rezystancjamb, Elektronika i Telekomunikacja, EiT pwr, Semestr 3, Miernictwo 3


0x01 graphic

Wydział Elektroniki Politechniki Wrocławskiej

Laboratorium Miernictwa elektronicznego

Wykonał:

Mariusz Błędowski

Prowadzący

Dr inż. Janusz Gołembiewski

Temat ćwiczenia:

Pomiar rezystancji

Data oddania

24.10.2011 r.

Ocena

  1. Cel ćwiczenia :

Ćwiczenie to ma na celu nauczenie Nas typowych metoda pomiaru rezystancji elementów liniowych których wartości zaczynają się od pojedynczych omów do megaomów. Nauczymy się ponadto poznawać podstawowe źródła błędów występujące w pomiarach.

  1. Bezpośrednie pomiary rezystancji elementów omomierzemami cyfrowymi

DM-441B

Mierzone

Zakres

Rx

Błąd

Błąd

∆Rx

∂ Błąd

∂ Błąd

∂ Rx

Elementy układu

 

 

dyskretyzacji

przetwarzania

 

dyskretyzacji

przetwarzania

 

R1

2k

0,0636

0,000032

0,02

0,020032

0,0005

0,327

0,32732

R2

2 k

0,4415

0,00022

0,02

0,0202

0,00050056

0,0479

0,047924

R3

2 M

0,018

0,0000009

2

2,0000009

0,00005

142,857

142,8572

R4

20 k

2,663

0,0013

0,2

0,2013

0,000499

0,0732

0,073333

R5

20 k

11,879

0,0059

0,2

0,2059

0,000499

0,01741

0,01747

R6

2 M

0,0508

0,000025

2

2,000025

0,0005

43,8602

43,8602

Dioda

2 k

0,588

0,00029

0,02

0,0203

0,000493

0,033007

0,03317

Przykładowe obliczenia ( dla R1 ) :

ΔRx = ± (0,05%Rx+ 0,1%Rzakresu) =

ΔRx = ± (0,0005 * 0,0636 + 0,001 * 20) = 0,0000318 + 0,02 = 0,0200318

Błąd dyskretyzacji : 0,05%Rx = 0,0005 * 0,0636 = 0,0000318

Błąd przetwarzania : 0,1%Rzakresu=0,001 * 20=+ 0,02

0x01 graphic

UF-70A

Mierzone

Zakres

Rx

Błąd

Błąd

∆Rx

∂ Błąd

∂ Błąd

∂ Rx

Elementy układu

 

 

dyskretyzacji

przetwarzania

 

dyskretyzacji

przetwarzania

 

R1

2 k

0,0612

0,000032

0,02

0,020032

0,0005

0,327

0,32732

R2

2 k

0,4215

0,00022

0,02

0,0202

0,000501

0,0478

0,047924

R3

2 M

0,014

0,0000009

2

2,000001

0,00005

142,8572

142,8572

R4

20 k

2,745

0,0013

0,2

0,2013

0,000499

0,072

0,073333

R5

20 k

11,786

0,0059

0,2

0,2059

0,000499

0,01731

0,01747

R6

2 M

0,0456

0,000025

2

2,000025

0,0005

43,8602

43,8602

Dioda

2 k

0,612

0,00029

0,02

0,0203

0,000493

0,032994

0,03317

Metoda pośrednia

Układ poprawnego pomiaru napięcia

0x01 graphic

Ux

ΔUx

δUx

Ix

ΔIx

δIx

Rxi

ΔRx

δmRx

δiRx

Rx

[V]

[V]

[%]

[mA]

[mA]

[%]

[kΩ]

[kΩ]

[%]

[%]

[kΩ]

4,353

0,004

0,08

2,94

0,008

0,27

1,4806

0,0051

-0,015

0,35

1,4806

Obliczenia:

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

jako, że 0x01 graphic
wyniku nie trzeba korygować

więc 0x01 graphic

Układ poprawnego pomiaru prądu

0x01 graphic

Ux

ΔUx

δUx

Ix

ΔIx

δIx

Rxi

ΔRx

δmRx

δiRx

Rx

[V]

[V]

[%]

[mA]

[mA]

[%]

[kΩ]

[kΩ]

[%]

[%]

[kΩ]

4,384

0,004

0,08

2,941

0,008

0,27

1,4906

0,0051

0,68

0,35

1,4806

Obliczenia:

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

jako, że 0x01 graphic
wynik trzeba skorygować

0x01 graphic

Analizując wyniki zamieszczone w tabelach można zauważyć, że najmniejszą niepewność uzyskaliśmy podczas pomiarów przeprowadzonych za pomocą omomierza cyfrowego, zatem wyniki otrzymane metodą bezpośredniego pomiaru rezystancji multimetrem są najdokładniejsze.

