

10.005

2

10.005

27

10.005

3

10.01

28

10.005

4

10.005

29

10.005

5

10.005

30

10.005

6

10.000

31

10.005

7

10.005

32

10.000

8

10.005

33

10.010

9

10.000

34

10.005

10

10.005

35

10.010

11

10.000

36

10.005

12

10.005

37

10.005

13

10.005

38

10.010

14

10.005

39

10.010

15

10.000

40

10.010

16

10.005

41

10.010

17

10.005

42

10.005

18

10.005

43

10.005

19

10.010

44

10.010

20

10.005

45

10.005

21

10.010

46

10.005

22

10.000

47

10.005

23

10.010

48

10.005

24

10.005

49

10.005

25

10.005

50

10.010

0x01 graphic

Xp = 10 mm

Błąd poprawności:

ej = xi -xp

ej = 10.07525 - 10 = 0.07525

ej = 75.25 μm

2. Obliczanie błędu mierności w dla zadanego prawdopodobieństwa.

Mierność narzędzia pomiarowego jest charakterystyczna następującymi wskaźnikami:

- średni błąd kwadratowy mierność wskazań σ lub s ,

- błąd prawdopodobny,

- błąd graniczny ( błąd maksymalny ).

a) odchylenie średnie kwadratowe dla pomiaru wielkości poprawnej wzorca [ 10 mm]

0x01 graphic

σ = 0.03135 mm = 3.135 μm

gdzie:

- kolejna wartość pomiaru,

- wartość poprawna wielkości mierzonej,

n - liczba pomiarów

b) Odchylenie średnie kwadratowe s dla pomiarów wielkości nieznanej wynosi:

s = 0.00445 mm = 4.45 μm

gdzie:

- średnia arytmetyczna wyników pomiarów dla wybranej serii pomiarów

c) Błąd prawdopodobny

Błąd ten można określić dla dowolnego prawdopodobieństwa

lub

gdzie:

s - odchylenie średnie kwadratowe,

t- zmienna standaryzowana odpowiadająca prawdopodobieństwu p, dla naszych pomiarów p = 0.9973 , dla którego zmienna standaryzowana

t = 3.

Błąd mierności wynosi:

- dla pomiaru wielkości poprawnej wzorca[10mm ]

0x01 graphic

- dla pomiaru wielkości nieznanej

0x01 graphic

3. Badanie największego możliwego wskazania mikrometru Wmax.

Największe możliwe wskazanie mikrometru to:

Wmax = 10. 01 [ mm ]

4. Obliczanie błędu dokładności mikrometru d.

Błąd dokładności jest to wypadkowa wartości błędu narzędzia pomiarowego w określonych warunkach użytkowania, zawierająca błędy poprawności i błędy wielkości wskazań.

Błąd ten określa zależność:

gdzie:

ej - błąd poprawności,

w - błąd wielkości.

I tak:

a) Błąd dokładności mikrometru przy pomiarze wielkości poprawnej wzorca:

0x01 graphic

b) Błąd dokładności mikrometru przy pomiarze wielkości nieznanej:

0x01 graphic

5. Obliczanie klasy dokładności δ mikrometru.

Klasę dokładności określa zależność:

gdzie:

j - błąd poprawności narzędzia pomiarowego,

w - błąd mierności narzędzia pomiarowego ,

wmax - granica górna zakresu pomiarowego narzędzia ( najwyższe wskazania jakie daje przyrząd ).I tak:

A) Klasa dokładności mikrometru przy pomiarze wielkości poprawnej wzorca [40 mm] wynosi:

0x01 graphic

B) Klasa dokładności mikrometru przy pomiarze wielkości nieznanej:

0x01 graphic

CZUJNIK ZEGAROWY:

Pomiar owalu wałka:

Lp.

Wmax

Wmin

Lp.