Porównując ze sobą wartości błędów metody otrzymane w układzie poprawnego pomiaru prądu z tymi, które uzyskaliśmy w układzie poprawnego pomiaru napięcia można stwierdzić, że w przypadku pomiaru dużych rezystancji błąd systematyczny jest mniejszy w układzie poprawnego pomiaru prądu, natomiast dla małych rezystancji błąd ten jest mniejszy gdy zastosujemy układ poprawnego pomiaru napięcia. Błąd metody jest zazwyczaj tak mały, że można go pominąć, należy więc dążyć do tego, aby był on jak najmniejszy. Znając rezystancję amperomierza i woltomierza można określić wartość rezystancji, dla której systematyczny błąd metody w obu układach jest taki sam. Rezystancja ta nazywana jest zwyczajowo rezystancją graniczną, a jej wartość określa zależność:

0x01 graphic

Tak więc jeżeli spodziewana wartość rezystancji mierzonej R jest mniejsza od granicznej rezystancji Rgr, to należy zastosować układ poprawnego pomiaru napięcia, w przeciwnym wypadku - układ poprawnego pomiaru prądu.

Analizując wyniki pomiarów można zauważyć, że wpływ na powstałe błędy pomiarów miały błędy wnoszone przez przyrządy pomiarowe. Ważną rolę pełniło odpowiednie dobranie zakresu (w szczególności na mierniku analogowym). Jednak najważniejszym aspektem było odpowiednie dobranie metody pomiarowej ustosunkowanej do warunków wyposażenia laboratorium oraz do wyznaczania odpowiednich wielkości.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
ściągi na miernictwo, Elektronika i Telekomunikacja, EiT pwr, Semestr 3, Miernictwo 3
TOS, Elektronika i Telekomunikacja, EiT pwr, Semestr 4, Technika Obliczeniowa i Symulacyjna
SPRAWOZDANIE Z LABORATORIUM, Elektronika i Telekomunikacja, EiT pwr, Semestr 3, Technika Analogowa
robotyka test, Elektronika i Telekomunikacja, EiT pwr, Semestr 3, Podstawy automatyki i robotyki
TC2 wyklad 2009, Elektronika i Telekomunikacja, EiT pwr, Semestr 4, Technika Cyfrowa 2
Sieci telekom, Elektronika i Telekomunikacja, EiT pwr, Semestr 5, Sieci telekomunikacyjne
SPRAWOZDANIE Z LABORATO2RIUM, Elektronika i Telekomunikacja, EiT pwr, Semestr 3, Technika Analogowa
CW4MIERN, Technologia INZ PWR, Semestr 3, Miernictwo i Automatyka, Sprawozdania, Sprawozdania z 1998
Sprawozdanie nr 1 Błędy graniczne przyrządów, Technologia INZ PWR, Semestr 3, Miernictwo i Automatyk
Pomiar rezystancji metodą techniczną, Materiały PWR elektryczny, semestr 3, Miernictwo 1, Sprawka
Pomiar rezystancji mostkami 1, Materiały PWR elektryczny, semestr 3, Miernictwo 1, Sprawka
pytania-TRU-poprawione, Elektronika i Telekomunikacja PWR, EIT od Bohuna, Sterowanie w sieciach
Sprawko adamu rob, Materiały PWR elektryczny, semestr 3, Miernictwo 1, Sprawka
ćwiczenie 2, Materiały PWR elektryczny, semestr 3, Miernictwo 1, Sprawka
ISDN - pytania, Elektronika i Telekomunikacja PWR, EIT od Bohuna, Siwek projekt, Siwek kolo

więcej podobnych podstron