Wmax

Wmin

1

0.01

-0.005

26

0.02

-0.005

2

0.01

0

27

0.01

-0.005

3

0.015

-0.005

28

0.015

-0.005

4

0.02

-0.01

29

0.02

0

5

0.01

-0.005

30

0.01

0

6

0.01

0

31

0..02

0

7

0.02

-0.005

32

0.01

0

8

0.01

--0.005

33

0.005

-0.005

9

0.015

-0.005

34

0.01

-0.005

10

0.01

0

35

0.02

0

11

0.03

-0.002

36

0.01

-0.005

12

0.02

-0.01

37

0.015

-0.005

13

0.02

-0.005

38

0.02

-0.01

14

0.01

-0.005

39

0.02

-0.01

15

0.01

-0.01

40

0.015

-0.01

16

0.02

-0.01

41

0.02

0

17

0.01

-0.005

42

0.01

0

18

0.02

-0.01

43

0.01

-0.005

19

0.01

-0.005

44

0.02

-0.005

20

0.02

-0.005

45

0.015

-0.005

21

0.005

-0.005

46

0.01

-0.005

22

0.01

0

47

0.02

-0.01

23

0.02

0

48

0.02

0

24

0.01

0

49

0.01

-0.01

25

0.02

0

50

0.01

0

σw= 25 mm

1. Obliczanie błędu mierności przy wyznaczaniu owalu wałka:

a) odchylenie średnie kwadratowe dla pomiaru wielkości poprawnej owalu wałka:

x1=3.1 μm

xp=2.2 μm

δ = 0.084 μm

b) błąd prawdopodobny:

w = t * δ

w = 3 * 0.084 = 0.252 μm

2. Podanie wartości poprawnej owalu wałka:

poprawna wartość owalu wałka wynosi:

xp=3.2 μm

3. Obliczanie błędu poprawności czujnika ej.

Błąd poprawności czujnika:

ej = x1- xp = 3.1 - 2.2 = 0.9 μm

4. Obliczanie błędu dokładności czujnika d.

Błąd poprawności czujnika:

d = ej + w = 1.152 μm

5. Obliczanie błędu dokładności czujnika δ.

wmax = 0.7 %

δ = 0.064 μm

7

6



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
laborki(metr11), Lotnictwo i Kosmonautyka WAT, semestr 2, Metrologia, Metrologia, Metrologia, komple
laborki(metr9), Lotnictwo i Kosmonautyka WAT, semestr 2, Metrologia, Metrologia, Metrologia, komplet
laborki(metr8), Lotnictwo i Kosmonautyka WAT, semestr 2, Metrologia, Metrologia, Metrologia, komplet
laborki(metrol1), Lotnictwo i Kosmonautyka WAT, semestr 2, Metrologia, Metrologia, Metrologia, kompl
laborki(metrol3), Lotnictwo i Kosmonautyka WAT, semestr 2, Metrologia, Metrologia, Metrologia, kompl
NOMKOLOKWIUM2, Lotnictwo i Kosmonautyka WAT, semestr I, Nauka o materiałach, kolokwia
PKM projekt, Lotnictwo i Kosmonautyka WAT, semestr 3, Podstawy konstrukcji maszyn, Projekt przekładn
Arkusz 2, Lotnictwo i Kosmonautyka WAT, semestr I, Fizyka, matura fizyka, Fizyka Arkusze maturalne w
Zadania - niepewności, WAT, LOTNICTWO I KOSMONAUTYKA, WAT - 1 rok lotnictwo, MEtrologia
lab 1 elektrotechnika, WAT, LOTNICTWO I KOSMONAUTYKA, WAT - 1 rok lotnictwo, elektrotechnika, labork
hartownosc laborka, WAT, LOTNICTWO I KOSMONAUTYKA, WAT - 1 rok lotnictwo, NOM, laborki, sprawka
Utwardzanie wydzieleniowe stopów aluminium, WAT, LOTNICTWO I KOSMONAUTYKA, WAT - 1 rok lotnictwo, co
mk sciaga2, WAT, LOTNICTWO I KOSMONAUTYKA, WAT - 1 rok lotnictwo, cos inne rozne, Materiały konstruk

więcej podobnych podstron